【技术实现步骤摘要】
本申请属于超导电工，特别涉及一种用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置。
技术介绍
1、超导材料通常分为高温超导体(hts)和低温超导体(lts)。随着对应于hts的第二代高温超导带材(下文简称hts带材)技术的持续发展，其在承载大电流和高磁场强度环境中展现出了显著的优势。目前常用的hts材料的rebco(其中，re是稀土元素，通常是y或gd)涂覆超导体属于氧化物陶瓷材料，其本身存在弱连接、晶粒、次相、缺陷等特征，导致其在导电性能方向具有明显的各向异性，即在背景磁场的强度大小和hts带材的表面与磁场之间的夹角不同时，hts带材会有不同的临界电流值。在实际应用中，包含hts带材的超导电力装置的周围的电磁环境较为复杂，因此hts带材的临界电流不可避免地会受到外界磁场的干扰。因此，测量背景磁场大小与角度对hts带材的临界电流的影响是十分必要的。
2、为了精确地模拟超导电力设备在实际运行条件下的磁场环境，创建一个稳定且可控的背景磁场对于测试高温超导带材的性能是至关重要的。特别是在在超导领域的高性能应用中，人们通常依赖高场磁体，具体而言，这些高场磁体主要通过将超导材料缠绕成中心螺线管线圈的方式来设计以使得其中心磁场可以达到数十特斯拉的水平。基于这样的配置，高温超导带材被置于中心磁场中。这样一来，便可通过改变中心磁场的强度以及高温超导带材在中心磁场中的位置来详细地测量高温超导带材在不同背景磁场大小和角度下的性能表现。
3、虽然，高场中心螺线管磁体平衡了电流密度、磁场强度和机械稳定性，不过，这种设计通常会导致中心空间
4、相应地，本领域需要一种新的技术方案来解决上述问题。
技术实现思路
1、为了至少一部分地解决上述技术问题，提出了本申请。具体而言，提出了一种新的装置，尤其是在相对狭小的空间内需要调节背景磁场与待测样品(超导带材)之间的角度时，能够保证角度调整可靠地实现。
2、有鉴于此，本申请提供了一种用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，该装置包括：支撑部；固定部，其枢转设置于所述支撑部，所述固定部能够固定待测样品；以及操作部，其能够使所述固定部相对所述支撑部作枢转运动。
3、通过这样的构成，能够谋求通过操作部使得待测样品旋转，从而调整待测样品与磁场之间的角度。
4、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述装置包括传动部，其中，所述传动部设置于所述支撑部，所述操作部通过所述传动部带动所述固定部相对所述支撑部作枢转运动。
5、通过这样的构成，给出了枢转运动可能的实现方式。
6、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述传动部包括锥齿轮副，其中，所述操作部连接至所述锥齿轮副的主动轮，所述锥齿轮副的从动轮枢转设置于所述固定部。
7、通过这样的构成，给出了传动部的可能的结构形式。
8、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述操作部包括：拉杆，其与所述传动部相连接，所述拉杆上具有拉杆孔洞；以及施力杆，其通过拉杆孔洞穿设于所述拉杆。
9、通过这样的构成，能够谋求通过对施力杆人工/借助于结构施加力/力矩的方式实现主动轮的转动。
10、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述支撑部形成有容置空间，所述传动部的至少一部分位于所述容置空间内，至少所述拉杆对应于所述拉杆孔洞的位置位于所述容置空间的上方。
11、通过这样的构成，保证外力施加的可操作性性。
12、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述支撑部包括：底座；支撑座，其包括设置于所述底座上的第一支撑座和第二支撑座，所述固定部借助于轴承与所述支撑部对应于所述第一支撑座和所述第二支撑座的位置枢转连接；以及支撑架，其设置于所述第一支撑座和第二支撑座之间；其中，所述底座、所述支撑座和所述支撑架形成所述容置空间，所述拉杆枢转设置于所述支撑架。
13、通过这样的构成，给出了支撑部的可能的结构形式。
14、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述第一支撑座和/或所述第二支撑座包括第一支撑部分和第二支撑部分，所述第一支撑部分和所述支撑部分固定连接并形成轴承的安装空间。
15、通过这样的构成，给出了第一/第二支撑座的可能的结构形式。
16、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述固定部包括固定部分，所述固定部分包括第一固定部分和第二固定部分，待测样品能够设置于所述第一固定部分和所述第二固定部分之间。
17、通过这样的构成，能够谋求保证待测样品的安装可靠性。
18、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述第一固定部分或者所述第二固定部分上设置有铜端子和/或引线结构。
19、通过这样的构成，给出了固定部的可能的结构形式。
20、对于上述用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，在一种可能的实施方式中，所述固定部包括环罩，所述固定部分的至少一部分穿设于所述环罩内并与所述环罩固定连接，所述环罩与所述支撑部枢转连接。
21、通过这样的构成，能够谋求有效地防止待测样品与外部环境接触。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述装置包括传动部，
3.根据权利要求2所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述传动部包括锥齿轮副，
4.根据权利要求3所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述操作部包括：
5.根据权利要求4所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述支撑部形成有容置空间，所述传动部的至少一部分位于所述容置空间内，
6.根据权利要求5所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述支撑部包括：
7.根据权利要求6所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述第一支撑座和/或所述第二支撑座包括第一支撑部分和第二支撑部分，所述第一支撑部分和所述支撑部分固定连接并形成轴承的安装空间。
8.根据权利要求1所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述
9.根据权利要求8所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述第一固定部分或者所述第二固定部分上设置有铜端子和/或引线结构。
10.根据权利要求8所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述固定部包括环罩，
...【技术特征摘要】
1.一种用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述装置包括传动部，
3.根据权利要求2所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述传动部包括锥齿轮副，
4.根据权利要求3所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述操作部包括：
5.根据权利要求4所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述支撑部形成有容置空间，所述传动部的至少一部分位于所述容置空间内，
6.根据权利要求5所述的用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置，其特征在于，所述支撑部包括：
...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴少涛，袁颂桢，马韬，程志方，李力，
申请(专利权)人：北京交通大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。