仪器温度测量方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种仪器温度测量方法、装置及可读存储介质。其中，方法包括：获取仪器机壳的内部温度T<subgt;1</subgt;和外部温度T<subgt;2</subgt;；根据仪器机壳参数及所述内部温度T<subgt;1</subgt;，获得仪器机壳的理论温度T<subgt;3</subgt;；根据所述仪器机壳参数、内部温度T<subgt;1</subgt;、外部温度T<subgt;2</subgt;以及理论温度T<subgt;3</subgt;，获得仪器机壳向外散发的热量值Q；根据仪器机壳向外散发的热量值Q，获得环境温度的理论值T<subgt;0</subgt;；根据环境温度的理论值T<subgt;0</subgt;获得仪器环境温度值。本公开通过引入仪器机壳相关参数，实现了对仪器环境温度的精准测量。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及仪器环境温度领域，具体涉及一种仪器温度测量方法、装置及可读存储介质。

技术介绍

1、设备仪器在运行过程中，元器件和电路板均会产生大量的热量，这些热量会通过辐射或者热传导到达环境温度传感器周围，会严重影响环境温度传感器的准确测量。

技术实现思路

1、本公开提供了一种仪器温度测量方法、装置及可读存储介质，可以解决现有技术仪器环境温度测量不准确的技术问题。

2、第一方面，本公开实施例提供了一种仪器温度测量方法，包括：

3、获取仪器机壳的内部温度t1和外部温度t2；

4、根据仪器机壳参数及内部温度t1，获得仪器机壳的理论温度t3；

5、根据仪器机壳参数、内部温度t1、外部温度t2以及理论温度t3，获得仪器机壳向外散发的热量值q；

6、根据仪器机壳向外散发的热量值q，获得环境温度的理论值t0；

7、根据环境温度的理论值t0获得仪器环境温度。

8、进一步地，一实施例中，根据仪器机壳参数及内部温度t1，获得仪器机壳的理论温度t3，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种仪器温度测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述根据仪器机壳参数及所述内部温度T1，获得仪器机壳的理论温度T3，包括：

3.如权利要求2所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述仪器机壳的理论温度T3根据公式R＝(T1-T3)/P获得。

4.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述仪器机壳向外散发的热量值Q根据公式Q＝c*m*{(T1-T2)-(T1-T3)}/2获得，其中，c为所述仪器机壳的比热容，m为所述仪器机壳的质量。

5.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种仪器温度测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述根据仪器机壳参数及所述内部温度t1，获得仪器机壳的理论温度t3，包括：

3.如权利要求2所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述仪器机壳的理论温度t3根据公式r＝(t1-t3)/p获得。

4.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述仪器机壳向外散发的热量值q根据公式q＝c*m*{(t1-t2)-(t1-t3)}/2获得，其中，c为所述仪器机壳的比热容，m为所述仪器机壳的质量。

5.如权利要求1所述的仪器温度测量方法，其特征在于，所述环境温度的理论值t0根据斯特藩-玻尔兹曼定律获得。

6.如权利要求1所述的仪器温度测...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾义鹏，孔令伟，曹荣岗，周璐，陈鹏涛，赵庆俊，丁宝艳，侯玉铎，刘强，张玉静，
申请(专利权)人：青岛明德环保仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：