一种用于校准扫描轨迹的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种结合长短期记忆网络的扫描轨迹校准方法及相应装置，旨在实现精确的扫描轨迹校准，以提高成像质量。方法包括：首先定义多种扫描轨迹模型并生成对应的轨迹坐标；其次，对各种可能的干扰因素建模并应用于生成的原始轨迹中；然后，将干扰后的轨迹与原始轨迹分别组成训练集和测试集，用于网络训练；接着，采用长短期记忆模型构建轨迹校准网络，并进行训练，以优化轨迹校准效果；最后，将待校准的轨迹数据通过训练好的模型进行处理，得到校准后的轨迹坐标。本发明专利技术通过这种方法，实现了不依赖于实际采集数据的轨迹校准，能够有效处理多种干扰因素，并适用于多种扫描轨迹，从而提高了成像系统的精度和适应性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据与信号处理，尤其涉及一种用于校准扫描轨迹的方法及装置。

技术介绍

1、在医学和工程等众多领域，利用微小光纤进行精确成像已经成为重要技术之一。该技术通过特殊的驱动方式(如压电陶瓷，一种能在电压应用下变形的材料)来精准控制光纤按照设定轨迹进行扫描，从而实现特定区域的成像。这类方法可以轻松进入狭小的空间进行成像，因此在小型内窥镜等体积较小的设备中尤为常见。然而，在光纤扫描过程中，由于光纤在扫描过程中的轨迹可能会因为材料本身的特性(如压电陶瓷的迟滞现象)、外部环境(比如温度变化)等因素的干扰而产生偏差，这些偏差会导致最终采集图像的模糊或扭曲。

2、针对轨迹偏移导致的成像问题，目前已经提出的多种解决方法，可以主要分为三类，分别是：基于位置敏感探测器(psd)的校准方法，基于压电感应的方法以及基于深度学习的方法。基于位置敏感探测器是最常用的校准方法，通过将psd安装到成像系统中，监测并记录光纤在扫描过程中的实际运动轨迹，然后根据这些数据调整扫描设备的控制参数，从而实现扫描轨迹的校准。yeoh[1]等人通过在探头附近设计电路来监测压电管的应本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤a中构建扫描轨迹模型后生成原始扫描轨迹的具体步骤如下：

3.根据权利要求2所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤b中确定存在的干扰因素，并对确定好的干扰因素进行建模的具体步骤如下：

4.根据权利要求1至3任意一项所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤c中划分为测试集和训练集的具体步骤如下：

5.根据权利要求4所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤d中利用长短期记忆模型构建轨迹校准...

【技术特征摘要】

1.一种用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤a中构建扫描轨迹模型后生成原始扫描轨迹的具体步骤如下：

3.根据权利要求2所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤b中确定存在的干扰因素，并对确定好的干扰因素进行建模的具体步骤如下：

4.根据权利要求1至3任意一项所述的用于校准扫描轨迹的方法，其特征在于：所述步骤c中划分为测试集和训练集的具体步骤如下：

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵鹏鹏，李思诚，
申请(专利权)人：浙江大学滨江研究院，
类型：发明
国别省市：