【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测设备，特别是涉及一种用于电极帽的品检设备。
技术介绍
1、在焊接设备中，电极帽因为高温致使自身表面氧化，通常会采用修磨电极帽的方式来提高电极帽的使用周期。在修磨电极帽时，可能会存在修磨不完整的缺陷。现有技术中，通常是由人工来检测判断修磨后的电极帽是否存在不完整的缺陷。然而，人工检测易出错，检测质量不高，检测效率也较低。
技术实现思路
1、本技术的目的是：提供一种用于电极帽的品检设备，能够替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。
2、为了实现上述目的，本技术提供了一种用于电极帽的品检设备，包括：壳体、设置在所述壳体上第一定位块以及设置在所述壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，所述第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，所述第一定位腔用于定位电极帽，所述第一定位腔具有第一开口和第二开口，所述第一开口和所述第二开口分别位于所述第一定位块两侧侧面上，所述第二开口倾斜设置，所述第一开口的几何面积小于所述第二开口的几何面积，且所述第一开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第一相机用于拍摄所述第一开口露出的所述电极帽的端面，所述第一相机设置有第一光源，所述第一光源发射的光能够照射到所述第一开口，所述第一漫反射环设置在所述第一光源的光路上，所述第一相机与所述控制器电连接。
3、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体上第二定位块以及设置在所述壳体内部的第二相机、第二漫反射环，所述第二定位块具有贯穿自身的第二定
4、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体上的双面反射镜片，所述第一光源和所述第二光源分别位于所述双面反射镜片的两侧，且所述双面反射镜片同时位于所述第一光源和所述第二光源的光路上，所述第一漫反射环位于所述第一光源和所述双面反射镜片之间的光路上，所述第二漫反射环位于所述第二光源和所述双面反射镜片之间的光路上。
5、在本申请的一些实施例中：
6、所述第一光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角为45°；
7、所述第二光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角也为45°。
8、在本申请的一些实施例中：
9、所述第一定位块和所述第二定位块上下设置，且所述第一定位块和所述第二定位块分别位于所述壳体的上下表面。
10、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的安装座，所述安装座上具有安装槽，所述双面反射镜片安装于所述安装槽中，且所述第一相机和所述第二相机也安装在所述安装座上。
11、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的第一补充光源板，所述第一补充光源板设置在所述双面反射镜片和所述第一开口之间的所述第一光源的光路上，所述第一补充光源板发射的光能够照射到所述第一开口。
12、在本申请的一些实施例中，所述第一补充光源板上设置有贯穿自身的通孔，所述通孔供所述第一光源发出的光穿过。
13、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的第三漫反射环，所述第三漫反射环设置在所述第一补充光源板和所述第一开口之间。
14、在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括第一盖体，所述第一盖体活动设置在所述壳体上，所述第一盖体能够盖设在所述第一定位块的外部。
15、本技术提供一种用于电极帽的品检设备，与现有技术相比，其有益效果在于：
16、本技术的用于电极帽的品检设备，包括壳体、第一定位块、第一相机、第一漫反射环和控制器，电极帽放入第一定位块中的第一定位腔中，且第一开口朝向内部显露电极帽的端面，第一相机的第一光源为第一开口处打光，第一漫反射环能够确保打光均匀，第一相机拍摄产品照片并发送给控制器，由控制器判断当前产品是否存在修磨不完整的缺陷，从而替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。
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1.一种用于电极帽的品检设备，其特征在于，包括：壳体、设置在所述壳体上第一定位块以及设置在所述壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，所述第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，所述第一定位腔用于定位电极帽，所述第一定位腔具有第一开口和第二开口，所述第一开口和所述第二开口分别位于所述第一定位块两侧侧面上，所述第二开口倾斜设置，所述第一开口的几何面积小于所述第二开口的几何面积，且所述第一开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第一相机用于拍摄所述第一开口露出的所述电极帽的端面，所述第一相机设置有第一光源，所述第一光源发射的光能够照射到所述第一开口，所述第一漫反射环设置在所述第一光源的光路上，所述第一相机与所述控制器电连接。
2.根据权利要求1所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在壳体上第二定位块以及设置在所述壳体内部的第二相机、第二漫反射环，所述第二定位块具有贯穿自身的第二定位腔，所述第二定位腔也用于定位电极帽，所述第二定位腔具有第三开口和第四开口，所述第三开口和所述第四开口分别位于所述第二定位块的两侧侧面上，所述第三开口的几何面积小
3.根据权利要求2所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体上的双面反射镜片，所述第一光源和所述第二光源分别位于所述双面反射镜片的两侧，且所述双面反射镜片同时位于所述第一光源和所述第二光源的光路上，所述第一漫反射环位于所述第一光源和所述双面反射镜片之间的光路上，所述第二漫反射环位于所述第二光源和所述双面反射镜片之间的光路上。
4.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的安装座，所述安装座上具有安装槽，所述双面反射镜片安装于所述安装槽中，且所述第一相机和所述第二相机也安装在所述安装座上。
7.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的第一补充光源板，所述第一补充光源板设置在所述双面反射镜片和所述第一开口之间的所述第一光源的光路上，所述第一补充光源板发射的光能够照射到所述第一开口。
8.根据权利要求7所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，所述第一补充光源板上设置有贯穿自身的通孔，所述通孔供所述第一光源发出的光穿过。
9.根据权利要求7所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的第三漫反射环，所述第三漫反射环设置在所述第一补充光源板和所述第一开口之间。
10.根据权利要求1所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括第一盖体，所述第一盖体活动设置在所述壳体上，所述第一盖体能够盖设在所述第一定位块的外部。
...【技术特征摘要】
1.一种用于电极帽的品检设备，其特征在于，包括：壳体、设置在所述壳体上第一定位块以及设置在所述壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，所述第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，所述第一定位腔用于定位电极帽，所述第一定位腔具有第一开口和第二开口，所述第一开口和所述第二开口分别位于所述第一定位块两侧侧面上，所述第二开口倾斜设置，所述第一开口的几何面积小于所述第二开口的几何面积，且所述第一开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第一相机用于拍摄所述第一开口露出的所述电极帽的端面，所述第一相机设置有第一光源，所述第一光源发射的光能够照射到所述第一开口，所述第一漫反射环设置在所述第一光源的光路上，所述第一相机与所述控制器电连接。
2.根据权利要求1所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在壳体上第二定位块以及设置在所述壳体内部的第二相机、第二漫反射环，所述第二定位块具有贯穿自身的第二定位腔，所述第二定位腔也用于定位电极帽，所述第二定位腔具有第三开口和第四开口，所述第三开口和所述第四开口分别位于所述第二定位块的两侧侧面上，所述第三开口的几何面积小于所述第四开口的几何面积，所述第四开口倾斜设置，且所述第三开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第二相机用于拍摄所述第三开口露出的所述电极帽的端面，所述第二相机设置有第二光源，所述第二光源发射的光能够照射到所述第三开口，所述第二漫反射环设置在所述第二光源的光路上，所述第二相机与所述控制器电连接。
3.根据权利要求2所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：邱达，邱振涛，孙圣杰，
申请(专利权)人：广州瑞沃斯视觉技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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