【技术实现步骤摘要】
本技术涉及os测试，具体为一种集成电路通用测试电路装置。
技术介绍
1、o/s test是测试ic芯片内部ground pin(接地pin)与其他pin脚之间线路有无短路，断路问题。将ic、测试机、分选机连接起来，形成一个通路，通过测量ground pin到其他pin脚之间的电压值，判断ic内部线路有无短路，断路，影响到后续的功能测试。
2、例如so系列带管脚的产品的测试(例如:sop,tssop8l,mssop等)。
3、目前，ic package(产品封装形式)种类较多，同一类型的package(产品整体宽度尺寸一样)，具有pin脚间距相等，pin脚个数不同的特点。
4、需要针对同类型，不同pin脚数量ic，需要分别开发制作对应的os测试板。测试板pcb需重新布局以满足测试需求，成本较高，导致成本的浪费；此外，在测试作业过程中，由于os测试板不具有通用性，作业员频繁更换os测试板，作业效率较低。
5、传统测试板的pin脚数与ic pin脚数必须一一对应，才可完成测试。如果ic脚数＞测试板pin脚数，ic部分pin脚是悬空状态，无法与机台连通，测试不能进行。如果ic脚数＜测试板pin脚数，测试板上部分线路一直处于导通状态，会干扰旁边pin o/s测试结果。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路通用测试电路装置，解决了os测试板适用性较差且测试效率低的问题。
4、为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：集成电路通用测试电路装置，包括：
5、pcb板，所述pcb板为长条状；
6、设置在pcb板表面一侧的pin引脚，所述pin引脚设置有若干个，且pin引脚呈两行平行排列，相邻所述pin引脚的间距与待测so产品的引脚间距相等，两行所述pin引脚的行间距与待测so产品的两排引脚之间的间距相等；
7、内引线和外部连接接口，所述内引线与pin引脚数量相同，所述内引线的一端与对应的pin引脚连接、另一端与外部连接接口连接，所述内引线的线路上连接有继电开关。
8、优选的，所述pcb板的边缘处开设有定位孔。
9、优选的，所述外部连接接口固定连接在pcb板外表面上。
10、优选的，所述pcb板上设置有socket座安装孔，所述socket座安装孔位于pin引脚的外围，且pcb板上通过socket座安装孔安装有socket座。
11、优选的，所述外部连接接口为检测传输电缆连接接口。
12、(三)有益效果
13、本技术提供了一种集成电路通用测试电路装置，与现有技术相比，至少具备以下有益效果：
14、本方案的测试板的pin引脚数量≥现有package pin脚数的最大值，新型测试板的pin引脚成两排平行排列，可与so产品的两排pin脚进行电性连接，可以向下兼容pin引脚间距相等、pin引脚个数不同的package，节省开发成本，例如：sop7l/8l/14l/16l等。每条线路内设置继电开关(relay)，通过relay实现o/s通道的开/闭(relay依据程式指令工作，无需修改硬件)。
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1.集成电路通用测试电路装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述PCB板(1)的边缘处开设有定位孔(7)。
3.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述外部连接接口(2)固定连接在PCB板(1)外表面上。
4.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述PCB板(1)上设置有SOCKET座安装孔(6)，所述SOCKET座安装孔(6)位于Pin引脚(3)的外围，且PCB板(1)上通过SOCKET座安装孔(6)安装有SOCKET座(8)。
5.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述外部连接接口(2)为检测传输电缆连接接口。
【技术特征摘要】
1.集成电路通用测试电路装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述pcb板(1)的边缘处开设有定位孔(7)。
3.根据权利要求1所述的集成电路通用测试电路装置，其特征在于：所述外部连接接口(2)固定连接在pcb板(1)外表面上。
4.根据权利要求1所述的集成...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪海潮，林峰，姜龙，唐欣，
申请(专利权)人：日月新半导体昆山有限公司，
类型：新型
国别省市：
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