当前位置: 首页 > 专利查询>复旦大学专利>正文

一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法技术

技术编号:41242165 阅读:13 留言:0更新日期:2024-05-09 23:54
本发明专利技术属于光学检测技术领域,具体为一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法。本发明专利技术方法的具体步骤如下:在条纹投影轮廓术中,采用多频相移方法计算得到调制度信息后,使用混合高斯模型对调制度的概率分布进行建模,依据建模结果、相位信息和领域信息将像素分为有效像素和无效像素两类,实现无效像素的识别和去除。本发明专利技术的优点在于,本发明专利技术将混合高斯模型与条纹投影轮廓术的基本原理相结合,在不同的测量场景下可以自适应地实现无效点的识别和去除,无需手动调整参数,提高了条纹投影轮廓术的三维重建质量和计算效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学检测,具体为一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法


技术介绍

1、条纹投影轮廓术以其高分辨率和低成本的特点被广泛应用于生物医学、材料科学、电子检测等领域。在实践中,多步相移和多频相位展开是条纹投影轮廓术中使用的典型算法。在条纹投影轮廓术测量过程中,一系列标准的正弦或余弦灰度分布条纹被投影到被测量物体上,并且被物体表面调制的变形条纹被相机捕获。然后通过相位求解和三维重建算法对变形条纹进行处理,以恢复三维形状。然而,在实际测量中,诸如测量背景和由物体的遮挡引起的阴影之类的情况是不可避免的,这将导致在捕获的图像中存在大量无效像素。这些像素的重建将在点云中产生大量分散的点,将会严重影响重建数据的质量。为了提高测量的准确性,有必要识别并去除无效区域中的像素。为提高无效像素的识别精度和计算效率,开发一种自适应、方便、高精度的无效点识别和去除方法是必要的。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术的目的是提供一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法;本专利技术将混合高斯模型本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,具体步骤如下:

2.根据权利要求1所述的基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,步骤(1)中,相机采集到的图像灰度值表示为:

3.根据权利要求1所述的基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,步骤(3)中,EM迭代算法使得公式(6)最大化的具体方法如下:

4.根据权利要求3所述的基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,步骤(3)中,使用Ostu算法确定初始化参数θ,Otsu算法的目的是寻找一个调制度阈值BH将所有像素分为两类:C...

【技术特征摘要】

1.一种基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,具体步骤如下:

2.根据权利要求1所述的基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,步骤(1)中,相机采集到的图像灰度值表示为:

3.根据权利要求1所述的基于高斯混合模型的条纹投影轮廓术无效点去除方法,其特征在于,步骤(3)中,em迭代算法使得公式(6)最大化的具体方法如下:

4.根据权利要求3所述的基于高斯混合模型的条纹...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔令豹宋慧鑫
申请(专利权)人:复旦大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1