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用于绝缘件性能测试的调试方法、装置及终端制造方法及图纸

技术编号:41227876 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-09 23:45
本发明专利技术提供一种用于绝缘件性能测试的调试方法、装置及终端。用于电磁屏蔽试验系统,检测系统包括溶液喷射装置、高光谱成像仪和红外成像器;调试方法包括:在溶液喷射装置对绝缘测试件执行喷涂操作后,获取高光谱成像数据和红外成像数据;根据高光谱成像数据和红外成像数据确定涂层分布不均匀时,根据高光谱成像数据和红外成像数据确定喷涂控制参数;根据喷涂控制参数控制溶液喷射装置。本发明专利技术综合高光谱成像数据和红外成像数据确定涂层分布不均匀情况,对溶液喷射装置做出自动控制,提升控制效率和涂层的均匀度,提升污秽耐受测试结果的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电气测试,尤其涉及一种用于绝缘件性能测试的调试方法、装置及终端


技术介绍

1、高压开关柜绝缘件的绝缘性能对其设备的正常运行具有至关重要的影响。开关柜的绝缘质量不仅关乎电力系统的稳定运行,更是保障操作人员安全的关键因素。因此,对于开关柜绝缘件的进厂检验显得尤为重要。目前,污秽耐受测试过程中,主要包括盐雾法和固体层法,上述方法都是将不溶污秽粒子与去离子水混合配制成溶液,再利用喷射装置,将溶液喷涂在绝缘测试件表面,干燥后形成干燥的污层。

2、在实现本申请实施例过程中,发现相关技术至少存在以下问题:

3、通过多次喷涂的方式,难以满足不同类型绝缘测试件表面能够均匀附着污层,从而影响测量精确度。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种用于绝缘件性能测试的调试方法、装置及终端,以解决通过多次喷涂的方式,难以满足不同类型绝缘测试件表面能够均匀附着污层,从而影响测量精确度的问题。

2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种用于绝缘件性能测试的调试方法,用于电磁屏蔽试验系统,所述检测系统包括溶液喷射装置、高光谱成像仪和红外成像器;所述调试方法包括:

3、在所述溶液喷射装置对所述绝缘测试件执行喷涂操作后,获取高光谱成像数据和红外成像数据;

4、根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定所述涂层分布不均匀时,根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数;

5、根据所述喷涂控制参数控制所述溶液喷射装置。

6、在一种可能的实现方式中,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,包括:

7、根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据,确定涂层不均匀对应的区域分布情况和各区域涂层厚度;

8、根据所述区域分布情况和各区域涂层厚度,确定溶液喷射装置的移动路线;

9、根据所述移动路线确定喷涂装置移动控制参数。

10、在一种可能的实现方式中,根据所述区域分布情况和各区域涂层厚度,确定溶液喷射装置的移动路线,包括:

11、对各区域涂层厚度按照由小到大的顺序进行排序;

12、根据区域涂层厚度最大值对应区域之外的区域,规划最短移动路线。

13、在一种可能的实现方式中,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据,确定涂层不均匀对应的区域分布情况和各区域涂层厚度,包括:

14、根据所述高光谱成像数据和预设的拟合线性方程,确定区域分布情况和各区域涂层的第一厚度;

15、根据所述红外成像数据获取温度分布图,根据所述温度分布图和预设的图像识别模型,确定区域分布情况和各区域涂层的第二厚度;

16、确定各区域涂层对应的第一厚度和第二厚度的均值作为该区域涂层厚度。

17、在一种可能的实现方式中,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,还包括:

18、根据各区域涂层厚度与设定厚度之间的差值确定喷涂时间、喷射速率和搅拌速度中的一项或多项。

19、在一种可能的实现方式中,在所述溶液喷射装置对所述绝缘测试件执行喷涂操作之前,还包括:

20、获取绝缘测试件信息,并根据所述绝缘测试件信息确定溶液喷射装置的目标控制策略;

21、根据所述目标控制策略控制所述溶液喷射装置,执行初步的喷涂操作;其中,所述目标控制策略包括溶液喷射装置与所述绝缘测试件之间的距离、喷射速率和搅拌速度中的一项或多项。

22、在一种可能的实现方式中,所述根据所述绝缘测试件信息确定溶液喷射装置的目标控制策略,包括:

23、根据绝缘测试件类型和/或目标喷涂面的面积确定溶液喷射装置的目标控制策略。

24、第二方面,本专利技术实施例提供了一种用于绝缘件性能测试的调试装置,用于电磁屏蔽试验系统,所述检测系统包括独立的测试空间和控制空间;所述调试装置包括:

25、获取模块,用于在所述溶液喷射装置对所述绝缘测试件执行喷涂操作后,获取高光谱成像数据和红外成像数据;

26、确定模块,用于根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定所述涂层分布不均匀时,根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数;

27、控制模块,用于根据所述喷涂控制参数控制所述溶液喷射装置。

28、在一种可能的实现方式中,所述确定模块,具体用于:

29、根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据,确定涂层不均匀对应的区域分布情况和各区域涂层厚度;

30、根据所述区域分布情况和各区域涂层厚度,确定溶液喷射装置的移动路线;

31、根据所述移动路线确定喷涂装置移动控制参数。

32、在一种可能的实现方式中,所述确定模块,具体用于:

33、对各区域涂层厚度按照由小到大的顺序进行排序;

34、根据区域涂层厚度最大值对应区域之外的区域,规划最短移动路线。

35、在一种可能的实现方式中,所述确定模块,具体用于:

36、根据所述高光谱成像数据和预设的拟合线性方程,确定区域分布情况和各区域涂层的第一厚度;

37、根据所述红外成像数据获取温度分布图,根据所述温度分布图和预设的图像识别模型,确定区域分布情况和各区域涂层的第二厚度;

38、确定各区域涂层对应的第一厚度和第二厚度的均值作为该区域涂层厚度。在一种可能的实现方式中,所述确定模块,还用于:根据各区域涂层厚度与设定厚度之间的差值确定喷涂时间、喷射速率和搅拌速度中的一项或多项。

39、在一种可能的实现方式中,所述获取模块,还用于在所述溶液喷射装置对所述绝缘测试件执行喷涂操作之前,获取绝缘测试件信息,并根据所述绝缘测试件信息确定溶液喷射装置的目标控制策略;

40、所述控制模块,还用于根据所述目标控制策略控制所述溶液喷射装置,执行初步的喷涂操作;其中,所述目标控制策略包括溶液喷射装置与所述绝缘测试件之间的距离、喷射速率和搅拌速度中的一项或多项。

41、在一种可能的实现方式中,所述获取模块,具体用于:

42、根据绝缘测试件类型和/或目标喷涂面的面积确定溶液喷射装置的目标控制策略。

43、第三方面,本专利技术实施例提供了一种终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤。

44、第四方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤。

45、本专利技术实施例提供一种用于绝缘件性能测试的调试方法、装置及终端,通过对绝缘测试件进行溶液喷射装置的喷涂操作后,获取高光谱成像数据和红外成像数据,实现了本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,用于电磁屏蔽试验系统,所述检测系统包括溶液喷射装置、高光谱成像仪和红外成像器;所述调试方法包括:

2.根据权利要求1所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,包括:

3.根据权利要求2所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,根据所述区域分布情况和各区域涂层厚度,确定溶液喷射装置的移动路线,包括:

4.根据权利要求2所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据,确定涂层不均匀对应的区域分布情况和各区域涂层厚度,包括:

5.根据权利要求2至4任一项所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,还包括:

6.根据权利要求1所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,在所述溶液喷射装置对所述绝缘测试件执行喷涂操作之前,还包括:

7.根据权利要求6所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述绝缘测试件信息确定溶液喷射装置的目标控制策略,包括:

8.一种用于绝缘件性能测试的调试装置,其特征在于,用于电磁屏蔽试验系统,所述检测系统包括溶液喷射装置、高光谱成像仪和红外成像器;所述调试装置包括:

9.一种终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上的权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

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【技术特征摘要】

1.一种用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,用于电磁屏蔽试验系统,所述检测系统包括溶液喷射装置、高光谱成像仪和红外成像器;所述调试方法包括:

2.根据权利要求1所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,包括:

3.根据权利要求2所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,根据所述区域分布情况和各区域涂层厚度,确定溶液喷射装置的移动路线,包括:

4.根据权利要求2所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据,确定涂层不均匀对应的区域分布情况和各区域涂层厚度,包括:

5.根据权利要求2至4任一项所述的用于绝缘件性能测试的调试方法,其特征在于,所述根据所述高光谱成像数据和所述红外成像数据确定喷涂控制参数,还包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:董驰杨赛柯李天辉师文通顾朝敏路士杰
申请(专利权)人:国网河北省电力有限公司电力科学研究院
类型:发明
国别省市:

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