基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法制造方法及图纸

技术编号:41335420 阅读:23 留言:0更新日期:2024-05-20 09:55
本发明专利技术公开了一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法,以解决当前掺杂光纤无法细致了解精细内部损伤及恢复程度的问题。具体第一测量单元,包括光频域反射仪和第一传输光纤;光频域反射仪的作用端与第一传输光纤的FC/APC端连接,另一端与第一待测掺杂光纤一端熔接;第一待测掺杂光纤另一端形成消反射光纤端面;第二测量单元,包括第一激光器等;第一激光器和第二激光器分别与第一光纤波分复用器的第一输入端及第二输入端连接,第一光纤波分复用器公共端与第二待测掺杂光纤的一端连接,第二待测掺杂光纤的另一端与第二光纤波分复用器公共端连接,第一功率计和第二功率计分别与第二光纤波分复用器的第三输入端及第四输入端连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤辐致损耗的测量装置和方法,具体涉及一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法


技术介绍

1、光纤系统因具有结构紧凑,环境适应性好等优势在航空航天、加速器、反应堆等特殊领域有着重要的应用。光纤系统中以稀土掺杂光纤为代表的辐射敏感型光纤在辐射环境中会受到辐射的影响,随着辐照剂量的增加,光纤性能会逐渐衰减,以至于影响整个光纤系统效能的发挥。

2、辐照会导致光纤形成色心吸收缺陷,这种缺陷由光纤掺杂元素、辐射源(包含质子、中子、电子的粒子辐射和包含x、γ辐射、紫外线的电磁辐射)、辐照剂量率、总剂量等多重因素影响,因此每个缺陷中心都有各自的吸收特征、生长和恢复动力学。同时在有不同波长、功率的信号光传输的情况下,辐致损耗会呈现出更加复杂的变化特性。总体而言,高剂量辐照会导致光纤系统信号传输能力下降、模式不稳定性阈值下降、光纤温度升高、掺杂离子寿命减小等问题。因此,研究光纤在辐射环境下的特性、损伤的形成机制,对于改善、提高光纤的抗辐射能力就显得尤为重要。

3、国内外众多研究机构对掺杂光纤的辐的辐致损伤特性开展了广泛研究本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:包括第一测量单元、第二测量单元以及样品放置平台(14);

2.根据权利要求1所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述光频域反射仪(1)的空间分辨率≤1cm,光学接口支持FC/APC。

3.根据权利要求1或2所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述第一光纤波分复用器(7)和第二光纤波分复用器(11)的工作波长与第一激光器(5)和第二激光器(6)相匹配。

4.根据权利要求3所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述第一...

【技术特征摘要】

1.一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:包括第一测量单元、第二测量单元以及样品放置平台(14);

2.根据权利要求1所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述光频域反射仪(1)的空间分辨率≤1cm,光学接口支持fc/apc。

3.根据权利要求1或2所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述第一光纤波分复用器(7)和第二光纤波分复用器(11)的工作波长与第一激光器(5)和第二激光器(6)相匹配。

4.根据权利要求3所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,其特征在于:所述第一激光器(5)在连续运行时间>2hrs时的输出功率不稳定度<5%;所述第二激光器(6)在连续运行时间>2hrs时的输出功率不稳定度<5%。

5.根据权利要求4所述的基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王亚民陶蒙蒙吴昊龙王科曹慧琳叶景峰刘洋阳
申请(专利权)人:西北核技术研究所
类型:发明
国别省市:

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