芯片布局结构及布局方法、芯片技术

技术编号:41188616 阅读:22 留言:0更新日期:2024-05-07 22:20
一种芯片布局结构及布局方法、芯片。所述芯片包括:第一单元模块,所述第一单元模块包括若干个数字标准单元;所述第一单元模块对应的布局结构由至少两个布局区域组成;其中,每个所述布局区域包括:至少一行的数字标准单元;同一布局区域内数字标准单元满足同一预设物理特征条件;不同布局区域内数字标准单元的供电电压不同。采用上述方案,可以降低芯片的静态功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片设计,具体涉及一种芯片布局结构及布局方法、芯片


技术介绍

1、芯片通常分为数十个宏单元模块,每个宏单元模块都是一个单独的模组,例如存储模块、计算模块以及逻辑模块。其中,逻辑模块通常由若干数字标准单元组成,数字标准单元一组提供布尔逻辑功能(例如:与、或、异或、异或非、反相器)或存储功能(触发器或锁存器)的晶体管和互连结构。

2、芯片布局规划,就是放置芯片的宏单元模块,在总体上确定各种功能电路的摆放位置。确定芯片如何布局,是芯片设计过程中最复杂、最耗时的阶段之一。

3、芯片布局过程中,需要考虑功耗、性能和面积三个方面。期望能实现相同性能的情况下,功耗尽可能地小,其中功耗包括动态功耗和静态功耗。随着节点的不断缩小,静态功耗的影响越来越大。这使得设计中不得不考虑如何减小静态功耗。

4、然而,采用现有布局方法得到的芯片,静态功耗仍较高。


技术实现思路

1、本专利技术要解决的问题是:降低芯片的静态功耗。

2、为解决上述问题,本专利技术实施例提供了一种芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片布局结构,其特征在于,所述芯片包括:第一单元模块,所述第一单元模块包括若干个数字标准单元;所述第一单元模块对应的布局结构由至少两个布局区域组成;

2.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元的阈值电压位于同一电压范围内,不同布局区域内数字标准单元的阈值电压位于不同的电压范围内。

3.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元的沟道长度位于同一长度范围内,不同布局区域内数字标准单元的沟道长度位于不同的长度范围内。

4.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单...

【技术特征摘要】

1.一种芯片布局结构,其特征在于,所述芯片包括:第一单元模块,所述第一单元模块包括若干个数字标准单元;所述第一单元模块对应的布局结构由至少两个布局区域组成;

2.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元的阈值电压位于同一电压范围内,不同布局区域内数字标准单元的阈值电压位于不同的电压范围内。

3.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元的沟道长度位于同一长度范围内,不同布局区域内数字标准单元的沟道长度位于不同的长度范围内。

4.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元的沟道长度位于同一长度范围内,且阈值电压位于同一电压范围内;不同布局区域内数字标准单元的沟道长度位于不同的长度范围内,且阈值电压位于不同的电压范围内。

5.如权利要求1所述的芯片布局结构,其特征在于,同一布局区域内数字标准单元,具有相同的沟通长度和/或阈值电压。

6.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:郁扬魏路瑶王代平蔡燕飞王俊
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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