【技术实现步骤摘要】
本专利技术整体涉及用于确定连续片材的参数的扫描仪测量系统，并且更具体地涉及一种非接触测量系统，该非接触测量系统采用具有用于校准传感器的标准化块的c型框架扫描仪，并且其中与常规c型框架扫描仪相比，该系统的扫描操作需要显著更小的片材外位移距离或空间。
技术介绍
1、扫描仪系统被用来测量连续移动的幅材或片材的特性。通常，辐射源和检测器安装在头部上，该头部被支撑用于横跨连续生产的幅材的梁或框架上的往复运动。使头部在幅材上大致以与幅材移动方向成直角的方式往复运动，同时头部横跨幅材以恒定速度移动。支撑头部的梁或框架可以是直的单个梁，其经过幅材移动的路径并且支撑辐射源和检测器。另选地，扫描仪可具有c型或o型框架，该框架包围幅材移动路径，使得源和检测器可位于幅材的相对面上。
2、对于大多数o型扫描仪，框架是静止的，并且双头部在移动幅材上沿横向来回移动。o型扫描仪特别适合用于工业过程，其中诸如在纸张生产中，幅材或片材的宽度可达数十米。
3、相反，在c型扫描仪的操作期间，整个框架在移动幅材上沿横向来回移动。以这种方式，分别与上臂和下臂对准并固定的上头部和下头部能够从边缘到边缘扫描移动幅材。c型扫描仪特别适合用于移动幅材宽度相对较窄的应用，诸如在占地面积有限的设施中生产锂离子电池的阳极和阴极。然而，当前c型扫描仪的多功能性受到其设计的限制，这要求框架移动的距离必须至少等于被监测的幅材的宽度。
技术实现思路
1、本专利技术部分地基于紧凑型c型扫描仪的发展，该c型扫描仪采用两个或更多
2、在一个方面，本专利技术涉及一种用于监测沿纵向(md)行进的连续材料片材的特性或特征的系统，并且其中该片材具有第一侧和第二侧，该系统包括：
3、第一构件，该第一构件邻近片材的第一侧设置，其中第一构件具有第一近侧端部和第一远侧端部，并且具有(i)第一传感器装置，该第一传感器装置用于测量片材的特性并且定位在第一远侧端部处，和(ii)第二传感器装置，该第二传感器装置用于测量片材的特性并且定位在第一近侧端部与第一远侧端部之间；
4、第二构件，该第二构件邻近片材的第二侧设置，其中第二构件具有第二近侧端部和第二远侧端部，并且其中第一构件和第二构件是平行的并且限定测量间隙，连续材料片材行进通过该测量间隙；和
5、用于沿着垂直于md的横向(cd)来回驱动第一构件和第二构件的装置，使得第一传感器和第二传感器在材料片材的多个位置处测量片材的特性。
6、在另一方面，本专利技术涉及一种传感器设备，该传感器设备包括：
7、c型框架，该c型框架包括具有第一臂或梁和第二臂或梁的支撑件，该第一臂或梁和第二臂或梁是平行的并且限定容纳移动片材的测量间隙，其中第一臂具有第一近侧端部和第一远侧端部，并且第二臂具有第二近侧端部和第二远侧端部，其中；
8、安装在第一臂的第一位置上的第一传感器和安装在第一臂的第二位置上的第二传感器，其中第一传感器和第二传感器沿着第一臂的长度横向间隔开；
9、第一标准化块或板；
10、第二标准化块或板，该第二标准化块或板与第一标准化块横向间隔开；
11、第一装置，该第一装置用于沿着扫描路径横向地来回操纵c型框架，使得第一传感器测量位于片材的第一边缘到片材的中间区域之间的片材的特性，并且第二传感器测量位于片材的中间区域到片材的第二边缘之间的片材的特性；和
12、第二装置，该第二装置用于沿着扫描路径将c型框架操纵到第一校准位置和第二校准位置，在第一校准位置，第一标准化块校准第一传感器，在第二校准位置，第二标准化块校准第二传感器。该块或板包括特性已知并模拟片材的稳定的参考材料。
13、在另一方面，本专利技术涉及一种测量具有纵向和横向的连续片材或幅材工艺中的工艺变量的方法，该方法包括：
14、提供支撑第一传感器和第二传感器的第一细长构件，其中第一传感器和第二传感器沿着第一细长构件横向分离；
15、沿纵向引导连续移动的材料片材，其中该片材具有第一侧和第二侧以及第一边缘和第二边缘，并且其中第一细长构件沿cd邻近连续移动的材料片材定位；
16、在第一扫描位置与第二扫描位置之间来回操纵第一细长构件，使得第一传感器测量位于材料片材的第一边缘与中间区域之间的片材的特性，并且第二传感器测量位于中间区域与第二边缘之间的片材的特性；
17、邻近第一边缘定位第一标准化块；
18、邻近第二边缘定位第二标准化块；
19、将第一细长构件操纵到第一校准位置，其中第一传感器使用第一标准化块获得参考测量；以及
20、将第一细长构件操纵到第二校准位置，其中第二传感器使用第二标准化块获得参考测量。
21、传感器可固定到细长构件或梁，或者传感器部件可集成到c型框架的构件中。扫描系统可用于检测诸如纸、塑料、薄金属衬底、织物等材料的特征。传感器能够在透射模式或反射模式下操作。通过在连续移动的材料上周期性地来回移动，可以测量所选片材特性的值，诸如基重、厚度、水分含量、组成和温度。在每次扫描期间，被监测的移动片材从边缘横穿到边缘。
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1.一种用于监测沿纵向行进的连续材料片材(26)的特性的系统，并且其中所述片材(26)具有第一侧和第二侧，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一传感器(16)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二传感器(18)的第二标准化块(40)。
3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括将第一辐射引导到所述材料片材(26)中的第一源，并且所述第二传感器(18)包括将第二辐射引导到所述材料片材(26)中的第二源，并且其中所述第二构件(18)具有(i)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第一辐射的第一检测器和(ii)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第二辐射的第二检测器。
4.根据权利要求3所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一源(16)和所述第一检测器(20)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二源(18)和所述第二检测器(22)的第二标准化块(40)。
5.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括第一源和第一检测器，其中所述第一源将第一辐
6.根据权利要求5所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一源和所述第一检测器的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二源和所述第二检测器的第二标准化块(40)。
7.根据权利要求5所述的系统，其中所述第二构件(8)具有：(i)包括第三源和第三检测器的第三传感器(20)，其中所述第三源将第三辐射朝向所述第二侧引导，并且所述第三检测器检测从所述第二侧反射的第三反射辐射；和(ii)包括第四源和第四检测器的第四传感器(22)，其中所述第四源将第四辐射朝向所述第二侧引导，并且所述第四检测器检测从所述第二侧反射的第四反射辐射，并且其中所述驱动装置(10,12,24)沿所述横向来回驱动所述第一构件(6)和所述第二构件(8)，使得所述第一传感器(16)和所述第二传感器(18)从所述第一侧上的多个位置测量所述片材(26)的第一特性，并且所述第三传感器(20)和所述第四传感器(22)从所述第二侧上的多个位置测量所述片材(26)的第二特性。
8.根据权利要求7所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述(i)第一源和所述第一检测器以及(ii)所述第三源和所述第三检测器的第一标准化块(42)和被配置为校准所述(i)第二源和所述第二检测器以及(ii)所述第四源和所述第四检测器的第二标准化块(40)。
9.一种传感器设备，所述传感器设备包括：
10.一种测量具有纵向和横向的连续片材工艺中的工艺变量的方法，所述方法包括：
...【技术特征摘要】
1.一种用于监测沿纵向行进的连续材料片材(26)的特性的系统，并且其中所述片材(26)具有第一侧和第二侧，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一传感器(16)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二传感器(18)的第二标准化块(40)。
3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括将第一辐射引导到所述材料片材(26)中的第一源，并且所述第二传感器(18)包括将第二辐射引导到所述材料片材(26)中的第二源，并且其中所述第二构件(18)具有(i)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第一辐射的第一检测器和(ii)用于接收透射通过所述材料片材(26)的所述第二辐射的第二检测器。
4.根据权利要求3所述的系统，所述系统包括被配置为校准所述第一源(16)和所述第一检测器(20)的第一标准化块(42)和被配置为校准所述第二源(18)和所述第二检测器(22)的第二标准化块(40)。
5.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器(16)包括第一源和第一检测器，其中所述第一源将第一辐射朝向所述第一侧引导，并且所述第一检测器检测从所述第一侧反射的第一反射辐射，并且所述第二传感器(18)包括第二源和第二检测器，其中所述第二源将第二辐射朝向所述第一侧引导，并且其中所述第二检测器检测从所述第一侧反射的第二反射辐射。
6.根据权利...
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