一种反冲质子望远镜制造技术

技术编号:41361978 阅读:40 留言:0更新日期:2024-05-20 10:11
本申请实施例提供了一种反冲质子望远镜,用于接收中子束流,所述反冲质子望远镜包括聚乙烯转换体、硅探测器和闪烁体探测器,所述聚乙烯转换体与所述中子束流的入射方向垂直,所述聚乙烯转换体具有位于相对两侧的入射面和背离面,所述入射面朝向所述中子束流的入射方向;所述硅探测器位于所述聚乙烯转换体具有所述背离面的一侧,且所述硅探测器与所述聚乙烯转换体之间的夹角大于0°且小于90°;所述闪烁体探测器位于所述硅探测器背离所述聚乙烯转换体的一侧,且所述闪烁体探测器与所述硅探测器之间的夹角为0°。本申请实施例的反冲质子望远镜能够降低束上高能中子的影响。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及中子测量装置,特别涉及一种反冲质子望远镜


技术介绍

1、中子参考辐射场是中子测量装置性能检测、响应校准等工作的基础,也是开展中子剂量学、微剂量学以及核数据测量等研究必不可少的技术平台。近年来国际各发达国家从事中子研究的计量校准技术机构,如德国ptb、英国npl以及日本aist和jaea等无不投入大量的人力物力投入中子参考辐射场的研究中。目前国防科技工业电离辐射一级计量站基于串列加速器建立了144kev~15mev的单能中子参考辐射场,解决了20mev以下能区中子探测器注量、剂量等参数的量值溯源。但是目前我国尚未建立20mev以上能区准单能中子参考辐射场。随着航天空间中子探测任务的需要以及地面高能质子加速器的发展,20mev以上能区准单能中子参考辐射场需求越来越突出。

2、中子注量率是中子参考辐射最重要的参数之一,只有中子注量率准确已知的参考辐射场才能用于探测器检定校准或性能测试。相关技术中,可以通过反冲质子望远镜进行中子注量率的绝对测量,反冲质子望远镜主要采用1h(n,p)弹性散射反应,这由于h在200mev以下能量范围内的反应道较本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种反冲质子望远镜,用于接收中子束流,其特征在于,所述反冲质子望远镜包括:

2.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述反冲质子望远镜用于20MeV以上能区的中子注量率测量,且所述硅探测器和所述闪烁体探测器位于所述中子束流外侧。

3.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述硅探测器与所述聚乙烯转换体之间的夹角为45°;和/或,

4.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述反冲质子望远镜还包括限束光阑,所述限束光阑设置在所述硅探测器和所述闪烁体探测器之间。

5.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种反冲质子望远镜,用于接收中子束流,其特征在于,所述反冲质子望远镜包括:

2.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述反冲质子望远镜用于20mev以上能区的中子注量率测量,且所述硅探测器和所述闪烁体探测器位于所述中子束流外侧。

3.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述硅探测器与所述聚乙烯转换体之间的夹角为45°;和/或,

4.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述反冲质子望远镜还包括限束光阑,所述限束光阑设置在所述硅探测器和所述闪烁体探测器之间。

5.根据权利要求1所述的反冲质子望远镜,其特征在于,所述聚乙烯转换体的直径小于所述中子束流的直径。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的反冲质子望远镜,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:焦听雨李玮秦茜邓雪莹王玉禧龙李春娟刘毅娜韩佳佳王志强陈军骆海龙韩影石斌杨铭徐新宇段君仪张书峰何逾洋
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

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