【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学式旋转体位置检测装置。
技术介绍
光学式旋转体检测装置例如巳知有特开2000—162335号公报中所记载。该公报中公开的有在指针式手表中为检测秒针、分针以及时针的标准 位置而用于光学检测秒针齿轮、分针齿轮、秒针齿轮各自的标准位置的装 置，即光学式旋转体位置检测装置。该指针式手表的秒针齿轮通过包含第一驱动电动机及多个中间齿轮 的第一驱动系统每次以规定时间间隔旋转规定角度。该指针式手表的分针 齿轮及时针齿轮分别通过包含第二驱动电动机及多个中间齿轮的第二驱 动系统每次以规定时间间隔旋转规定角度。秒针齿轮、分针齿轮以及时针 齿轮被同轴旋转自如地支承于底板上，光学式旋转体位置检测装置具有配 置于这些秒针齿轮、分针齿轮以及时针齿轮两侧的作为发光组件的发光元 件及作为光检测组件的受光元件。在秒针齿轮、分针齿轮以及时针齿轮上，在与连结发光元件和受光元 件的光轴交叉的旋转轨迹上形成有基准位置透光孔。根据这种现有的指针式手表中组装的光学式旋转体位置检测装置，在 需要设定秒针、分针以及时针的基准位置(即秒针齿轮、分针齿轮以及时 针齿轮的基准位置)时，在通过发光元件...
【技术保护点】
一种光学式旋转体位置检测装置，其具有： 发光组件（３１），其按照发光的方式构成； 光检测组件（３２），其按照检测光的方式构成； 固定支承体（６、７），其支承发光组件（３１）和光检测组件（３２）使发光组件（３１）和光检测组件 （３２）彼此相对分离，并使光检测组件（３２）检测来自发光组件（３１）的光； 旋转体（２０），其构成为，按照横穿连结发光组件（３１）和光检测组件（３２）的光轴（１３ａ）的方式每次以规定时间间隔旋转规定角度，且包含在光轴（１３ａ）交叉的旋 转轨迹上配置的基准位置透光孔（２１ａ），在从使基准位置透光孔（２１ａ）的中心...
【技术特征摘要】
JP 2008-7-25 2008-1916431、一种光学式旋转体位置检测装置，其具有发光组件(31)，其按照发光的方式构成；光检测组件(32)，其按照检测光的方式构成；固定支承体(6、7)，其支承发光组件(31)和光检测组件(32)使发光组件(31)和光检测组件(32)彼此相对分离，并使光检测组件(32)检测来自发光组件(31)的光；旋转体(20)，其构成为，按照横穿连结发光组件(31)和光检测组件(32)的光轴(13a)的方式每次以规定时间间隔旋转规定角度，且包含在光轴(13a)交叉的旋转轨迹上配置的基准位置透光孔(21a)，在从使基准位置透光孔(21a)的中心与光轴(13a)一致的基准位置进行规定时间间隔的规定角度的一次旋转移动后，将基准位置透光孔(21a)的周缘配置在基准位置的基准位置透光孔(21a)的周缘外侧，所述光学式旋转体位置检测装置的特征在于，还具有透光限制组件(15a、61)，与固定支承体(6、7)一体设置，配置在与光轴(13a)交叉的位置，容许光的透过且限制透过的光的直径，透光限制组件(15a、61)将透过它的光的直径限制为，比从随着旋转体(20)的规定时间间隔的规定角度的一次旋转移动而在基准位置透光孔(21a)中产生的错位容许误差(R1)的范围内的基准位置透光孔(21a)的周缘到光轴(13a)的最小距离小的直径。2、 如权利要求1所述的光学式旋转体位置检测装置，其特征在于，透光限制组件(15a、 61)相对于光检测组件(32)与旋转体(20)侧邻接配置。3、 如权利要求2所述的光学式旋转体位置检测装置，其特征在于，具有相对于旋转体(20)配置在光检测组件(32)侧及发光组件(31)侧中的至少一方的至少另一透光限制组件(50、 55)。4、 如权利要求3所述的光学式旋转体位置检测装置，其特征在于，至少另一透光限制组件(50、 55)配置于旋转体(20)与发光组件(32)之间。5、 如权利要求4所述的光学式旋转体位置检测装置，其特征在于，另一透光限制组件(50、 55)相对于发光组件(32)与旋转体(20)侧邻接配置。6、 如权利要求l...
【专利技术属性】
技术研发人员：细渊博幸，
申请(专利权)人：卡西欧计算机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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