检测方法及检测装置、设备和存储介质制造方法及图纸

一种检测方法及检测装置、设备和存储介质，所述方法包括：获取待测物的待检测图像，待检测图像包括多个待测点的位置与检测参数之间的关系，检测参数与图像灰度正相关；根据待检测图像获取第一统计图；通过对检测参数和第一梯度进行划分，以将第一统计图划分为多个区块；分别根据各区块中待测点数量所指的待测点的检测参数获取各个区块的阈值条件，使相同区块中的各待测点具有相同的阈值条件，阈值条件与多个区块一一对应；根据多个区块分别从待检测图像中获取满足相对应的阈值条件的待测点，作为候选点；根据候选点，获取待检测图像中存在的目标点。本发明专利技术技术方案能够提高检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检测，尤其涉及一种检测方法及检测装置、设备和存储介质。

技术介绍

1、随着技术的不断发展，精密加工被用到越来越多的领域，同时，对于加工精度也有越来越高的要求。为了满足加工精度的需求，提高产品的合格率，需要对产品进行在线检测(例如，通过进行缺陷检测，以判断产品中是否存在缺陷，并检测缺陷的位置和尺寸)，以确保满足产品制造的相关指标要求。

2、在现有的检测方法中，光学检测是利用光与待测物相互作用实现检测的方法的总称。光学检测不与待测物接触，具有检测速度快、无附加污染等的特点，可实现在线检测，因此，光学检测在产品制造的质量监控领域中受到广泛运用。

3、但是，目前检测结果的准确性仍有待提高。

技术实现思路

1、本专利技术解决的问题是提供一种检测方法及检测装置、设备和存储介质，提高检测结果的准确性。

2、为解决上述问题，本专利技术提供一种检测方法，所述方法包括：获取待测物的待检测图像，所述待检测图像包括多个待测点的位置与检测参数之间的关系，所述检测参数与图像灰度正相关本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一统计图的检测参数按大小顺序依次排列，所述第一统计图的第一梯度按大小顺序依次排列；所述第一统计图为待测点数量在各分布点的分布图，所述分布点由所述检测参数和所述第一梯度确定，每个分布点对应一个检测参数和一个第一梯度；通过对所述检测参数和第一梯度进行划分，以将所述第一统计图的分布点划分为多个区块，包括：

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一统计图中检测参数和第一梯度确定的各分布点的待测点数量，对所述第一统计图的分布点进行划分，得到所述多个区块，包括：获取所述...

【技术特征摘要】

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一统计图的检测参数按大小顺序依次排列，所述第一统计图的第一梯度按大小顺序依次排列；所述第一统计图为待测点数量在各分布点的分布图，所述分布点由所述检测参数和所述第一梯度确定，每个分布点对应一个检测参数和一个第一梯度；通过对所述检测参数和第一梯度进行划分，以将所述第一统计图的分布点划分为多个区块，包括：

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一统计图中检测参数和第一梯度确定的各分布点的待测点数量，对所述第一统计图的分布点进行划分，得到所述多个区块，包括：获取所述待测点数量随各分布点变化的梯度值，得到第二梯度；获取具有极值或大于预设值的第二梯度对应的分布点，得到划分点；根据所述划分点将所述第一统计图的分布点划分为多个区块。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，根据所述划分点将所述第一统计图的分布点划分为多个区块，包括：

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，分别根据各区块中待测点数量所指的待测点的检测参数获取各个所述区块的阈值条件，使相同区块中的各待测点具有相同的阈值条件，所述阈值条件与所述多个区块一一对应：

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，分别根据各区块中待测点数量所指的待测点的检测参数获取各个所述区块的阈值条件，使相同区块中的各待测点具有相同的阈值条件，所述阈值条件与所述多个区块一一对应，包括：

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，根据所述第二统计图获取检测参数的阈值条件，包括：

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，根据所述第二统计图获取检测参数的阈值条件，包括：设置第一数量阈值和第二数量阈值，所述第一数量阈值和第二数量阈值均小于所述目标图像中待测点的总个数；根据所述第二统计图获取第一检测参数和第二检测参数，所述第一检测参数小于第二检测参数，所述第二统计图中小于所述第一检测参数的待测点的个数等于所述第一数量阈值，所述第二统计图中大于所述第二检测参数的待测点的个数等于所述第二数量阈值；根据所述第一检测参数，获取第一阈值检测参数；根据所述第二检测参数，获取第二阈值检测参数，所述第二阈值检测参数大于所述第二阈值检测参数；所述阈值条件为小于所述第一阈值检测参数，或大于所述第二阈值检测参数。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一检测参数，获取第一阈值检测参数，包括：将所述第一检测参数作为第一阈值检测参数，或者，将所述第一检测参数与最小阈值进行比较，获取较大者作为所述第一阈值检测参数；

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一检测参数，获取第一阈值检测参数之前，还包括：设置第一预设补偿量；通过对所述第一预设补偿量与所述第一检测参数求和，以对所述第一检测参数进行补偿；

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述最小阈值为所述第一预设补偿量与第一预设常量之和，所述最大阈值为所述第二预设补偿量与第二预设常量之和。

12.根据权利要求8所述的检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，李艳波，逍遥，杨乐，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：