【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测装置及其检测方法，且特别是涉及一种非接触式检测装置及其检测方法。
技术介绍
1、螺帽是常见的锁附元件，若螺帽攻牙时攻制的螺纹孔垂直度较差，会使螺帽与其锁附的螺丝无法紧密接合，导致零件在机台运行中容易发生螺帽脱落、断裂等事故。
2、现有的螺帽检测方式需通过锁附标准螺丝或量规，来判断螺帽本身的螺纹孔垂直度是否符合标准。然而，此种检测方式耗时、仅能抽样检测螺帽、长期使用会使标准螺丝磨损以及需定期进行校正与保养等，因此不符合快速及大量检测的要求。
技术实现思路
1、本专利技术有关于一种非接触式检测装置及其检测方法，无需使用标准螺丝或量规，以提高检测效率。
2、根据本专利技术的一方面，提出一种非接触式检测方法，用于检测螺帽，包括下列步骤。拍摄该螺帽，以取得该螺帽的螺纹孔影像。将该螺纹孔影像与标准螺纹孔影像进行螺纹面积比对。根据该螺纹面积比对的结果得到面积差异量。根据该面积差异量判断该螺帽是否为良品。
3、根据本专利技术的一方面，提出一种非接触式检测装置，用于检测螺帽。非接触式检测装置包括影像撷取装置以及处理器，该影像撷取装置拍摄该螺帽的螺纹孔影像。该处理器取得该螺帽的该螺纹孔影像，将该螺纹孔影像与标准螺纹孔影像进行螺纹面积比对以得到面积差异量，根据该面积差异量判断该螺帽是否为良品。
4、为了对本专利技术的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举实施例，并配合所附的附图详细说明如下。
【技术保护点】
1.一种非接触式检测方法，用于螺帽，包括：
2.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中拍摄该螺帽包括将该螺帽设置于平台上，使该螺帽的底面与该平台的水平基准面平行，且相机镜头准直对准该螺帽的中央，以拍摄该螺帽。
3.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中该螺纹面积比对包括将该螺纹孔影像与该标准螺纹孔影像进行影像重叠及对齐，以供计算重叠区域以外的非重叠区域的螺纹的该面积差异量。
4.如权利要求3所述的非接触式检测方法，其中该螺纹面积比对包括以该螺帽的圆心与螺纹切削的进入点的连线为基准线，比对相同角度下该标准螺纹孔影像与该螺纹孔影像的螺纹切削轨迹，以供计算该面积差异量。
5.如权利要求4所述的非接触式检测方法，其中该螺纹切削轨迹的该进入点为切削刀具于该螺帽上进行攻牙时的切入点。
6.如权利要求3所述的非接触式检测方法，其中该面积差异量以该螺纹面积比对之后得到的该非重叠区域的像素量表示。
7.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中判断该螺帽是否为良品包括设定像素量阈值，当该面积差异量大于该像素量阈值时，判断该螺
8.一种非接触式检测装置，用于检测螺帽，包括：
9.如权利要求8所述的非接触式检测装置，还包括平台，该螺帽设置于该平台上，该螺帽的底面与该平台的水平基准面平行，且该影像撷取装置包括镜头准直对准该螺帽的中央，以拍摄该螺帽。
10.如权利要求8所述的非接触式检测装置，其中该螺纹面积比对包括将该螺纹孔影像与该标准螺纹孔影像进行影像重叠及对齐，以供计算重叠区域以外的非重叠区域的螺纹的该面积差异量。
11.如权利要求10所述的非接触式检测装置，其中该螺纹面积比对包括以该螺帽的圆心与螺纹切削的进入点的连线为基准线，比对相同角度下该标准螺纹孔影像与该螺纹孔影像的螺纹切削轨迹，以供计算该面积差异量。
12.如权利要求11所述的非接触式检测装置，其中该螺纹切削轨迹的该进入点为切削刀具于该螺帽上进行攻牙时的切入点。
13.如权利要求10所述的非接触式检测装置，其中该面积差异量以该螺纹面积比对之后得到的该非重叠区域的像素量表示。
14.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其中判断该螺帽是否为良品包括设定像素量阈值，当该面积差异量大于该像素量阈值时，判断该螺帽为不良品；当该面积差异量小于或等于该像素量阈值时，判断该螺帽为良品。
15.如权利要求14所述的非接触式检测装置，其中设定该像素量阈值包括记录一批数量的良品螺帽与不良品螺帽的面积差异量，并以统计方法计算该像素量阈值。
16.如权利要求15所述的非接触式检测装置，其中该像素量阈值介于该良品螺帽的面积差异量的最大值与该不良品螺帽的面积差异量的最小值之间。
...【技术特征摘要】
1.一种非接触式检测方法，用于螺帽，包括：
2.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中拍摄该螺帽包括将该螺帽设置于平台上，使该螺帽的底面与该平台的水平基准面平行，且相机镜头准直对准该螺帽的中央，以拍摄该螺帽。
3.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中该螺纹面积比对包括将该螺纹孔影像与该标准螺纹孔影像进行影像重叠及对齐，以供计算重叠区域以外的非重叠区域的螺纹的该面积差异量。
4.如权利要求3所述的非接触式检测方法，其中该螺纹面积比对包括以该螺帽的圆心与螺纹切削的进入点的连线为基准线，比对相同角度下该标准螺纹孔影像与该螺纹孔影像的螺纹切削轨迹，以供计算该面积差异量。
5.如权利要求4所述的非接触式检测方法，其中该螺纹切削轨迹的该进入点为切削刀具于该螺帽上进行攻牙时的切入点。
6.如权利要求3所述的非接触式检测方法，其中该面积差异量以该螺纹面积比对之后得到的该非重叠区域的像素量表示。
7.如权利要求1所述的非接触式检测方法，其中判断该螺帽是否为良品包括设定像素量阈值，当该面积差异量大于该像素量阈值时，判断该螺帽为不良品；当该面积差异量小于或等于该像素量阈值时，判断该螺帽为良品。
8.一种非接触式检测装置，用于检测螺帽，包括：
9.如权利要求8所述的非接触式检测装置，还包括平台，该螺帽设置于该平台上，该螺帽的底面与该平台的水平基...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄暐翔，高彩龄，李俊毅，李哲睿，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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