紧凑型横向C型框架扫描仪制造技术

紧凑型C型扫描仪采用至少两个传感器并且具有用于对传感器进行标准化或校准的机构。C型框架的上部细长梁和下部细长梁包括中间梁传感器和外部梁传感器。通过使扫描仪沿着仅为片材宽度的大约一半的扫描距离来回推进，扫描仪可监测连续片材的整个宽度，从而使所需的片材外距离减小了接近被监测片材宽度的一半的量。由横向定位在移动片材的边缘的参考材料组成的标准化块允许对在透射或反射模式下操作的传感器进行校准。可测量片材的所选片材特性或特征。两个传感器可在透射模式下操作，或者四个传感器可在反射模式下操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术整体涉及用于确定连续片材的参数的扫描仪测量系统，并且更具体地涉及一种非接触测量系统，该非接触测量系统采用具有用于校准传感器的标准化块的c型框架扫描仪，并且其中与常规c型框架扫描仪相比，该系统的扫描操作需要显著更小的片材外位移距离或空间。

技术介绍

1、扫描仪系统被用来测量连续移动的幅材或片材的特性。通常，辐射源和检测器安装在头部上，该头部被支撑用于横跨连续生产的幅材的梁或框架上的往复运动。使头部在幅材上大致以与幅材移动方向成直角的方式往复运动，同时头部横跨幅材以恒定速度移动。支撑头部的梁或框架可以是直的单个梁，其经过幅材移动的路径并且支撑辐射源和检测器。另选地，扫描仪可具有c型或o型框架，该框架包围幅材移动路径，使得源和检测器可位于幅材的相对面上。

2、对于大多数o型扫描仪，框架是静止的，并且双头部在移动幅材上沿横向来回移动。o型扫描仪特别适合用于工业过程，其中诸如在纸张生产中，幅材或片材的宽度可达数十米。

3、相反，在c型扫描仪的操作期间，整个框架在移动幅材上沿横向来回移动。以这种方式，分别与上臂和下臂对准并固定的上头部本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于监测沿纵向行进的连续材料片材(26)的特性的系统，并且其中所述片材(26)具有第一侧和第二侧，所述系统包括：

2.根据权利要求1所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一传感器(16)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二传感器(18)的第二标准化块(40)。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括将第一辐射引导到所述材料片材(26)中的第一源，并且所述第二传感器(18)包括将第二辐射引导到所述材料片材(26)中的第二源，并且其中所述第二构件(18)具有(i)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第一辐射的第一检测器和...

【技术特征摘要】

1.一种用于监测沿纵向行进的连续材料片材(26)的特性的系统，并且其中所述片材(26)具有第一侧和第二侧，所述系统包括：

2.根据权利要求1所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一传感器(16)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二传感器(18)的第二标准化块(40)。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括将第一辐射引导到所述材料片材(26)中的第一源，并且所述第二传感器(18)包括将第二辐射引导到所述材料片材(26)中的第二源，并且其中所述第二构件(18)具有(i)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第一辐射的第一检测器和(ii)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第二辐射的第二检测器。

4.根据权利要求3所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一源(16)和所述第一检测器(20)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二源(18)和所述第二检测器(22)的第二标准化块(40)。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括第一源和第一检测器，其中所述第一源将第一辐射朝向所述第一侧引导，并且所述第一检测器检测从所述第一侧反射的第一反射辐射，并且所述第二传感器(18)包括第二源和第二检测器，其中所述第二源将第二辐射朝向所述第一侧引导，并且其中所述第二检测器检测从所述第一侧反射的第二反射辐射。

6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔·休斯，
申请(专利权)人：霍尼韦尔国际公司，
类型：发明
国别省市：