【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学检测设备，具体涉及一种光学检测的五轴光学平台。
技术介绍
1、五轴光学测量平台是用于检测光学面板(lcd，oled，teg实验片等)的光学数据的系统平台。国内的光学面板发展迅速，需要对产品进行光学数据测量，溯源国际标准。
2、其中公告号cn219573462u公开了一种光学检测的五轴光学平台，包括底座，所述底座的顶部安装有支撑架，所述支撑架的内部安装有三轴驱动件，所述三轴驱动件上安装有光学测量仪，所述支撑架的外侧固定连接有两个l形架，两个所述l形架之间转动连接有调节环。该技术通过支撑架配合底座对装置进行支撑，使用时，首先将待检测的光学产品放置在检测平面台上，然后启动驱动机构带动有光学产品的检测平面台转动至对接盘的正上方，然后启动升降座带动调节座上升，使得对接盘与检测平面台卡合连接，然后启动顶部的三轴驱动件带动光学测量仪对光学产品进行测量检测，从而实现了装置具备可实现连续化持续上料测量作业，提高了检测效率的优点。
3、该装置通过将产品放置在检测平面台上，通过驱动机构带动其转动至检测仪器下方，对其进行检...
【技术保护点】
1.一种光学检测的五轴光学平台，包括支撑底座（1），其特征在于：所述支撑底座（1）的上表面固定连接有设备壳体（11），所述设备壳体（11）的上方转动连接有检测台（2），所述检测台（2）的表面设置有多组置物板（3），所述置物板（3）的内部开设有定位机构，定位机构包括限位槽（31）、四组第一导向槽（33）、四组第二导向槽（34）、四组导向杆（35）、四组导向弹簧（36）和四组导向滑块（37），所述支撑底座（1）的后侧设置有检测机构（4）。
2.根据权利要求1所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：所述限位槽（31）开设在所述置物板（3）的上表面，所述限位...
【技术特征摘要】
1.一种光学检测的五轴光学平台，包括支撑底座（1），其特征在于：所述支撑底座（1）的上表面固定连接有设备壳体（11），所述设备壳体（11）的上方转动连接有检测台（2），所述检测台（2）的表面设置有多组置物板（3），所述置物板（3）的内部开设有定位机构，定位机构包括限位槽（31）、四组第一导向槽（33）、四组第二导向槽（34）、四组导向杆（35）、四组导向弹簧（36）和四组导向滑块（37），所述支撑底座（1）的后侧设置有检测机构（4）。
2.根据权利要求1所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：所述限位槽（31）开设在所述置物板（3）的上表面，所述限位槽（31）的内底壁中部位置固定连接有支撑块（32）。
3.根据权利要求2所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：四组所述第一导向槽（33）开设在所述限位槽（31）的内底壁，四组导向滑块（37）分别与四组所述第一导向槽（33）的滑动连接。
4.根据权利要求3所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：四组所述第二导向槽（34）开设在所述置物板（3）的内部，四组所述第二导向槽（34）靠近内侧一端分别与四组所述第一导向槽（33）贯通，所述四组所述导向杆（35）分别与四组所述第二导向槽（34）滑动连接，四组所述导向杆（35）靠近内侧一端分别与四组所述导向滑块（37）固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种光学检...
【专利技术属性】
技术研发人员：邹季伟，陈春雷，陈卫斌，
申请(专利权)人：太仓天核机电有限公司，
类型：新型
国别省市：
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