【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于thz技术,氧化物光电子学领域,具体地说,涉及一种本征能隙为2thz的拓扑层状结构材料及其制备方法。
技术介绍
1、thz波的激发及探测作为下一代6g通讯、生物医学成像、大分子物质检测的核心技术,长期以来都是学术界及工业界关注的热点。目前,尚无基于本征能级跃迁激发thz波的电子材料,因此thz波辐射产生主要依靠超快激光和自由电子激光技术。基于超快激光泵浦半导体或自旋材料诱导光整流效应获得的thz辐射通常输出功率小于300mw,无法满足工业应用的需求。自由电子激光技术是当前获得高功率thz波辐射的主要方法,其平均输出功率可达10w。然而基于自由电子激光技术的thz辐射源发生装置结构复杂、尺寸庞大、且价格昂贵,成为阻碍thz技术发展和商业化应用的主要因素。通过外场激发材料本征能级跃迁被认为是获得thz波辐射是最理想方式,然而thz波的光谱能量范围约为:0.41mev-40mev,已知的半导体材料本征能隙均远大于该能量范围。虽然量子级联激光器可以通过量子势阱构造虚拟能级实现thz波的辐射,但其工作温度低于室温,且制造成本昂贵导致
...【技术保护点】
1.一种本征能隙为2THz的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述拓扑层状结构材料为2THz实现本征能隙跃迁的KNbO2材料,属于R-3m空间群,由K+原子层和NbO2-原子层交替堆叠构成,沿着Z轴方向具有三重对称性,制得晶体沿[661]晶带轴取向排列的织构。
2.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,KNbO2晶体单体形貌为方形或长方形。
3.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述拓扑层状结构材料为陶瓷片、薄膜或块体。
4.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述薄膜是由长方形的KNbO2晶体
...【技术特征摘要】
1.一种本征能隙为2thz的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述拓扑层状结构材料为2thz实现本征能隙跃迁的knbo2材料,属于r-3m空间群,由k+原子层和nbo2-原子层交替堆叠构成,沿着z轴方向具有三重对称性,制得晶体沿[661]晶带轴取向排列的织构。
2.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,knbo2晶体单体形貌为方形或长方形。
3.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述拓扑层状结构材料为陶瓷片、薄膜或块体。
4.根据权利要求1所述的拓扑层状结构材料,其特征在于,所述薄膜是由长方形的knbo2晶体单体沿着[661]取向(垂直于二维平面)随机堆叠形成了沿着c轴固定取向的织构薄膜。
5.一种权利要求1-4任...
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