【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光路校准，特别是涉及一种光路校准装置及质谱仪。
技术介绍
1、spams(单颗粒质谱仪)应用中对于激光光散射提取的光路需要进行光路校准，相关技术中大多采用重力铅锤线模拟“离子束流”通道，然后通过激光在铅垂线上的光散射信号，配合ccd摄像系统进行光路调谐和校正。
2、然而该校正方法在操作前必须先对spams仪器的总体结构进行绝对水平的校正后，才能使铅垂线与spams仪器底面平面垂直，由于铅垂线处于无限位状态，故而容易形成自由摆动，导致操作繁琐，需要反复校准。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对spams中光路校准操作繁琐，需要反复校准的技术问题，提供一种光路校准装置及质谱仪。
2、本申请第一方面的实施例提出了一种光路校准装置，用于对spams质谱仪中光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统设置于质量分析器外壳上部，所述光路校准装置包括：
3、上端定位件，所述上端定位件设置于所述光路系统中，所述光路系统中部设置有第一贯通槽，所述上端定位件与第一贯通槽连通；
4、下端定位件，所述下端定位件设置于质量分析器外壳中，所述质量分析器外壳中部设置有第二贯通槽，所述下端定位件与所述第二贯通槽连通，所述第一贯通槽与所述第二贯通槽沿竖直方向同心设置，并与spams质谱仪中光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路同心设置；
5、校准绳，所述校准绳一端穿过所述第一贯通槽与所述上端定位件连接，另一端穿过
6、在其中一个实施例中，所述上端定位件包括定位柱，所述定位柱沿轴向方向开设有用于插接所述校准绳的安装孔，以使所述校准绳与所述定位柱连接。
7、在其中一个实施例中，所述上端定位件还包括限位件，所述限位件套设于所述定位柱，以使所述定位柱将所述校准绳锁紧。
8、在其中一个实施例中，所述定位柱的侧壁上开设有定位孔，所述限位件设置为锁紧螺柱，所述锁紧螺柱配合所述定位孔将与所述定位柱螺纹连接，以防止所述校准绳从所述安装孔中脱出。
9、在其中一个实施例中，所述下端定位件包括铅锤部和锁紧部，所述铅锤部一端与所述校准绳远离所述上端定位件的一端连接，所述铅锤部与所述锁紧部可拆卸连接，且所述校准绳呈张紧状态。
10、在其中一个实施例中，所述铅锤部朝向所述上端定位件的一端设置有连接孔，所述连接孔用于插入所述校准绳，以使所述校准绳与所述铅锤部连接。
11、在其中一个实施例中，所述铅锤部背离所述上端定位件的一端设置有螺柱，所述锁紧部设置有配合螺纹，所述螺柱与所述配合螺纹螺纹连接，以使所述校准绳将所述上端定位件与所述下端定位件对中连接。
12、在其中一个实施例中，所述校准绳设置为刚性绳。
13、本申请第二方面的实施例提出了一种质谱仪，包括光路系统和质量分析器外壳，所述光路系统设置于所述质量分析器外壳上部，且所述光路系统与所述质量分析器外壳以可拆卸的方式连接，所述质谱仪还包括如上所述的光路校准装置。
14、在其中一个实施例中，所述光路系统朝向所述质量分析器外壳一侧设置有定位台阶，所述质量分析器外壳设置有与所述定位台阶适配的阶梯孔，所述定位台阶与所述阶梯孔台阶配合，以使所述光路系统和质量分析器外壳可拆卸连接。
15、上述光路校准装置，用于对质谱仪中光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路校准，在质谱仪中光路系统设置于质量分析器外壳上部，通过在光路系统中部设置有第一贯通槽，在光路系统中设置与第一贯通槽连通的上端定位件，质量分析器外壳中设置有第二贯通槽，在质量分析器外壳中设置与第二贯通槽连通的下端端定位件，将第一贯通槽和第二贯通槽相对设置，通过校准绳两端分别与上端定位件和下端定位件连接，使校准绳在质谱仪中的相对位置与光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路同心设置，同时保证校准绳与质谱仪中的质量分析器外壳底板形成相互垂直的关系，从而可以使得光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路相对于质量分析器外壳底板形成相互垂直的关系，整个校准操作简单，无需反复校准。
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1.一种光路校准装置，用于对SPAMS质谱仪(100)中光路系统(110)和质量分析器外壳(120)之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统(110)设置于质量分析器外壳(120)上部，其特征在于，所述光路校准装置包括：
2.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)包括定位柱，所述定位柱沿轴向方向开设有用于插接所述校准绳(400)的安装孔，以使所述校准绳(400)与所述定位柱连接。
3.根据权利要求2所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)还包括限位件，所述限位件套设于所述定位柱，以使所述定位柱将所述校准绳(400)锁紧。
4.根据权利要求3所述的光路校准装置，其特征在于，所述定位柱的侧壁上开设有定位孔，所述限位件设置为锁紧螺柱(312)，所述锁紧螺柱(312)配合所述定位孔将与所述定位柱螺纹连接，以防止所述校准绳(400)从所述安装孔中脱出。
5.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述下端定位件(300)包括铅锤部(310)和锁紧部(320)，所述铅锤部(310)一端与所
6.根据权利要求5所述的光路校准装置，其特征在于，所述铅锤部(310)朝向所述上端定位件(200)的一端设置有连接孔(311)，所述连接孔(311)用于插入所述校准绳(400)，以使所述校准绳(400)与所述铅锤部(310)连接。
7.根据权利要求5所述的光路校准装置，其特征在于，所述铅锤部(310)背离所述上端定位件(200)的一端设置有螺柱(312)，所述锁紧部(320)设置有配合螺纹，所述螺柱(312)与所述配合螺纹螺纹连接，以使所述校准绳(400)将所述上端定位件(200)与所述下端定位件(300)对中连接。
8.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述校准绳(400)设置为刚性绳。
9.一种质谱仪，包括光路系统(110)和质量分析器外壳(120)，其特征在于，所述光路系统(110)设置于所述质量分析器外壳(120)上部，且所述光路系统(110)与所述质量分析器外壳(120)以可拆卸的方式连接，所述质谱仪(100)还包括如权利要求1-8任一项权利要求所述的光路校准装置。
10.根据权利要求9所述的质谱仪，其特征在于，所述光路系统(110)朝向所述质量分析器外壳(120)一侧设置有定位台阶，所述质量分析器外壳(120)设置有与所述定位台阶适配的阶梯孔，所述定位台阶与所述阶梯孔台阶配合，以使所述光路系统(110)和质量分析器外壳(120)可拆卸连接。
...【技术特征摘要】
1.一种光路校准装置，用于对spams质谱仪(100)中光路系统(110)和质量分析器外壳(120)之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统(110)设置于质量分析器外壳(120)上部，其特征在于，所述光路校准装置包括：
2.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)包括定位柱，所述定位柱沿轴向方向开设有用于插接所述校准绳(400)的安装孔，以使所述校准绳(400)与所述定位柱连接。
3.根据权利要求2所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)还包括限位件，所述限位件套设于所述定位柱，以使所述定位柱将所述校准绳(400)锁紧。
4.根据权利要求3所述的光路校准装置，其特征在于，所述定位柱的侧壁上开设有定位孔，所述限位件设置为锁紧螺柱(312)，所述锁紧螺柱(312)配合所述定位孔将与所述定位柱螺纹连接，以防止所述校准绳(400)从所述安装孔中脱出。
5.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述下端定位件(300)包括铅锤部(310)和锁紧部(320)，所述铅锤部(310)一端与所述校准绳(400)远离所述上端定位件(200)的一端连接，所述铅锤部(310)与所述锁紧部(320)可拆卸连接，且所述校准绳呈张紧状态。
6.根据权利要求5所述的光路校准装置，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢瀚仑，向大军，李磊，李雪，胡斌，周振，
申请(专利权)人：暨南大学，
类型：新型
国别省市：
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