【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显微成像,具体为激光共聚焦显微镜。
技术介绍
1、激光扫描共聚焦显微镜通过主要原理是利用激光扫描束通过针孔形成点光源,在荧光标记标本的焦平面上逐点扫描,与传统显微镜的广谱光源相比,激光扫描技术能够精确定位和聚焦在样品的特定区域,从而提高成像的分辨率和准确性,激光扫描技术可还以消除样品中的散射和背景信号,从而提高成像的对比度。
2、在使用激光扫描共聚焦显微镜观测样品时,通过激光束被振镜镜片偏转来对样品进行二维的覆盖扫描,为了观测样品不同层面的图像,会控制载物台竖向运动,将样品的不同层面移到照明针孔和检测针孔的共焦面上,而样品一般通过载玻片放置在载物台上缺乏固定,会出现样品与载物台的相对移位,也会造成样品移出载玻片支撑范围,导致观测困难;
3、而在观测完成后,取走样品时还需要等待样品向下复位,来增大样品与镜头的距离避免触碰污染镜头,等待时间过久,更换样品速度慢,观测效率低,基于此,本专利技术提出能够解决上述问题的激光共聚焦显微镜。
技术实现思路
1、本专利
...【技术保护点】
1.激光共聚焦显微镜,包括:
2.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述帘板(110)侧部开设有用于取放样品的通口。
3.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述帘板(110)内壁设置有直轨(111),所述导杆(410)上设置有嵌块(411),嵌块(411)与直轨(111)活动嵌合。
4.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述压块(431)底部设置一侧槽(432),侧槽(432)的深度与所述载玻片的厚度一侧,压块(431)与顶板(300)磁吸接触时通过侧槽(432)顶壁压接载玻片。
>5.根据权利...
【技术特征摘要】
1.激光共聚焦显微镜,包括:
2.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述帘板(110)侧部开设有用于取放样品的通口。
3.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述帘板(110)内壁设置有直轨(111),所述导杆(410)上设置有嵌块(411),嵌块(411)与直轨(111)活动嵌合。
4.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述压块(431)底部设置一侧槽(432),侧槽(432)的深度与所述载玻片的厚度一侧,压块(431)与顶板(300)磁吸接触时通过侧槽(432)顶壁压接载玻片。
5.根据权利要求4所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述压块(431)内侧设置有抵条(433),两个活动块(420)可分别带动抵条(433)与样品一侧抵接,将样品限位在载玻片上。
6.根据权利要求1所述的激光共聚焦显微镜,其特征在于,所述动力组件(500)包括开设在载板(200)上的通槽(510),穿设在通槽(510)上的套筒(520),以及位于通槽(510)下方的垫板(530),所述套筒(520)顶部与顶板...
【专利技术属性】
技术研发人员:王庭云,刘庆,谢根源,方强强,
申请(专利权)人:新启航半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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