【技术实现步骤摘要】
本技术涉及降噪耳机，具体而言，涉及一种降噪耳机的降噪调试结构。
技术介绍
1、降噪耳机隔绝、消除噪音的能力从生理、心理的角度保护我们的健康，逐渐成为上班通勤、运动健身的必需品，为了保证降噪功能正常运行，厂家在降噪耳机出厂前通常会进行一系列的调试和测试，以确保耳机在出厂前具备可靠的降噪功能，并符合相关的安全和质量标准。
2、通常降噪耳机在降噪调试过程中需要通过串口连接设备调试、调整降噪效果，调整好后，盖上耳机盖打胶密封。调试降噪状态要求耳机处于临时密封状态以保证调试后的降噪耳机与实际使用状态能达到相同的降噪效果。现有技术针对调整降噪耳机性能的临时密闭方案主要有：(1)采用简易的pom治具，采用嵌合密封的方式；(2)制作分体的软硅胶，分别将上述软硅胶封堵在需要密封的对应形状的耳机孔上；(3)使用粘性材料进行封堵，例如使用粘土或橡皮泥等将耳机上的通孔进行密封。
3、采用上述临时密封方案容易产生下列问题：
4、(1)简易的pom治具容易造成治具与本体不能密切配合，出现安装过松或过紧的情况，如果安装过紧，pom治具相对于耳机孔过大，员工操作费力，调试插针无法伸入调试插孔，出现接触不良、无法调试的情况，如果安装过松，pom治具相对于耳机孔过小，则pom治具容易脱落，安装不稳固，此时需要再增加胶带固定，增加拆装测试的工作量，上述简易治具安装的方式密封不够严密，对降噪调试影响较大。
5、(2)分体软硅胶的密闭方案，当有多个耳机孔需要单独密闭时，需要人工单个操作，分别安装分体软硅胶，同时测试完成后需
6、(3)使用粘性材料堵孔的方式，一方面操作起来非常复杂，比采用分体软硅胶的密闭方式更为复杂，另一方面受人为因素影响较大，密闭非常不稳定，经常出现封堵不严需要重新操作的情况，需要重复作业，浪费时间，效率较低。
技术实现思路
1、为克服现有技术的上述缺陷，本技术的目的在于提供一种用于降噪耳机的降噪调试结构，以实现降噪耳机在降噪调试中操作方便、紧密密封，提高装配效率。
2、为此，本技术采用如下技术方案：
3、一种降噪调试结构，应用于降噪耳机的降噪调试中，所述降噪调试结构包括主体盖、调试接口和多个密封件，所述主体盖包括手柄，所述手柄设于主体盖相对降噪耳机的外侧，所述调试接口与降噪耳机的调试插孔对应设置，多个密封件连接于主体盖朝向降噪耳机的一侧，多个密封件分别与降噪耳机壳体上的通孔对应设置，所述多个密封件为弹性材料，以在降噪调试时封闭降噪耳机壳体的通孔形成密闭空间。
4、进一步的，所述主体盖对应多个密封件处分别一体成型有延伸部，所述多个密封件分别设有容纳所述延伸部的空腔，所述延伸部延伸至所述多个密封件高度的1/2至2/3处，实现密封件在装配时变形以便于安装，所述主体盖设有环绕所述延伸部根部的凹槽，所述密封件设置有容纳固定于所述凹槽内的上凸缘。
5、进一步的，所述调试接口包括调试针座，以及分别凸出于调试针座两端的调试插针；所述主体盖上设有与调试针座适配的安装孔，所述调试接口经所述安装孔贯穿安装于主体盖上；所述主体盖内侧围绕安装孔设置的延伸部为第一延伸部，与所述第一延伸部对应设置的密封件为第一密封件，所述第一密封件插入端顶部为开口设置或设有供调试插针通过的针孔。
6、进一步的，所述手柄和所述主体盖为透明硬塑料一体成型，以便于观察和装配。
7、进一步的，所述透明硬塑料为pc硬塑料。
8、进一步的，所述多个密封件还包括第二密封件和第三密封件，所述第二密封件用于封闭降噪耳机壳体测试点处的通孔，所述第三密封件用于封闭降噪耳机壳体定位部处的通孔。
9、进一步的，所述多个密封件的上凸缘于顶部内侧和/或外侧设有第一类圆管卡口，所述凹槽内设有与所述第一类圆管卡口适配的微型圆槽，所述多个密封件通过所述上凸缘弹性嵌入主体盖相应的凹槽中，且所述第一类圆管卡口弹性卡入所述微型圆槽内，保证密封件与主体盖之间连接紧密、充分密封，同时保证密封件不易脱落。
10、进一步的，所述第二密封件和第三密封件于外侧中部区域还设有第二类圆管卡口，当所述多个密封件弹性卡入降噪耳机壳体上的对应通孔中时，所述第二类圆管卡口与通孔内侧的壳体凸缘抵接，保证密封件与壳体之间连接紧密、充分密封，同时保证密封件不易脱落。
11、进一步的，所述第二密封件和第三密封件插入端的外侧面倾斜设置，便于密封件的安装定位和装配。
12、进一步的，所述第一密封件外侧中部区域设有第二类圆管卡口，且插入端的外侧面呈倾斜设置。
13、本技术的有益效果为：
14、(1)本技术通过将所有密封件全部设置于主体盖上，实现通过操作手柄和主体盖，同时将多个密封件安装于降噪耳机或从降噪耳机拆除，以完成降噪调试功能。不需要分别对单个密封件进行单独操作，降低了操作复杂度和拆装成本，也避免了因为注意力不集中等原因造成漏装或漏拆的情况，提高了装配效率。
15、(2)本技术本体盖一体成型有延伸部，用于在密封件向降噪耳机按压过程中提供压力，便于密封件压入降噪耳机的通孔中，同时延伸部延伸至密封件高度的1/2至2/3，以便于密封件进行弹性变形，避免空间受限无法弹性变形的情况。
16、(3)密封件上设置的第一类圆管卡口采用360°内嵌工艺，使密封件嵌入到主盖体中，防止松动和脱离。同时保证了密封件与主盖体连接处的密闭性，保证了降噪耳机调试过程与降噪耳机实际使用过程相同的密闭效果，降噪调试效果更佳。
17、(4)主体盖采用透明材料，可直接观察线束位置，方便密封件的对位和安装，便于提高装配效率。
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1.一种降噪调试结构(2)，应用于降噪耳机(1)的降噪调试中，其特征在于：所述降噪调试结构(2)包括主体盖(22)、调试接口(23)和多个密封件(24)，所述主体盖(22)包括手柄(21)，手柄(21)设于主体盖(22)的外侧，所述调试接口(23)与待调试降噪耳机(1)的调试插孔(121)对应设置，所述多个密封件(24)连接于主体盖(22)朝向待调试降噪耳机(1)的一侧，多个密封件(24)分别与待调试降噪耳机壳体(11)上的通孔对应设置，所述多个密封件(24)为弹性材料。
2.根据权利要求1所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述主体盖(22)对应多个密封件(24)处分别一体成型有延伸部(221)，所述多个密封件(24)分别设有容纳所述延伸部(221)的空腔(2424)，所述延伸部(221)延伸至所述多个密封件(24)高度的1/2至2/3处，所述主体盖(22)设有环绕所述延伸部根部的凹槽(25)，所述密封件(24)设置有容纳固定于所述凹槽(25)内的上凸缘(2421)。
3.根据权利要求2所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述调试接口(23)包括调试
4.根据权利要求1所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述手柄(21)和所述主体盖(22)为透明硬塑料一体成型。
5.根据权利要求4所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述透明硬塑料为PC硬塑料。
6.根据权利要求3所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述多个密封件(24)还包括第二密封件(242)和第三密封件(243)。
7.根据权利要求2、3或6所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述多个密封件(24)的上凸缘(2421)于顶部内侧和/或外侧设有第一类圆管卡口(2422)，所述凹槽(25)内设有与所述第一类圆管卡口(2422)适配的微型圆槽(251)。
8.根据权利要求6所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述第二密封件(242)和第三密封件(243)于外侧中部区域设有第二类圆管卡口(2423)。
9.根据权利要求8所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述第二密封件(242)和第三密封件(243)插入端的外侧面呈倾斜设置。
10.根据权利要求3所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述第一密封件(241)外侧中部区域设有第二类圆管卡口(2423)，且插入端的外侧面呈倾斜设置。
...【技术特征摘要】
1.一种降噪调试结构(2)，应用于降噪耳机(1)的降噪调试中，其特征在于：所述降噪调试结构(2)包括主体盖(22)、调试接口(23)和多个密封件(24)，所述主体盖(22)包括手柄(21)，手柄(21)设于主体盖(22)的外侧，所述调试接口(23)与待调试降噪耳机(1)的调试插孔(121)对应设置，所述多个密封件(24)连接于主体盖(22)朝向待调试降噪耳机(1)的一侧，多个密封件(24)分别与待调试降噪耳机壳体(11)上的通孔对应设置，所述多个密封件(24)为弹性材料。
2.根据权利要求1所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述主体盖(22)对应多个密封件(24)处分别一体成型有延伸部(221)，所述多个密封件(24)分别设有容纳所述延伸部(221)的空腔(2424)，所述延伸部(221)延伸至所述多个密封件(24)高度的1/2至2/3处，所述主体盖(22)设有环绕所述延伸部根部的凹槽(25)，所述密封件(24)设置有容纳固定于所述凹槽(25)内的上凸缘(2421)。
3.根据权利要求2所述的降噪调试结构(2)，其特征在于，所述调试接口(23)包括调试针座，以及分别凸出于调试针座两端的调试插针；所述主体盖(22)上设有与调试针座适配的安装孔，所述调试接口(23)经所述安装孔贯穿安装于主体盖(22)上；所述主体盖(22)内侧围绕安装孔设置的延伸部为第一延伸部，与所述第一延...
【专利技术属性】
技术研发人员：王群浩，鵜沢茂，谈淑琼，
申请(专利权)人：杭州鐵三角科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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