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位置姿势测量系统技术方案

技术编号:41204849 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-07 22:30
本发明专利技术提供一种能够以简单的示教和短的测量时间来正确地测量测量对象物的三维位置姿势的系统。一种位置姿势测量系统,具备:已校准的视觉传感器;位置姿势移动部,其能够移动测量对象物或视觉传感器的三维位置姿势;校准数据存储部;图像处理部,其对测量对象物的摄像图像进行处理;位置姿势测量部,其使用图像处理结果来测量测量对象物的三维位置姿势;摄像位置校正部,其执行至少一次的校正处理,在该校正处理中,使用测量出的三维位置姿势,通过位置姿势移动部使视觉传感器或测量对象物移动之后,依序进行图像处理和三维位置姿势的测量;以及摄像位置校正结束部,其在判定为不结束校正处理的情况下,再次执行校正处理,在判定为结束校正处理的情况下,采用在最后或中途测量出的某一个三维位置姿势来作为在对机器人的控制中使用的三维位置姿势。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及一种位置姿势测量系统


技术介绍

1、以往,由载置在台车等搬送装置上的机器人进行工件的加工。机器人被搬送装置移动至工件的附近后,执行工件的加载/卸除、工具的更换、工件的加工等各种作业。可是,当机器人的停止位置、停止姿势改变时,机器人相对于作业空间的位置、姿势也会改变,因此机器人若每次都进行相同的动作则有时会无法适当地进行作业。因此,需要测量机器人相对于作业空间的位置、姿势的偏离,来对机器人的动作施加校正。

2、例如,提出了如下技术(例如参照专利文献1和2):使用安装于机器人的手指等的视觉传感器,检测设置在作业空间中的多个基准点的三维位置,计算与机器人相对于作业空间的基准位置、基准姿势之间的偏离量作为校正量,来对机器人的动作施加校正。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1:日本特开平11-156764号公报

6、专利文献2:日本特开2019-093481号公报


技术实现思路

1、专利技术要解决的问题

2、然而,在专利文献1和2的技术中,存在如下问题:根据摄像图像求出的测量对象物的三维位置姿势的偏差大、或者为了拍摄配置在多处的多个测量对象物,而摄像位置的示教点的数量变多,示教和测量所需的时间也变长。因此,现有技术无法使用在要求以短的示教时间和测量时间安装工件等精密的动作的用途上。

3、本公开的目的在于提供一种能够以比以往简单的示教和短的测量时间来正确地测量测量对象物的三维位置姿势的位置姿势测量系统。

4、用于解决问题的方案

5、本公开的一个方式是一种位置姿势测量系统,测量在机器人的控制中使用的测量对象物的三维位置姿势,所述位置姿势测量系统具备:已校准的视觉传感器;位置姿势移动部,其能够移动所述测量对象物或所述视觉传感器的三维位置姿势;校准数据存储部,其预先存储在执行了所述视觉传感器的校准时所获得的校准数据;图像处理部,其对由所述视觉传感器拍摄所述测量对象物而获得的摄像图像进行处理;位置姿势测量部,其使用所述图像处理部的图像处理结果,来测量所述测量对象物的三维位置姿势;摄像位置校正部,其执行至少一次的校正处理,在所述校正处理中,使用由所述位置姿势测量部测量出的所述测量对象物的三维位置姿势,通过所述位置姿势移动部使所述视觉传感器或所述测量对象物移动之后,依序进行所述图像处理部的图像处理和所述位置姿势测量部的测量;以及摄像位置校正结束部,其判定是否结束所述摄像位置校正部的所述校正处理,在判定为不结束所述校正处理的情况下,再次执行所述校正处理,在判定为结束所述校正处理的情况下,采用由所述位置姿势测量部在最后或中途测量出的某一个所述测量对象物的三维位置姿势,来作为在对所述机器人的控制中使用的所述测量对象物的三维位置姿势。

6、专利技术的效果

7、根据本公开的一个方式,能够提供一种能够以比以往简单的示教和短的测量时间来正确地测量测量对象物的三维位置姿势的位置姿势测量系统。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种位置姿势测量系统,测量在对机器人的控制中使用的测量对象物的三维位置姿势,所述位置姿势测量系统具备:

2.根据权利要求1所述的位置姿势测量系统,其中,

3.根据权利要求1或2所述的位置姿势测量系统,其中,

4.根据权利要求1或2所述的位置姿势测量系统,其中,

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的位置姿势测量系统,还具备:

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的位置姿势测量系统,还具备:

7.根据权利要求1至6中的任一项所述的位置姿势测量系统,还具备:

8.一种位置姿势测量系统,具备:

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种位置姿势测量系统,测量在对机器人的控制中使用的测量对象物的三维位置姿势,所述位置姿势测量系统具备:

2.根据权利要求1所述的位置姿势测量系统,其中,

3.根据权利要求1或2所述的位置姿势测量系统,其中,

4.根据权利要求1或2所述的位置姿势测量系...

【专利技术属性】
技术研发人员:小仓翔太郎并木勇太小窪恭平
申请(专利权)人:发那科株式会社
类型:发明
国别省市:

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