【技术实现步骤摘要】
本申请涉及图像处理领域，特别是涉及一种基于自适应矩形分块的demura数据处理方法及显示装置。
技术介绍
1、显示屏幕的发光单元的相关参数在生产制造过程中会存在偏离设计值从而导致发光亮度和理想值存在偏离，进而造成显示效果恶化。这种生产制造导致的显示缺陷，其主要表现显示屏的显示亮度偏离设定值，从而损坏画面的正确显示的现象，称为mura。mura的存在会使得显示屏的显示质量下降从而导致产品良率降低。因此在显示屏的生产过程中会量化这种偏离，然后利用demura(mura消除)方法提取显示面板的亮度，计算补偿数据，对显示屏生产中出现的mura缺陷进行外部补偿，减轻或消除mura缺陷，提升产品的显示效果和良率。例如计算得到每个模块的mura补偿值并存储于外部存储单元中，在显示阶段，从存储单元中读取各个模块的mura补偿值，进行像素补偿。对此，由于模块数量较多，计算得到所有模块的补偿数据的存储信息量很大，则对存储单元等存储容量的要求较大，也不利于改善像素补偿的实时性。
2、常用的demura方法是将显示面板的有效显示区域固定地分割为多个模块，计算得到每个模块的mura补偿值并存储于外部存储单元中。然后，在显示阶段，从存储单元中读取各个模块的mura补偿值，进行像素补偿。这个种固定分割模块的方法会产生巨量信息存储的要求。也有基于宏块的概念对显示面板进行划分，并用区域内的像素亮度平均值作为该区域的所有像素的亮度值，例如专利cn 113963663 a。这种方法虽然在空间上节省了空间，但损失了像素mura补偿值的精度，从而一定程度上降
技术实现思路
1、为了解决以上技术问题，本专利技术提供了一种基于自适应矩形分块的demura数据处理方法及显示装置。
2、一种基于自适应矩形分块的demura数据处理方法，包括：
3、将显示面板的像素单元按照mura补偿值划分为若干个矩形区域，其中同一矩形区域的像素单元的mura补偿值在设定的范围内；
4、获得该矩形区域的位置信息、矩形区域的mura补偿值，并存储。
5、另外还提供了一种利用上述demura数据处理方法的显示装置。
6、本专利技术的优点在于：
7、1.基于显示器的mura区域的连续性特性，能够用相对小地模块数量来对显示屏的mura区域进行量化，从而减小了记录demura信息的存储的单元的存储容量要求。
8、2.自适应性。当mura补偿值为一个点数据，也就是阈值=0时，该矩形区域的像素单元的mura补偿值相同，则demura数据处理方法是无损压缩，不损失mura补偿值的数据精度。亦可根据实际需求对阈值进行调整，使得最终分块的大小和存储满足实际精度要求或存储要求。
9、3.矩形分块方正规则，便于使用少量数据定义区域，节省存储空间。以矩形的左上点位置坐标，以及矩形的长和宽即可定义该矩形区域位置。而不需要记录每个点的mura补偿值。
10、4.针对显示系统逐行扫描显示的特征，方便读取mura补偿值时进行映射与匹配，为后期解压缩该数据时的优化算法提供了基础。因为该算法基于自适应矩形进行分块，保存有每个矩形左上点的位置信息，十分有利于基于位置信息的排序与定位。
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1.一种基于自适应矩形分块的Demura数据处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的Demura数据处理方法，其特征在于，所述矩形区域的位置信息包括矩形区域的一个顶点的坐标及矩形区域的长和宽。
3.如权利要求2所述的Demura数据处理方法，其特征在于，所述找到符合Mura补偿值要求的面积最大的矩形区域为：将区域内所有符合Mura补偿值要求的矩形排列组合进行遍历，找出其中面积最大的矩形。
4.如权利要求2所述的Demura数据处理方法，其特征在于，所述找到符合Mura补偿值要求的面积最大的矩形区域包括步骤：
5.如权利要求4所述的Demura数据处理方法，其特征在于，所述在第二个维度上对已计数的结果进行归约为针对第一维度的计数结果，对每一个元素，以该元素作为高度，向两侧扩展。
6.如权利要求1所述的Demura数据处理方法，其特征在于，还包括步骤：根据显示面板的显示精度调整阈值或根据存储空间进行阈值自适应调整，调整得到符合存储容量的最小值，继续进行划分和存储步骤。
7.如权利要求1所述的Demur
8.一种利用权利要求1至7任意一项的所述Demura数据处理方法的显示装置。
...【技术特征摘要】
1.一种基于自适应矩形分块的demura数据处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的demura数据处理方法，其特征在于，所述矩形区域的位置信息包括矩形区域的一个顶点的坐标及矩形区域的长和宽。
3.如权利要求2所述的demura数据处理方法，其特征在于，所述找到符合mura补偿值要求的面积最大的矩形区域为：将区域内所有符合mura补偿值要求的矩形排列组合进行遍历，找出其中面积最大的矩形。
4.如权利要求2所述的demura数据处理方法，其特征在于，所述找到符合mura补偿值要求的面积最大的矩形区域包括步骤：
5.如权利要求4所述的demura数据处...
【专利技术属性】
技术研发人员：高蓉，覃正才，
申请(专利权)人：瑞旦微电子技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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