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一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法技术

技术编号:41208560 阅读:20 留言:0更新日期:2024-05-09 23:30
本发明专利技术公开了一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,涉及机构轨迹近似综合领域,包括训练轨迹和目标轨迹求解、轨迹矩阵求解和重合匹配计算;训练轨迹和目标轨迹求解,具体包括确定机构可变参数的变化空间、建立机构的运动学模型、设定可变机构参数增量、建立机构可行解域和求解全解域的训练轨迹,然后利用拟人工作过程逆向求解目标轨迹;轨迹矩阵求解,具体包括轨迹归一化标准处理、网格划分及特征标识、轨迹特征编码和转化为训练轨迹矩阵和目标轨迹矩阵;重合匹配计算,具体包括求解全解域训练轨迹矩阵、以训练轨迹矩阵和目标轨迹矩阵的重合度为目标并计算目标值。本发明专利技术通过与目标轨迹的重合度来判断轨迹的优劣度,可实现全局最优机构解求解。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机构轨迹近似综合领域,具体涉及到一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法


技术介绍

1、末端执行构件的运动轨迹往往是决定机械装备工作性能的关键,参数优化的核心在于轨迹的评价方法。现有机构轨迹综合方法有正向设计和反求设计两种,正向设计通过先建立机构运动学模型,然后进行参数的优化,最后得到一组与目标轨迹高度一致的参数;反求设计是以目标轨迹为约束逆向求解机构的可行解域。不论是正向设计还是反求设计,其核心就是轨迹的评价方法。目前,主要通过拟合或插值的方式求得目标轨迹的关键型值点,再以型值点的接近程度评价轨迹的优劣。轨迹综合涉及复杂非线性方程组求解难题,且未知参数多、耦合性强,往往寻出局部最优解或参数不收敛。


技术实现思路

1、针对现有技术中存在的不足,本专利技术提供了一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,提高了目标轨迹参数寻优的速度,通过对解域内的轨迹进行归一化标准编码,在全解域给出优化目标进行参数的寻优,得出一个与目标轨迹重合度最高的轨迹,该轨迹所对应的参数即为所要找寻的解域内最优机构解

2、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,包括步骤如下:

2.根据权利要求1所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,训练轨迹和目标轨迹求解具体包括如下步骤:

3.根据权利要求1所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,轨迹矩阵求解具体包括如下步骤:

4.根据权利要求3所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,在步骤二、网格划分及特征标识中,网格划分越细,矩阵行列越多,轨迹特征信息越全面。

5.根据权利要求1所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,重合匹配计算具体步骤如下步骤:

【技术特征摘要】

1.一种基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,包括步骤如下:

2.根据权利要求1所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,训练轨迹和目标轨迹求解具体包括如下步骤:

3.根据权利要求1所述的基于轨迹矩阵的机构轨迹综合方法,其特征在于,轨迹矩阵求解具体包...

【专利技术属性】
技术研发人员:周脉乐王桂彬魏兆祥孙昊徐廷波
申请(专利权)人:江苏大学
类型:发明
国别省市:

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