【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外测试，具体涉及一种定向发射率检测方法。
技术介绍
1、发射率是表征物体热辐射能力的无量纲物理量，不仅与材料表面温度和组分有关，而且很大程度上受环境、装配、结构、表面粗糙程度及化学状态的影响。光谱发射率表征了物体发射率与辐射波长的相关关系，体现物体在不同光谱区域辐射能力的强弱，材料发射率的测量和计算在航天、航空、国防、科学研究及工农业生产等领域中具有重要意义和应用价值。材料发射率的测量方法主要有反射法、能量法、量热法和多光谱法，传统反射法大多采用积分球来对被测物体进行测试，测试光线由积分球上的入射孔进入，照到测试孔处放置的被测物体表面，被测物体表面发射出来的光经过积分球内壁的多次反射最终汇聚到位于积分球内壁上的探测器上，探测器将所测得的信号转换为电压值输出，以便对被测物体的发射率进行计算。但是上述传统的测试过程中，被测试物体经照射后从表面反射出来的光经过了积分球的多次反射才最终汇聚到探测器探测元上，虽然积分球内壁经过镀金处理，但是在多次反射的过程中光的能量还是会不可避免的发生损失，这就会导致探测器无法进行有效探测，增加被...
【技术保护点】
1.一种定向发射率检测方法，其特征在于：包含以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：所述光源(1)为电调制的红外辐射光源。
3.根据权利要求1或2所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：所述双椭球反射结构包含连接在一起的前半部分内壁镀金空心椭球体(3)和后半部分内壁镀金空心椭球体(4)；前半部分内壁镀金空心椭球体(3)和后半部分内壁镀金空心椭球体(4)具有一个公共焦点，测试口位于公共焦点处，被测物体(2)的表面中心位于该公共焦点处，
4.根据权利要求3所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：步骤S3中光...
【技术特征摘要】
1.一种定向发射率检测方法，其特征在于：包含以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：所述光源(1)为电调制的红外辐射光源。
3.根据权利要求1或2所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：所述双椭球反射结构包含连接在一起的前半部分内壁镀金空心椭球体(3)和后半部分内壁镀金空心椭球体(4)；前半部分内壁镀金空心椭球体(3)和后半部分内壁镀金空心椭球体(4)具有一个公共焦点，测试口位于公共焦点处，被测物体(2)的表面中心位于该公共焦点处，
4.根据权利要求3所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：步骤s3中光源(1)发出的入射光照射到被测物体(2)的表面后，被测物体(2)的表面产生反射光，大部分反射光线经由前半部分内壁镀金空心椭球体(3)的内壁椭球面一次反射后直接进入到所述探测器a(5)的探测像元上。
5.根据权利要求3或4所述一种定向发射率检测方法，其特征在于：步骤s3中光源(1)发出的入射光照射到被测物体(2)的表面后，被测物体(2)的表面产生反射光，前半部分内壁镀金空心椭球体(3)无法反射的光线照射到后半部分内...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇峰，刘文皓，张伟，贾辉，王洋，楚春雨，吴元庆，
申请(专利权)人：渤海大学，
类型：发明
国别省市：
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