【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种适用于x射线显微镜的原位应力腐蚀实验装置，属于原位ct扫描测试设备领域。
技术介绍
1、x射线显微镜（x-ray microscopy）是一种先进的显微镜技术，利用x射线进行样品成像和分析，与传统光学显微镜相比，x射线显微镜具有高分辨率、非破坏性和元素特异性的优点，它可以提供关于样品的内部结构、晶体结构、缺陷分布、化学组成和元素分布等方面的信息。在材料科学、纳米技术、生命科学和地球科学等领域，x射线显微镜被广泛应用于研究纳米材料、生物样品、晶体结构、电子器件和地质样品等，成为保障产品质量和安全的重要手段。
2、应力腐蚀是一种特殊的腐蚀形式，它在材料受到应力作用和腐蚀环境共同作用下发生。它通常表现为材料在受到相对较低的应力时，发生了异常的腐蚀现象。借助x射线显微镜的高分辨率成像能力，可以观察到材料样品表面的形貌、变形、腐蚀速率，以及腐蚀产物的形成和分布情况。
3、现有技术如专利公开号为cn112782067a公开了“一种适用于x射线显微镜原位应力腐蚀实验研究装置”，其采用分体式结构，外形设计并不协调美...
【技术保护点】
1.一种适用于X射线显微镜的原位应力腐蚀实验装置，其特征在于：包括腐蚀溶液桶（2）、控制系统（3）、垂直位移升降台（4）、加载电机（5）、联轴器（6）和加载机构（7），所述垂直位移升降台（4）设于腐蚀溶液桶（2）的上盖上，所述加载电机（5）设于垂直位移升降台（4）内，所述加载机构（7）设于腐蚀溶液桶（2）的上盖下方，所述加载电机（5）的动力输出端通过联轴器（6）与加载机构（7）连接，所述腐蚀溶液桶（2）的侧壁连通设有多个溶液池，所述控制系统（3）设于垂直位移升降台（4）的侧壁上，所述控制系统（3）分别与垂直位移升降台（4）、加载电机（5）、溶液池电性连接。
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