System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种清洗组合物制造技术_技高网

一种清洗组合物制造技术

技术编号:41197189 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-07 22:25
本发明专利技术涉及一种清洗组合物,具体包括:碱性化合物,醇胺,缓蚀剂,螯合剂和溶剂。本发明专利技术的积极进步效果在于可有效去除CMP后晶片表面残留物。且不会腐蚀铜互联器和Low‑k材料。操作窗口大,在半导体CMP后清洗中具有广泛的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体加工工艺领域,尤其涉及一种清洗组合物


技术介绍

1、在半导体加工工艺中,铜由于其低电阻和容易加工而成为先进半导体的互联器首选材料。用铜的器件加工成形需要化学沉积和化学机械抛光(cmp)。因为在cmp器件产生的抛光的铜表面被确定为互联器性能的最重要因素之一,所以cmp后清洗必须有效去除由抛光过程产生的任何残余物。因此,cmp浆液和cmp后清洗剂在很多情况下包括一种或多种缓蚀剂,选择所述缓蚀剂以在铜互联器表面上形成临时保护层。然而,如果在清洁处理之后有机膜保留在铜互联器表面上,则此类膜的存在可妨碍后续步骤,例如化学气相沉积(cvd),并妨碍铜互联器的最终性能。本专利技术提供了一种cmp后的清洗组合物,可有效去除cmp后晶片表面残留物。且不会腐蚀铜互联器和low-k材料。操作窗口大,在半导体cmp后清洗中具有广泛的应用前景。


技术实现思路

1、为了克服清洗组合物无法同时有效去除晶片表面残留物,以及铜互联器及低k材料具有较好防腐蚀的技术效果的技术问题,本专利技术提供一种清洗组合物,包括碱性化合物,醇胺,缓蚀剂,螯合剂和溶剂。

2、优选的,所述碱性化合物选自氢氧化钾,氢氧化钠,四甲基氢氧化铵,四乙基氢氧化铵,四丙基氢氧化铵,氢氧化胆碱,氢氧化铵,苄基三乙基氢氧化铵(bteah),(2-羟乙基)三甲基氢氧化铵,(2-羟乙基)三乙基氢氧化铵,(2-羟乙基)三丙基氢氧化铵,(1-羟丙基)三甲基氢氧化铵,乙基三甲基氢氧化铵,二乙基二甲基氢氧化铵(dedmah),二甲基二丙基氢氧化铵,三-(2-羟乙基)甲基氢氧化铵中的一种或多种。

3、优选的,所述碱性化合物的含量为0.05wt%-35wt%。

4、优选的,所述碱性化合物的含量为0.5wt%-30wt%。

5、优选的,所述醇胺选自乙醇胺,二乙醇胺,三乙醇胺,二甘醇胺,异丙醇胺,羟乙基乙二胺,n-甲基乙醇胺,n,n-二甲基乙醇胺,n-甲基二乙醇胺,n,n,n’-三甲基-n’-(2-羟乙基)乙二胺中的一种或多种。

6、优选的,所述醇胺的含量为0.05wt%-35wt%。

7、优选的,所述醇胺的含量为0.5wt%-30wt%。

8、优选的,所述缓蚀剂选自二羟丙茶碱,5-氨基咪唑-4-甲酰胺,巴比妥酸,3-甲基(三氮杂烯基)咪唑-4甲酰胺,腺嘌呤,腺苷,黄嘌呤,次黄嘌呤,鸟嘌呤,鸟苷,5-苯基四氮唑,抗坏血酸,5-苄硫基四氮唑,5-巯基-1-苯基-1h-四唑,5-苄基-1h-四唑,3-氨基-5-巯基-1,2,4-三氮唑,5-氨基-4-甲酰胺咪唑,5-氨基-1,2,4-三氮唑,3-氨基-1,2,4-三氮唑,3-巯基-1,2,4-三氮唑,甲巯四氮唑中的一种或多种。

9、优选的,所述缓蚀剂的含量为0.005wt%-15wt%。

10、优选的,所述缓蚀剂的含量为0.05wt%-10wt%。

11、优选的,所述螯合剂选自酒石酸铵,酒石酸,醋酸铵,醋酸,亚氨基二乙酸,edta,1,2-环己二胺四乙酸,草酸,乙醇酸,苹果酸,丙二酸,甘油酸,甜菜碱,没食子酸,邻苯二甲酸中的一种或多种。

12、优选的,所述螯合剂的含量为0.005wt%-15wt%。

13、优选的,所述螯合剂的含量为0.05wt%-10wt%。

14、优选的,所述溶剂为水。

15、优选的,所述碱性化合物的ph值为9至13.5。

16、本专利技术的积极进步效果在于:可有效去除cmp后晶片表面残留物。且不会腐蚀铜互联器和low-k材料。操作窗口大,在半导体cmp后清洗中具有广泛的应用前景。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于具有铜互联器的半导体器件的碱性CMP后清洗组合物,其特征在于,

2.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

3.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

4.如权利要求3所述的清洗组合物,其特征在于,

5.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

6.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

7.如权利要求6所述的清洗组合物,其特征在于,

8.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

9.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

10.如权利要求9所述的清洗组合物,其特征在于,

11.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

12.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

13.如权利要求12所述的清洗组合物,其特征在于,

14.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种用于具有铜互联器的半导体器件的碱性cmp后清洗组合物,其特征在于,

2.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

3.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

4.如权利要求3所述的清洗组合物,其特征在于,

5.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

6.如权利要求1所述的清洗组合物,其特征在于,

7.如权利要求6所述的清洗组合物,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:张维棚刘兵赵鹏彭洪修
申请(专利权)人:安集微电子科技上海股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1