【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及例如对排气等进行分析的气体分析装置、气体分析方法以及气体分析装置用程序。
技术介绍
1、例如在使用ftir(傅里叶变换红外分光)法、qcl-ir(中红外激光分光)法等吸光分析法的气体分析装置中，为了加长通过测量对象气体的光的光路长，使用由多个反射镜构成的多重反射型的样品池(参照专利文献1)。在这样的气体分析装置中，向样品池照射光，用光检测器检测在样品池内被多重反射后导出的光的强度，根据从光检测器输出的光强度信号测量样品中包含的测量对象成分的浓度等。
2、如果使用这样的气体分析装置进行例如汽车的排气等的分析，则由于排气中包含的碳氢化合物(hc)、颗粒状物质(pm)等污染物质，导致样品池的反射镜被污染。如果使用多重反射型的样品池的气体分析装置的反射镜被污染，则导致由光检测器检测到的光强度(信号强度)以多重反射次数的幂的形式降低。例如，如果样品池将入射的光反射100次，则反射镜的反射率即使仅从100％降低到99％，由光检测器检测到的信号强度也降低到36.6％。这样，如果由光检测器检测到的信号强度过度降低，则有可能陷入运算时的拟合不良导致的噪声增大、测量值的不准确性、最终无法测量的状态。另外，由于光源的劣化，导入测量池内的光的光强度降低，由此也有可能产生同样的问题。
3、在以往的气体分析装置中，用户无法确认由光检测器检测到的信号强度，无法确认反射镜的污染状况、光源的劣化状况等(以下称为反射镜的污染状况等)。因此，如果使用气体分析装置，则有可能产生在用户不知不觉中噪声变大等而导致分析精度恶化这样的问题
4、现有技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：日本专利公开公报特开2012-002799号
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题
2、本专利技术是鉴于上述问题而完成的，其主要目的在于在进行吸光分析的气体分析装置中使用户能够掌握反射镜的污染状况等，提高针对测量值的可靠性。
3、用于解决技术问题的技术方案
4、即，本专利技术的气体分析装置，其特征在于具备：样品池，导入样品气体；光源，向所述样品池照射光；光检测器，检测由所述光源射出并通过所述样品池的光的光强度；浓度计算部，根据从所述光检测器输出的光强度，计算所述样品气体中包含的测量对象成分的浓度；以及光强度输出部，能够与预先设定的基准光强度进行比较地输出在校准时所述光检测器检测到的校准时光强度。
5、如果这样构成，则能够与预先设定的基准光强度进行比较地输出在校准时光检测器检测到的校准时光强度，因此用户在进行分析装置的校准时，通过将校准时光强度与基准光强度进行比较来确认，能够掌握反射镜的污染状况等，能够提高针对测量值的可靠性。
6、作为所述气体分析装置的具体构成，可以举出如下的构成：所述气体分析装置还具备校准气体供给管道，所述校准气体供给管道向所述样品池供给校准气体，所述光强度输出部输出在向所述样品池供给了所述校准气体的状态下所述光检测器检测到的光强度作为校准时光强度。
7、另外，优选的是，在所述气体分析装置中，所述光强度输出部以相对于所述基准光强度的相对值输出所述校准时光强度。
8、如果这样做，则不是将校准时光强度作为原始信号输出，而是作为相对于基准光强度的相对值输出，因此能够更容易地掌握反射镜的污染情况、光源的劣化情况。
9、另外，优选的是，所述气体分析装置还具备警告输出部，所述警告输出部对所述相对值与预先设定的规定的阈值进行比较，在所述相对值超过了所述阈值的情况下输出警告信号。
10、如果这样做，则通过输出警告信号，用户能够觉察接近维护时期、需要立即进行维护，因此能够将气体分析装置突然变得无法使用这样的故障防患于未然。
11、另外，优选的是，所述气体分析装置分析多个所述测量对象成分，所述光强度输出部针对与各所述测量对象成分对应的每个波长区域输出所述校准时光强度。
12、如果这样做，则用户通过对各波长区域的每个的校准时光强度进行比较，能够更详细地掌握反射镜的污染状况等。即，如果当在多个波长区域测量的情况下仅输出特定的波长区域的校准时光强度来掌握反射镜的污染状况时，无法掌握其他波长区域的校准时光强度，因此有可能无法正确地掌握反射镜的污染状况等，但是在实施方式中通过输出多个波长区域的每个的校准时光强度来掌握反射镜的污染状况，能够更详细地掌握反射镜的污染状况等。
13、作为所述气体分析装置的具体构成，可以举出如下的构成：所述基准光强度是在产品出厂时或开始最初的测量之前进行的校准时由所述光检测器检测到的光强度。
14、另外，优选的是，在所述气体分析装置中，所述光强度输出部输出在零点校准时所述光检测器检测到的光强度作为所述校准时光强度。
15、如果这样做，由于与量程校准不同，在零点校准时总是使用相同气体种类的校准气体，因此能够使每次取得校准时光强度时的条件一致，所以能够更正确地掌握反射镜的污染状况等的进展情况。
16、作为显著地起到本专利技术的效果的方式，可以举出如下的方式：所述样品池是将入射的光进行多重反射后向外部射出的多重反射型池。
17、作为所述气体分析装置的具体的方式，可以举出ftir方式或qcl-ir方式的装置。
18、然而，为了稳定地测量排气中的测量对象成分的浓度，需要防止排气中包含的灰尘等固体、颗粒状物质进入样品池内。因此，以往，在将排气导入样品池的气体导入管道的临界流量孔等流量限制部的前方设置多个过滤器，除去排气中的固体、颗粒状物质。
19、但是，在这样的减压类的气体分析装置中，即使在气体导入管道上设置过滤器也无法完全地防止固体、颗粒状物质侵入样品池内，样品池内(反射镜)的污染加剧，对气体浓度测量及其精度造成影响。由于作为排气中包含的测量对象成分的氨具有高吸附性，所以为了不使响应时间恶化，无法过度地增加过滤器的个数。
20、本专利技术人进行了深入研究，结果发现，对于从柴油发动机的排气中除去pm的dpf(柴油微粒保修过滤器)，定期地进行强制喷射燃料使排气温度上升从而使内部充满的pm燃烧的“dpf再生”这样的处理，在该dpf再生模式时产生在平时不产生的高沸点碳氢化合物，该高沸点碳氢化合物有可能成为反射镜的污染的原因。此外发现，在以往的样品池中，有时通过埋入池的容器部分的加热器等温度调节机构进行温度调节，但是池内部的反射镜本身仅通过使用内部的气氛加热无法被温度调节，与内壁相比较成为低温，因此反射镜成为冷点，导致吸附高沸点碳氢化合物，导致反射镜污染的可能性高。
21、因此，优选的是，所述气体分析装置还具备：池加热机构，将所述样品池加热到规定温度；以及气体导入管道，将采集到的所述样品气体导入所述样品池，设置有限制向所述样品池导入的所述样品气体的流量的流量限制部，在所述气体导入管本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种气体分析装置，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的气体分析装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的气体分析装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的气体分析装置，其特征在于，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
7.根据权利要求1至6中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
8.根据权利要求1至7中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
9.根据权利要求1至8中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
10.根据权利要求1至9中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
11.根据权利要求10所述的气体分析装置，其特征在于，
12.根据权利要求10或11所述的气体分析装置，其特征在于，
13.一种排气分析系统，其特征在于，
14.根据权利要求13所述的排气分析系统，其特征在于，
15.根据权利要求13或14所述
16.根据权利要求13至15中任一项所述的排气分析系统，其特征在于，
17.根据权利要求13至16中任一项所述的排气分析系统，其特征在于，
18.一种气体分析方法，其特征在于，
19.一种气体分析装置用程序，其特征在于，
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种气体分析装置，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的气体分析装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的气体分析装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的气体分析装置，其特征在于，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
7.根据权利要求1至6中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
8.根据权利要求1至7中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
9.根据权利要求1至8中任一项所述的气体分析装置，其特征在于，
10.根据权利要求1至...
【专利技术属性】
技术研发人员：名仓直希，川渕泰，高桥大地，原健儿，菊田孝幸，吉冈雅也，中村浩太郎，
申请(专利权)人：株式会社堀场制作所，
类型：发明
国别省市：
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