用于随机存取存储器的可编程自检测制造技术

本发明专利技术公开了一种可提供用于检测存储器的大指令集又能降低面积开销的系统。这种用于检测集成电路的存储器的系统包括：一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从寄存器组接收多个检测指令，其中该有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术所公开的内容大体涉及集成电路领域，更具体地，涉及一种用于检 测集成电路的一个存储器或多个存储器的可编程内建自检测结构和相应的检 测方法。
技术介绍
集成电路(IC )技术得到了不断的改进，包括按比例缩小器件的几何形状 以实现较低的制造成本、较高的器件集成密度、较高的速度和更好的性能。这 些改进为IC提供了最佳质量。典型地，在制造之后检测IC,以确保IC展现 出所需质量。检测通常包括为被检测的IC施加一个激励源，获得并分析IC器 件的响应，且将器件的响应与已知的、所需的响应作对比。在IC的存储器的 检测中， 一种方法包括可编程内建自检测(BIST)电路。常规的可编程BIST 制造在IC上且采用单独的从属嵌入式存储器(例如，只读存储器)，用于编程 一套检测指令。但是，当检测复杂的存储器器件时，从属嵌入式存储器需要大 的指令集，其导致比所期望的更大的面积开销。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种面积有效的可编程BIST结构，以提供多 重复杂的自检测程序。根据本专利技术，提供了一种系统，该系统有效地提供适于 复杂嵌入式存储器的大的检测指令集，同时提供减小的面积开销。在一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测集成电路的存储器的系统，包括：　　　　一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即，一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；　　　　一个有限状态机，用于从所述寄存器组接收多个检测指令，其中所述有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；　　　　一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及　　　　一个比较器模块，用于将从所述存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。

【技术特征摘要】
US 2008-8-27 12/198,9491.一种用于检测集成电路的存储器的系统，包括一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即，一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从所述寄存器组接收多个检测指令，其中所述有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从所述存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。2. 如权利要求1所述的系统，其中所述寄存器组包括用于定义所述多个检 测要素的多个检测要素控制寄存器。3. 如权利要求2所述的系统，其中所述多个检测要素控制寄存器包括用 于控制写功能的至少一位以及用于控制读功能的至少一位、用于启动重复功能 的至少一个可编程位或者用于启动刷新功能的至少一个可编程位。4. 如权利要求2所述的系统，其中所述寄存器组包括一个检测要素重复 计数寄存器，其指定了对于定义了一个检测要素的至少一个检测要素控制寄存 器，该检测要素被重复的次数；或者包括用于为多个检测要素控制寄存器定义 检测设置的至少 一个检测模式寄存器。5. 如权利要求4所述的系统，其中所述至少一个检测模式寄存器包括通 过列地址用于控制数据模式触发的至少一位、通过行地址用于控制数据模式触 发的至少一位以及用于控制数据模式触发来生成字线图案的至少一位，或者用 于启动错误触发模式的至少 一个可编程位。6. 如权利要求l所述的系统，其中所述寄存器组包括一个刷新时间寄存 器，其定义了用于插入一个刷新的至少一个时间。7. 如权利要求l所述的系统，其中所述寄存器组包括一个组开始寄存器 和一个组终止寄存器，其中所述组开始寄存器定义了用于一个检测的存储器的 一个开始组，且组终止寄存器定义了用于一个^r测的存储器的一个终止组。8. 如权利要求7所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晴雯，郑玮嘉，林士杰，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]