一种纳米颗粒浓度的测试方法技术

技术编号:41336686 阅读:24 留言:0更新日期:2024-05-20 09:55
本发明专利技术提供一种纳米颗粒浓度的测试方法,通过纳米颗粒浓度分析组件进行测试得到,所述纳米浓度分析组件包括样品池、设置在样品池顶部的光源和与样品池设置在同一水平线上的成像组件,所述成像组件中,由靠近样品池至远离样品池的一端依次设置有显微透镜、荧光模组、相机。本发明专利技术在样品池中注射样品,然后进行激光准直照射,然后在样品池的侧面进行成像和测试,实现多位点数据的采集;再调节光束的直径至合适的范围内,可以减少光的干扰,同时还可以消除样品池中,待测颗粒附近的粒子的散射和/或反射光的影响,进一步提高检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测,尤其是一种纳米颗粒浓度的测试方法


技术介绍

1、传统的纳米颗粒浓度检测,是采用纳米颗粒浓度分析仪进行检测的,需要将其制备成涂片,然后放到显微镜下观察纳米颗粒的分布情况。在医学检测领域中较为常见,以血涂片中的白细胞分类检测为例,血涂片的计数检测方式为“城垛式”,如涂片涂布不均匀,会影响检测结果,因此,需要专业的检测人士制备涂片和检测,成本高,且检测效率低。

2、因此,需要开发一种高效、高精度的纳米颗粒浓度测试方法。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于,克服现有技术中的上述缺陷,提供一种高效、高精度的纳米颗粒浓度测试方法。

2、为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:

3、一种纳米颗粒浓度的测试方法,通过纳米颗粒浓度分析组件进行测试得到,所述纳米浓度分析组件包括样品池、设置在样品池顶部的光源和与样品池设置在同一水平线上的成像组件,所述成像组件中,由靠近样品池至远离样品池的一端依次设置有显微透镜、荧光模组、相机,测试方法包括如下步骤:

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【技术保护点】

1.一种纳米颗粒浓度的测试方法,通过纳米颗粒浓度分析组件进行测试得到,其特征在于,所述纳米浓度分析组件包括样品池、设置在样品池顶部的光源和与样品池设置在同一水平线上的成像组件,所述成像组件中,由靠近样品池至远离样品池的一端依次设置有显微透镜、荧光模组、相机,测试方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的纳米颗粒浓度的测试方法,其特征在于,所述光源为激光光源。

3.根据权利要求1所述的纳米颗粒浓度的测试方法,其特征在于,步骤S1中,控制样品池中的垂直光束的直径为通过光阑进行控制,所述光阑的孔径=所述垂直光束的直径。

4.根据权利要求1所述的纳米颗粒浓度...

【技术特征摘要】

1.一种纳米颗粒浓度的测试方法,通过纳米颗粒浓度分析组件进行测试得到,其特征在于,所述纳米浓度分析组件包括样品池、设置在样品池顶部的光源和与样品池设置在同一水平线上的成像组件,所述成像组件中,由靠近样品池至远离样品池的一端依次设置有显微透镜、荧光模组、相机,测试方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的纳米颗粒浓度的测试方法,其特征在于,所述光源为激光光源。

3.根据权利要求1所述的纳米颗粒浓度的测试方法,其特征在于,步骤s1中,控制样品池中的垂直光束的直径为通过光阑进行控制,所述光阑的...

【专利技术属性】
技术研发人员:张志庭黄晓川郑剑峰符添李黎明周悦刘晓峰
申请(专利权)人:深圳众庭联合科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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