本发明专利技术提供一种功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片技术领域；其中方法包括：针对芯片中的待分析模块，基于第一信息及硬件加速器，生成待分析模块对应的目标波形；第一信息为与芯片及待分析模块相关联的时钟信息，目标波形表征待分析模块对应的最高频率时钟的占空比为50％；基于目标波形，对待分析模块进行功耗分析。通过上述方法，基于与芯片及待分析模块相关联的时钟信息，可以使硬件加速器生成待分析模块对应的满足功耗分析工具输入要求的目标波形，进而使功耗分析工具可以基于目标波形对待分析模块进行功耗分析。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片，尤其涉及一种功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在芯片研发期间，需要对芯片中各模块的功耗进行分析。在相关技术中，通常需要用硬件加速器生成模块的波形，然后将波形输入到功耗分析工具，例如ptpx(primetimepx)，从而实现对模块进行功耗分析。
2、功耗分析工具在对模块的波形进行分析时，要求波形中模块对应的最高频率时钟的占空比为50％，否则功耗分析工具无法运行。然而在相关技术中，硬件加速器生成的波形无法保证模块对应的最高频率时钟的占空比为50％，无法满足功耗分析工具的输入要求。
3、因此，如何保证硬件加速器生成的波形满足功耗分析工具的输入要求，是目前亟待解决的问题。
技术实现思路
1、针对相关技术存在的问题，本专利技术实施例提供一种功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质。
2、本专利技术提供一种功耗分析方法，包括：
3、针对芯片中的待分析模块，基于第一信息及硬件加速器，生成所述待分析模块对应的目标波形；所述第一信息为与所述芯片及所述待分析模块相关联的时钟信息，所述目标波形表征所述待分析模块对应的最高频率时钟的占空比为50％；
4、基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析。
5、可选地，所述第一信息，包括：
6、所述待分析模块对应的原始波形中所述待分析模块对应的最高频率时钟；所述原始波形表征所述待分析模块对应的最高频率时钟的占空比不为50％；
>7、所述原始波形中所述芯片对应的原始最高频率时钟。8、可选地，所述基于第一信息及硬件加速器，生成所述待分析模块对应的目标波形，包括：
9、基于所述芯片对应的原始最高频率时钟，生成所述芯片对应的目标最高频率时钟；其中，第一频率大于第二频率，所述第一频率为所述芯片对应的目标最高频率时钟对应的频率，所述第二频率为所述芯片对应的原始最高频率时钟对应的频率；
10、基于所述待分析模块对应的最高频率时钟、所述芯片对应的原始最高频率时钟及所述芯片对应的目标最高频率时钟，利用所述硬件加速器生成所述目标波形；其中，第三频率为所述第一频率的整数分频，所述第三频率为所述目标波形中所述待分析模块对应的最高频率时钟对应的频率。
11、可选地，所述第一频率、所述第二频率及所述第三频率之间满足目标条件；所述目标条件包括：
12、所述第一频率大于所述第二频率，所述第二频率大于所述第三频率；
13、所述第一频率与所述第三频率进行取模计算的结果为0。
14、可选地，所述基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析，包括：
15、将所述目标波形与所述芯片的网表进行映射，得到映射率；
16、在所述映射率达到预设值的情况下，基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析。
17、本专利技术还提供一种功耗分析装置，包括：
18、生成模块，用于针对芯片中的待分析模块，基于第一信息及硬件加速器，生成所述待分析模块对应的目标波形；所述第一信息为与所述芯片及所述待分析模块相关联的时钟信息，所述目标波形表征所述待分析模块对应的最高频率时钟的占空比为50％；
19、分析模块，用于基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析。
20、可选地，所述生成模块，进一步用于：
21、基于所述芯片对应的原始最高频率时钟，生成所述芯片对应的目标最高频率时钟；其中，第一频率大于第二频率，所述第一频率为所述芯片对应的目标最高频率时钟对应的频率，所述第二频率为所述芯片对应的原始最高频率时钟对应的频率；
22、基于所述待分析模块对应的最高频率时钟、所述芯片对应的原始最高频率时钟及所述芯片对应的目标最高频率时钟，利用所述硬件加速器生成所述目标波形；其中，第三频率为所述第一频率的整数分频，所述第三频率为所述目标波形中所述待分析模块对应的最高频率时钟对应的频率。
23、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述功耗分析方法。
24、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述功耗分析方法。
25、本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述功耗分析方法。
26、本专利技术提供的功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质，针对芯片中的待分析模块，基于第一信息及硬件加速器，生成待分析模块对应的目标波形，其中，第一信息为与芯片及待分析模块相关联的时钟信息，目标波形表征待分析模块对应的最高频率时钟的占空比为50％；然后基于目标波形，对待分析模块进行功耗分析。通过上述方法，基于与芯片及待分析模块相关联的时钟信息，可以使硬件加速器生成待分析模块对应的满足功耗分析工具输入要求的目标波形，进而使功耗分析工具可以基于目标波形对待分析模块进行功耗分析。
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【技术保护点】
1.一种功耗分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的功耗分析方法，其特征在于，所述第一信息，包括：
3.根据权利要求2所述的功耗分析方法，其特征在于，所述基于第一信息及硬件加速器，生成所述待分析模块对应的目标波形，包括：
4.根据权利要求3所述的功耗分析方法，其特征在于，所述第一频率、所述第二频率及所述第三频率之间满足目标条件；所述目标条件包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的功耗分析方法，其特征在于，所述基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析，包括：
6.一种功耗分析装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的功耗分析装置，其特征在于，所述生成模块，进一步用于：
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5任一项所述功耗分析方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述功耗分析方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述功耗分析方法。
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【技术特征摘要】
1.一种功耗分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的功耗分析方法，其特征在于，所述第一信息，包括：
3.根据权利要求2所述的功耗分析方法，其特征在于，所述基于第一信息及硬件加速器，生成所述待分析模块对应的目标波形，包括：
4.根据权利要求3所述的功耗分析方法，其特征在于，所述第一频率、所述第二频率及所述第三频率之间满足目标条件；所述目标条件包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的功耗分析方法，其特征在于，所述基于所述目标波形，对所述待分析模块进行功耗分析，包括：
6.一种功耗分析装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海壁仞科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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