射线照相装置和射线照相方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种射线照相装置和射线照相方法，该射线照相装置基于辐照面积和图像数据发生器的放射线检测面积之间的比较结果来控制被试者被放射线的辐照，其中辐照面积是基于光圈的开口面积计算的，图像数据发生器检测透射通过被试者的放射线并且产生图像数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
近年来，包含设置在薄膜晶体管(TFT)有源矩阵基板上的X-射线敏 感层并且能够将X射线直接转换成数字数据的平板检测器(FPD)已经投入 实际使用。便携式射线照相图像检测器件(以下称作电子暗盒(electronic cassettes))已经投入实际使用，所述便携式射线照相图像检测装置使用 FPD等产生图像数据并且储存产生的图像数据，所述图像数据代表用已经 透射通过被试者如受检者的并且用于辐照被试者的放射线表示的射线照 相图像。作为获取作为数字图像的己经以这种方式透射通过被试者的X射线 的射线照相装置，在日本专利申请公开出版物(JP-A)No.2002-204794中，公开了一种装置，其控制根据产生放射线的装置和辐照场的光圈输出放射 线的管的移动。在JP-ANo.2005-198975中，公开了减小图像上的晕影的技术，所述图像上的晕影由X-射线辐照场光圈等的机械位移造成。作为管理放射线量的技术，在JP-ANo.2007-181686中，公开了一种基于患者所暴露的放射线的放射线量测量数据而产生患者放射线量测量信息的技术。在JP-ANo.2004-201757本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射线照相装置，所述射线照相装置包括：　辐照单元，其用放射线辐照被试者；　光圈，其调节从所述辐照单元向所述被试者辐照的所述放射线的辐照范围；　光圈控制器，其控制所述光圈的开口面积；　辐照面积计算单元，其基于所述光圈 的所述开口面积计算所述辐照范围的辐照面积；和　控制器，其基于所述辐照面积与图像数据发生器的放射线的检测面积之间的比较结果来控制所述被试者由所述辐照单元用所述放射线的辐照，所述图像数据发生器检测已经透射通过所述被试者的放射线并且产生图像 数据。

【技术特征摘要】
JP 2008-9-2 2008-2252091.一种射线照相装置，所述射线照相装置包括辐照单元，其用放射线辐照被试者；光圈，其调节从所述辐照单元向所述被试者辐照的所述放射线的辐照范围；光圈控制器，其控制所述光圈的开口面积；辐照面积计算单元，其基于所述光圈的所述开口面积计算所述辐照范围的辐照面积；和控制器，其基于所述辐照面积与图像数据发生器的放射线的检测面积之间的比较结果来控制所述被试者由所述辐照单元用所述放射线的辐照，所述图像数据发生器检测已经透射通过所述被试者的放射线并且产生图像数据。2. 根据权利要求1所述的射线照相装置，其中当所述辐照面积比所述 检测面积大预定阈值或更大时，所述控制器阻止所述被试者由所述辐照单 元用所述放射线辐照。3. 根据权利要求1所述的射线照相装置，所述射线照相装置还包括报 警单元，所述报警单元在所述辐照面积比所述检测面积大预定阈值或更大 时发出警报。4. 根据权利要求3所述的射线照相装置，其中所述报警单元包括显示 报警信息的显示单元和输出报警声音的报警声音输出单元中的至少一个， 所述报警信息指示所述辐照面积比所述检测面积大所述预定阈值或更大， 并且所述报警声音指示所述辐照面积比所述检测面积大所述预定阈值或 更大。5. 根据权利要求l所述的射线照相装置，所述射线照相装置还包括 放射线量检测单元，其检测已经通过所述光圈的所述放射线的放射线 其输入与所述被试者将被所述放射线辐照的区域其基于由所述放射线量检测单元检测的所述放射区域信息输入单元， 有关的区域信息，和 放射线量计算单元，线量、...

【专利技术属性】
技术研发人员：大田恭义，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]