一种光路校准装置及质谱仪制造方法及图纸

本申请涉及一种光路校准装置及质谱仪，光路校准装置包括上端定位件、下端定位件和校准绳，光路系统设置于质谱仪上部，内设有上端定位件和第一贯通槽，上端定位件与第一贯通槽连通，质量分析器外壳设置于质谱仪下部，内设有下端定位件和第二贯通槽，下端定位件与第二贯通槽连通，第一贯通槽与第二贯通槽沿竖直方向同心设置，并与质谱仪中光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路同心设置，通过校准绳一端穿过第一贯通槽与上端定位件连接，另一端穿过第二贯通槽与下端定位件连接，且张紧的校准绳与质量分析器外壳的底部垂直，从而使光路相对于质量分析器外壳底板保持相互垂直的关系，无需反复校准。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光路校准，特别是涉及一种光路校准装置及质谱仪。

技术介绍

1、spams(单颗粒质谱仪)应用中对于激光光散射提取的光路需要进行光路校准，相关技术中大多采用重力铅锤线模拟“离子束流”通道，然后通过激光在铅垂线上的光散射信号，配合ccd摄像系统进行光路调谐和校正。

2、然而该校正方法在操作前必须先对spams仪器的总体结构进行绝对水平的校正后，才能使铅垂线与spams仪器底面平面垂直，由于铅垂线处于无限位状态，故而容易形成自由摆动，导致操作繁琐，需要反复校准。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对spams中光路校准操作繁琐，需要反复校准的技术问题，提供一种光路校准装置及质谱仪。

2、本申请第一方面的实施例提出了一种光路校准装置，用于对spams质谱仪中光路系统和质量分析器外壳之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统设置于质量分析器外壳上部，所述光路校准装置包括：

3、上端定位件，所述上端定位件设置于所述光路系统中，所述光路系统中部设置有第一贯通槽，所述上端定位件与本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光路校准装置，用于对SPAMS质谱仪(100)中光路系统(110)和质量分析器外壳(120)之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统(110)设置于质量分析器外壳(120)上部，其特征在于，所述光路校准装置包括：

2.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)包括定位柱，所述定位柱沿轴向方向开设有用于插接所述校准绳(400)的安装孔，以使所述校准绳(400)与所述定位柱连接。

3.根据权利要求2所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)还包括限位件，所述限位件套设于所述定位柱，以使所述定位柱将所述校准绳(400)...

【技术特征摘要】

1.一种光路校准装置，用于对spams质谱仪(100)中光路系统(110)和质量分析器外壳(120)之间激光光散射提取的光路进行校准，光路系统(110)设置于质量分析器外壳(120)上部，其特征在于，所述光路校准装置包括：

2.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)包括定位柱，所述定位柱沿轴向方向开设有用于插接所述校准绳(400)的安装孔，以使所述校准绳(400)与所述定位柱连接。

3.根据权利要求2所述的光路校准装置，其特征在于，所述上端定位件(200)还包括限位件，所述限位件套设于所述定位柱，以使所述定位柱将所述校准绳(400)锁紧。

4.根据权利要求3所述的光路校准装置，其特征在于，所述定位柱的侧壁上开设有定位孔，所述限位件设置为锁紧螺柱(312)，所述锁紧螺柱(312)配合所述定位孔将与所述定位柱螺纹连接，以防止所述校准绳(400)从所述安装孔中脱出。

5.根据权利要求1所述的光路校准装置，其特征在于，所述下端定位件(300)包括铅锤部(310)和锁紧部(320)，所述铅锤部(310)一端与所述校准绳(400)远离所述上端定位件(200)的一端连接，所述铅锤部(310)与所述锁紧部(320)可拆卸连接，且所述校准绳呈张紧状态。

6.根据权利要求5所述的光路校准装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢瀚仑，向大军，李磊，李雪，胡斌，周振，
申请(专利权)人：暨南大学，
类型：新型
国别省市：