【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及非磁性金属板厚度测量，具体是一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法。
技术介绍
1、在工业生产中，厚度是直接影响非磁性金属板后续使用和安全的关键参数。因此，非磁性金属板的厚度测量是至关重要的。目前，普遍采用如下两种方法进行非磁性金属板的厚度测量：第一种方法是人工测量法，即测量人员手持游标卡尺对非磁性金属板进行逐个测量。在实际应用中，此种方法的测量结果受测量人员的经验和技能的影响很大，因此其存在测量准确率低的问题。第二种方法是超声测量法，即利用超声波脉冲反射原理来测量非磁性金属板的厚度。在实际应用中，此种方法的测量结果受环境干扰的影响很大，因此其同样存在测量准确率低的问题。基于此，有必要专利技术一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，以解决现有非磁性金属板厚度测量技术在测量人员的经验和技能及环境干扰的影响下测量准确率低的问题。
技术实现思路
1、本专利技术为了解决现有非磁性金属板厚度测量技术在测量人员的经验和技能及环境干扰的影响下测量准确率低的问题，提供了一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法。
2、本专利技术是采用如下技术方案实现的：
3、一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，该方法是采用如下步骤实现的：
4、步骤一：搭建测量系统；
5、所述测量系统包括双线圈涡流传感器、阻抗分析仪、上位机；所述双线圈涡流传感器包括线圈芯、激励线圈、接收线圈；线圈芯呈竖向设置；激励线圈固定套设于线圈芯的外侧面上端；接收线
6、步骤二：通过上位机对阻抗分析仪的激励频率进行初始设定，阻抗分析仪输出正弦激励信号；正弦激励信号传输至激励线圈，使得接收线圈中感应产生感应信号；感应信号传输至阻抗分析仪，阻抗分析仪根据感应信号测得线圈对的阻抗，并将测量结果传输至上位机，上位机根据测量结果计算出线圈对的阻抗的虚部；
7、步骤三：选取至少三个厚度已知的非磁性金属板，一方面保证各个非磁性金属板的厚度各不相同，另一方面保证各个非磁性金属板的材料相同，然后逐个测量各个非磁性金属板的厚度测量特征值；具体测量步骤如下：
8、步骤a：将待测的非磁性金属板置于双线圈涡流传感器的下方，通过上位机对阻抗分析仪的激励频率进行扫频控制，阻抗分析仪由此测得扫频激励频率下线圈对的阻抗，并将测量结果传输至上位机，上位机根据测量结果计算出扫频激励频率下线圈对的阻抗的虚部；
9、步骤b：上位机根据扫频激励频率下线圈对的阻抗的虚部，计算出扫频激励频率下电感的虚部；具体计算公式如下：
10、
11、式中：im(l)表示电感的虚部；im(z)表示线圈对的阻抗的虚部；ω表示对应激励频率；
12、步骤c：上位机根据扫频激励频率下电感的虚部，采用梯度下降法拟合出电感的虚部与激励频率之间的关系直线，关系直线的斜率即为非磁性金属板的厚度测量特征值；
13、步骤四：上位机将各个非磁性金属板的厚度测量特征值和厚度代入拟合方程，拟合出环境参数；拟合方程表示如下：
14、y＝y0+aecx；
15、式中：y表示非磁性金属板的厚度测量特征值；c表示非磁性金属板的厚度；y0、a、x均表示环境参数；
16、步骤五：选取厚度未知的非磁性金属板，并保证该非磁性金属板的材料与步骤三中各个非磁性金属板的材料相同，然后测量该非磁性金属板的厚度测量特征值；具体测量步骤如下：
17、步骤a：将待测的非磁性金属板置于双线圈涡流传感器的下方，通过上位机对阻抗分析仪的激励频率进行扫频控制，阻抗分析仪由此测得扫频激励频率下线圈对的阻抗，并将测量结果传输至上位机，上位机根据测量结果计算出扫频激励频率下线圈对的阻抗的虚部；
18、步骤b：上位机根据扫频激励频率下线圈对的阻抗的虚部，计算出扫频激励频率下电感的虚部；具体计算公式如下：
19、
20、式中：im(l)表示电感的虚部；im(z)表示线圈对的阻抗的虚部；ω表示对应激励频率；
21、步骤c：上位机根据扫频激励频率下电感的虚部，采用梯度下降法拟合出电感的虚部与激励频率之间的关系直线，关系直线的斜率即为非磁性金属板的厚度测量特征值；
22、步骤六：上位机将该非磁性金属板的厚度测量特征值和环境参数代入测量方程，计算出该非磁性金属板的厚度；测量方程表示如下：
23、y＝y0+aecx；
24、式中：y表示非磁性金属板的厚度测量特征值；c表示非磁性金属板的厚度；y0、a、x均表示环境参数。
25、所述步骤三和步骤五中，扫频范围为4000hz～10000hz，扫频数据点的个数为100，扫频步长为60hz。
26、线圈芯采用由非金属制成的空气芯；激励线圈的内径为0.75mm、外径为3mm、高度为1mm；接收线圈的内径为0.75mm、外径为3mm、高度为1mm；激励线圈与接收线圈之间的距离为1mm。
27、非磁性金属板为铜板或铝板或锌板或钛板。
28、与现有非磁性金属板厚度测量技术相比，本专利技术所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法一方面利用厚度已知的非磁性金属板来拟合环境参数，另一方面采用电感的虚部与激励频率之间的关系直线的斜率作为厚度测量特征值来计算非磁性金属板的厚度，由此具备了如下优点：其一，与人工测量法相比，本专利技术有效消除了测量人员的经验和技能对测量结果造成的影响，由此大幅提高了测量准确率。其二，与超声测量法相比，本专利技术有效消除了环境干扰对测量结果造成的影响，由此大幅提高了测量准确率。
29、本专利技术有效解决了现有非磁性金属板厚度测量技术在测量人员的经验和技能及环境干扰的影响下测量准确率低的问题，适用于非磁性金属板的厚度测量。
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1.一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：该方法是采用如下步骤实现的：
2.根据权利要求1所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：所述步骤三和步骤五中，扫频范围为4000Hz～10000Hz，扫频数据点的个数为100，扫频步长为60Hz。
3.根据权利要求1所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：线圈芯(101)采用由非金属制成的空气芯；激励线圈(102)的内径为0.75mm、外径为3mm、高度为1mm；接收线圈(103)的内径为0.75mm、外径为3mm、高度为1mm；激励线圈(102)与接收线圈(103)之间的距离为1mm。
4.根据权利要求1所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：非磁性金属板(4)为铜板或铝板或锌板或钛板。
【技术特征摘要】
1.一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：该方法是采用如下步骤实现的：
2.根据权利要求1所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在于：所述步骤三和步骤五中，扫频范围为4000hz～10000hz，扫频数据点的个数为100，扫频步长为60hz。
3.根据权利要求1所述的一种基于涡流效应的非磁性金属板厚度测量方法，其特征在...
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