【技术实现步骤摘要】
本公开涉及计算机应用，尤其涉及一种同步采样方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、目前，数据类型较多，比如，数据类型包括文本数据、图像数据、语音数据、姿态数据、环境数据等，采样装置也较多，比如，相机、传感器、麦克风等。往往需要通过多个采样装置采样多种类型的数据，采样装置之间的同步性会影响采样的数据的准确性，然而，现有技术中的同步采样方法，存在可靠性低、稳定性低的问题。
技术实现思路
1、本公开提供一种同步采样方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质、计算机程序产品，以至少解决相关技术中同步采样方法存在可靠性低、稳定性低的问题。本公开的技术方案如下：
2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种同步采样方法，包括：获取第一采样装置的第i次采样时刻和第二采样装置的设定采样周期，其中，i为大于1的正整数；基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置的第i+1次采样时刻。
3、在本公开的一个实施例中，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置的第i+1次采样时刻，包括：基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置在第i-1次采样至第i次采样之间的相邻同步误差；基于所述第i次采样时刻和所述相邻同步误差，确定所述第i+1次采样时刻。
4、在本公开的一个实施例中，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置在第i-1次采样至第i次采样之间的相邻同步误差，包括：获取所述第一采样
5、在本公开的一个实施例中，所述基于所述时间差和所述设定采样周期，确定所述相邻同步误差，包括：获取所述时间差和所述设定采样周期的比值，并获取不大于所述比值的最大整数；获取所述最大整数和所述设定采样周期的乘积，并获取所述时间差和所述乘积的第一差值，并基于所述第一差值确定所述相邻同步误差。
6、在本公开的一个实施例中，在i＝2的情况下，所述基于所述第一差值确定所述相邻同步误差，包括：获取所述第一采样装置在第1次采样的初始同步误差；获取所述第一差值和所述初始同步误差的第一和值，并将所述第一和值确定为所述相邻同步误差。
7、在本公开的一个实施例中，所述基于所述第一差值确定所述相邻同步误差，包括：将所述第一差值确定为所述相邻同步误差。
8、在本公开的一个实施例中，所述基于所述第i次采样时刻和所述相邻同步误差，确定所述第i+1次采样时刻，包括：获取所述第一采样装置的参考采样周期；获取所述第i次采样时刻和所述参考采样周期的第二和值，并获取所述第二和值和所述相邻同步误差的第二差值，并将所述第二差值确定为所述第i+1次采样时刻。
9、在本公开的一个实施例中，还包括：获取所述第一采样装置在第1次采样的初始同步误差；基于所述第一采样装置的第1次采样时刻和所述初始同步误差，确定所述第一采样装置的第2次采样时刻。
10、在本公开的一个实施例中，所述基于所述第一采样装置的第1次采样时刻和所述初始同步误差，确定所述第一采样装置的第2次采样时刻，包括：获取所述第一采样装置的参考采样周期；获取所述第1次采样时刻和所述参考采样周期的第三和值，并获取所述第三和值和所述初始同步误差的第三差值，并将所述第三差值确定为所述第2次采样时刻。
11、根据本公开实施例的第二方面，提供一种同步采样装置，包括：获取模块，被配置为执行获取第一采样装置的第i次采样时刻和第二采样装置的设定采样周期，其中，i为大于1的正整数；确定模块，被配置为执行基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置的第i+1次采样时刻。
12、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置在第i-1次采样至第i次采样之间的相邻同步误差；基于所述第i次采样时刻和所述相邻同步误差，确定所述第i+1次采样时刻。
13、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述第一采样装置的第i-1次采样时刻；获取所述第i-1次采样时刻和所述第i次采样时刻的时间差；基于所述时间差和所述设定采样周期，确定所述相邻同步误差。
14、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述时间差和所述设定采样周期的比值，并获取不大于所述比值的最大整数；获取所述最大整数和所述设定采样周期的乘积，并获取所述时间差和所述乘积的第一差值，并基于所述第一差值确定所述相邻同步误差。
15、在本公开的一个实施例中，在i＝2的情况下，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述第一采样装置在第1次采样的初始同步误差；获取所述第一差值和所述初始同步误差的第一和值，并将所述第一和值确定为所述相邻同步误差。
16、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：将所述第一差值确定为所述相邻同步误差。
17、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述第一采样装置的参考采样周期；获取所述第i次采样时刻和所述参考采样周期的第二和值，并获取所述第二和值和所述相邻同步误差的第二差值，并将所述第二差值确定为所述第i+1次采样时刻。
18、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述第一采样装置在第1次采样的初始同步误差；基于所述第一采样装置的第1次采样时刻和所述初始同步误差，确定所述第一采样装置的第2次采样时刻。
19、在本公开的一个实施例中，所述确定模块，还被配置为执行：获取所述第一采样装置的参考采样周期；获取所述第1次采样时刻和所述参考采样周期的第三和值，并获取所述第三和值和所述初始同步误差的第三差值，并将所述第三差值确定为所述第2次采样时刻。
20、根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为实现本公开实施例第一方面所述方法的步骤。
21、根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，该程序指令被处理器执行时实现本公开实施例第一方面所述方法的步骤。
22、根据本公开实施例的第五方面，提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被电子设备的处理器执行时实现如本公开实施例第一方面所述方法的步骤。
23、本公开的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：获取第一采样装置的第i次采样时刻和第二采样装置的设定采样周期，基于第i次采样时刻和设定采样周期，确定第一采样装置的第i+1次采样时刻。由此，可综合考虑到第一采样装置的第i次采样时刻和设定采样周期，确定第一采样装置的第i+1次采样时刻，提高了第一采样装置与第二采样装置之间的同步采样的可靠性和稳定本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种同步采样方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置的第i+1次采样时刻，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置在第i-1次采样至第i次采样之间的相邻同步误差，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述时间差和所述设定采样周期，确定所述相邻同步误差，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在i＝2的情况下，所述基于所述第一差值确定所述相邻同步误差，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一差值确定所述相邻同步误差，包括：
7.根据权利要求2-6任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述第i次采样时刻和所述相邻同步误差，确定所述第i+1次采样时刻，包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述第
10.一种同步采样装置，其特征在于，包括：
11.一种电子设备，其特征在于，包括：
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其特征在于，该程序指令被处理器执行时实现权利要求1-9中任一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种同步采样方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置的第i+1次采样时刻，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第i次采样时刻和所述设定采样周期，确定所述第一采样装置在第i-1次采样至第i次采样之间的相邻同步误差，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述时间差和所述设定采样周期，确定所述相邻同步误差，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在i＝2的情况下，所述基于所述第一差值确定所述相邻同步误差，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张超，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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