【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示器测验领域,具体为基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统。
技术介绍
1、led显示器测验系统通常是基于人工操作和规则设定来进行测量和调整,实验人员通过直接观察或测量led的相关参数来对led显示器的相关参数调整到预先定义的标准位置,然而,传统的led显示器测验系统往往会有一些弊端。
2、一方面,实验人员通过直接观察和比较led显示器的亮度、对比度、色彩等参数来判断其性能,这需要一定的专业经验和主观判断,可能会因为主观原因导致操作失误;
3、另一方面,实验人员根据测量结果和标准要求,使用显示器后台的控制面板、物理按钮或操作设备来修改参数值,这依赖于人工手动操作,无法实时更改系统所需要的参数值,增加时间成本和人工成本。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,其包括
...【技术保护点】
1.基于光感矫正分析的LED显示器主控测验系统,其特征在于:包括数据收集模块(100)、数据处理模块(200)、建模模块(300)、光感分析模块(400)和参数矫正模块(500),其中:
2.根据权利要求1所述的基于光感矫正分析的LED显示器主控测验系统,其特征在于:所述数据收集模块(100)包括光感传感器单元(101)和模数转换单元(102),所述光感传感器单元(101)用于收集实时光感数据,并将收集到的模拟信号数据发送给模数转换单元(102);所述模数转换单元(102)将模拟信号转换为数字信号,并将转换后的信号数据发送给数据处理模块(200)中的特征处
...【技术特征摘要】
1.基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,其特征在于:包括数据收集模块(100)、数据处理模块(200)、建模模块(300)、光感分析模块(400)和参数矫正模块(500),其中:
2.根据权利要求1所述的基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,其特征在于:所述数据收集模块(100)包括光感传感器单元(101)和模数转换单元(102),所述光感传感器单元(101)用于收集实时光感数据,并将收集到的模拟信号数据发送给模数转换单元(102);所述模数转换单元(102)将模拟信号转换为数字信号,并将转换后的信号数据发送给数据处理模块(200)中的特征处理单元(202)。
3.根据权利要求1所述的基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,其特征在于:所述数据收集模块(100)包括历史显示器数据单元(103),所述历史显示器数据单元(103)利用数据库收集历史显示器数据,并将数据发送给数据处理模块(200)中的数据清洗单元(201)。
4.根据权利要求1所述的基于光感矫正分析的led显示器主控测验系统,其特征在于:所述数据处理模块(200)包括数据清洗单元(201)、特征处理单元(202)和标签处理单元(203),所述数据清洗单元(201)接收历史显示器数据单元(103)发送的历史显示器数据,用于清洗数据中的缺失值、异常值和重复值,将清洗好的数据发送给特征处理单元(202);所述特征处理单元(202)接收数据清洗单元(201)和模数转换单元(102)分别发送的历史显示器数据和实时光感数据,对历史显示器数据进行特征转换,对实时光感数据进行特征提取,将处理好的历史显示器数据和实时光感数据分别发送给标签处理单元(203)和光感分析模块(400)中的实时数据接收单元(401);所述标签处理单元(203)用于将历史显示器数据中的led显示器显示参数数据作为数据的标签列,并将处理好的数据发送给建模模块(300)中的历史数据接收单元(301)。
5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:邓艳阳,袁飞,
申请(专利权)人:深圳市丽特电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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