射频能量发生装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种射频能量发生装置及校准方法，该射频能量发生装置包括射频能量发生电路，射频能量发生电路包括频率驱动电路、射频功率放大器、校准电路、阻抗检测电路和处理模块。射频功率放大器与频率驱动电路的输出端连接；校准电路具有多种不同的拓扑电路结构状态，校准电路在各拓扑电路结构状态下的标准阻抗值不同，校准电路可切换连接至射频功率放大器的输出端；阻抗检测电路与射频功率放大器的输出端连接；处理模块用于在所述射频功率放大器与射频输出端口导通连接时根据阻抗检测电路测量的阻抗和校准表确定射频负载的标准阻抗值。该射频能量发生装置可实现射频负载的阻抗值的自动化校准，且无需外接校准检测设备。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频，特别是涉及一种射频能量发生装置及校准方法。

技术介绍

1、为提高射频设备的射频参数检测精度，在出厂前，通常需要对每台设备进行校准，校准时需要人工进行接线，以将校准检测设备与待校准设备进行连接，连接过程较为费时费力，同时人工操作经常会引入额外的偏差。

2、另外，在产品上市之后，也会需要专人进行产品的性能维护，此时需要将校准检测设备带到现场，其整体过程较为繁琐，操作较为不便。

技术实现思路

1、基于此，有必要提供一种自动校准射频负载的阻抗值的射频能量发生装置及校准方法。

2、第一方面，本申请提供了一种射频能量发生装置，包括：

3、频率驱动电路，用于输出射频驱动信号；

4、射频功率放大器，与所述频率驱动电路的输出端连接；

5、校准电路，具有多种不同的拓扑电路结构状态，所述校准电路在各所述拓扑电路结构状态下的标准阻抗值不同，所述校准电路可切换连接至所述射频功率放大器的输出端；

6、阻抗检测电路，与所述射频功率放大器的输出端连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种射频能量发生装置，其特征在于，包括射频能量发生电路，所述射频能量发生电路包括：

2.根据权利要求1所述的射频能量发生装置，其特征在于，所述处理模块还用于在所述校准电路与所述射频功率放大器的输出端导通连接时，调节所述校准电路的拓扑电路结构状态，获取所述阻抗检测电路在各所述拓扑电路结构状态测量的阻抗值，根据所述阻抗检测电路在各所述拓扑电路结构状态测量的阻抗值确定各所述拓扑电路结构状态对应的所述测量阻抗值，根据所述校准电路在各所述拓扑电路结构状态下的标准阻抗值和对应的测量阻抗值形成所述校准表。

3.根据权利要求1所述的射频能量发生装置，其特征在于，所述处理模块还...

【技术特征摘要】

1.一种射频能量发生装置，其特征在于，包括射频能量发生电路，所述射频能量发生电路包括：

2.根据权利要求1所述的射频能量发生装置，其特征在于，所述处理模块还用于在所述校准电路与所述射频功率放大器的输出端导通连接时，调节所述校准电路的拓扑电路结构状态，获取所述阻抗检测电路在各所述拓扑电路结构状态测量的阻抗值，根据所述阻抗检测电路在各所述拓扑电路结构状态测量的阻抗值确定各所述拓扑电路结构状态对应的所述测量阻抗值，根据所述校准电路在各所述拓扑电路结构状态下的标准阻抗值和对应的测量阻抗值形成所述校准表。

3.根据权利要求1所述的射频能量发生装置，其特征在于，所述处理模块还用于在所述校准电路与所述射频功率放大器的输出端导通连接，且所述校准电路处于预定拓扑电路结构状态时，执行滤波操作，其中，所述滤波操作包括：控制所述阻抗检测电路采样n次，根据所述阻抗检测电路n次采样的阻抗值计算采样平均值和均方差，n≥2；在所述均方差超过预设误差值时，重复执行所述平均操作直到重复次数达到预设阈值时，控制所述阻抗检测电路停止采样并输出预设的提示信息。

4.根据权利要求3所述的射频能量发生装置，其特征在于，所述处理模块还用于在所述均方差小于预设误差值时，获取所述阻抗检测电路n次采样的阻抗值的采样平均值，根据所述阻抗检测电路n次采样的阻抗值与所述采样平均值的差值确定保留的采样阻抗值，计算保留的各所述采样阻抗值的平均值作为校准采样值，并将所述校准采样值作为所述校准电路在当前拓扑电路结构状态下的测量阻抗值。

5.根据权利要求4所述的射频能量发生装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭亚辉，沈刘娉，马小强，
申请(专利权)人：上海微创电生理医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：