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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体制造设备,具体涉及一种半导体处理设备。
技术介绍
1、经过刻蚀和灰化的晶圆一般都需要进行预清洗,具体可以采用类干法等离子体刻蚀技术作用于已经刻蚀好的介质层上,以去除刻蚀和灰化等工艺留下的污染物。
2、现有的预清洗设备一般是环绕工艺腔室侧壁设置线圈,并在线圈上加载射频功率,线圈将射频功率转化为电磁能量以激发工艺气体形成等离子体(包括离子和自由基),等离子体中的自由基与介质层上的污染物反应以去除污染物从而达到清洗的效果。
3、由于上述磁场布置方式,工艺腔室中心区域的等离子体密度要大于工艺腔室边缘的等离子体密度,从而使得清洗不均匀,甚至会发生晶圆中心区域出现损伤(过清洗)边缘却清洗不足的情况。
技术实现思路
1、针对上述技术问题,本申请提供一种半导体处理设备,可以改善相关技术中等离子体分布不均的问题。
2、为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种半导体处理设备,包括:
3、腔室本体,包括相互连通的上腔体和下腔体,所述上腔体支撑在所述下腔体上;
4、承载装置,设置于所述下腔体中,用于承载晶圆;
5、线圈组件,环绕所述上腔体设置,用于将通入所述上腔体内的工艺气体激发形成等离子体;
6、环形磁性组件,环绕所述线圈组件设置,其中,所述环形磁性组件的两个磁极沿竖直方向设置;
7、旋转磁铁组件,设置于所述上腔体的上方,并绕所述上腔体的中心轴旋转,所述旋转磁铁组件的两个磁极沿竖直方向设置。<
...【技术保护点】
1.一种半导体处理设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的半导体处理设备,其特征在于,所述环形磁性组件包括多个磁铁,所述磁铁环绕所述线圈组件均匀分布,并且所述磁铁的两个磁极沿竖直方向设置。
3.根据权利要求2所述的半导体处理设备,其特征在于,所述磁铁为永磁铁或者电磁铁。
4.根据权利要求3所述的半导体处理设备,其特征在于,所述永磁铁包括:
5.根据权利要求3所述的半导体处理设备,其特征在于,还包括支撑在所述下腔体上的支架,所述线圈组件设置在所述支架上;
6.根据权利要求1所述的半导体处理设备,其特征在于,所述旋转磁铁组件包括:
7.根据权利要求6所述的半导体处理设备,其特征在于,所述旋转磁铁组件还包括:
8.根据权利要求7所述的半导体处理设备,其特征在于,所述配重件中的一个或全部为第二旋转磁铁,其中,所述第二旋转磁铁的两个磁极沿竖直方向设置。
9.根据权利要求1-8所述的半导体处理设备,其特征在于,还包括设置于所述上腔体和所述下腔体之间的筛网,所述上腔体和所述下腔体通过所述筛
10.根据权利要求9所述的半导体处理设备,其特征在于,所述下腔体包括相对设置的顶壁、第一底壁以及连接所述顶壁和所述第一底壁的第一环形侧壁,所述顶壁设有开口;
...【技术特征摘要】
1.一种半导体处理设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的半导体处理设备,其特征在于,所述环形磁性组件包括多个磁铁,所述磁铁环绕所述线圈组件均匀分布,并且所述磁铁的两个磁极沿竖直方向设置。
3.根据权利要求2所述的半导体处理设备,其特征在于,所述磁铁为永磁铁或者电磁铁。
4.根据权利要求3所述的半导体处理设备,其特征在于,所述永磁铁包括:
5.根据权利要求3所述的半导体处理设备,其特征在于,还包括支撑在所述下腔体上的支架,所述线圈组件设置在所述支架上;
6.根据权利要求1所述的半导体处理设备,其特征在于,所述旋转磁铁组件包括:
【专利技术属性】
技术研发人员:师帅涛,
申请(专利权)人:北京北方华创微电子装备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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