一种镜头缺陷检测方法、系统、处理器及存储介质技术方案

技术编号:41145474 阅读:12 留言:0更新日期:2024-04-30 18:13
本发明专利技术属于图像处理技术领域,公开了一种镜头缺陷检测方法、系统、处理器及存储介质,包括:利用光学扫描模块对多层结构镜头的外表面进行全面扫描,快速定位初步的缺陷区域,并使用显微镜模块进行深度扫描和分析,识别缺陷区域内的微观尺度缺陷;通过X射线成像模块,对多层结构镜头整体进行初步扫描,并识别异常区域内的深度层次缺陷;对获取的缺陷信息进行特征提取,并将提取的特征采用多模态融合模型进行数据融合,采用光学面聚类算法进行分组,以获得若干组的缺陷分组;通过整合光学扫描、电子显微以及X射线成像技术,有效覆盖多个层级,能够识别常规方法难以发现的微观和内部缺陷,实现了对多层复杂结构镜头缺陷的全面和深入分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像处理,尤其涉及一种镜头缺陷检测方法、系统、处理器及存储介质


技术介绍

1、在当代光学行业中,特别是对于那些应用于高端相机、精密光学仪器等领域的镜头,其设计越来越倾向于采用多层复杂结构以达到优异的光学性能。这种设计不仅提升了镜头的成像质量,也极大地增加了镜头的设计和生产难度。同时,任何微小的缺陷,无论是在表面还是内部结构中,都可能导致整个镜头性能的大幅下降。因此,对于多层复杂结构镜头的缺陷检测技术提出了更高的要求,既要保证检测的全面性,也要确保检测的精准度和效率。

2、现有技术中的镜头缺陷检测方法侧重于检测镜头表面的缺陷,如划痕、沉积物、涂层不均等问题,通过光学显微镜或者高分辨率摄像头对镜头外表进行逐层检查,其采用传统的光学检测方法作为主要手段;这种方式的缺陷在于,在处理多层复杂结构镜头时存在明显的局限性,由于多层复杂结构镜头内部错综复杂,单一的光学检测方法难以穿透各个层级进行全面的内部缺陷检测,而针对每一层的单独检测过程繁琐且时间消耗大,不利于高生产效率的要求;且对于复合缺陷的检测,仅靠光学手段难以精确地识别和分析缺陷的类型本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种镜头缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,所述对初步的缺陷区域使用显微镜模块进行深度扫描和分析,识别缺陷区域内的微观尺度缺陷;具体包括:

3.根据权利要求1所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,对所述光学扫描模块、显微镜模块和X射线成像模块分别获取的缺陷信息进行特征提取,并将提取的特征采用多模态融合模型进行数据融合,获得第一融合数据;具体包括:

4.根据权利要求3所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,对所述第一特征数据、第二特征数据和第三特征数据进行同步处理;之后还包括:

5.根据权利要...

【技术特征摘要】

1.一种镜头缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,所述对初步的缺陷区域使用显微镜模块进行深度扫描和分析,识别缺陷区域内的微观尺度缺陷;具体包括:

3.根据权利要求1所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,对所述光学扫描模块、显微镜模块和x射线成像模块分别获取的缺陷信息进行特征提取,并将提取的特征采用多模态融合模型进行数据融合,获得第一融合数据;具体包括:

4.根据权利要求3所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,对所述第一特征数据、第二特征数据和第三特征数据进行同步处理;之后还包括:

5.根据权利要求1所述的镜头缺陷检测方法,其特征在于,所述采用光学面聚类算法对第一融合数据中的相似特征进行分组,以获得若干组的缺陷分组;具体...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗敏杜肖剑陈永俊
申请(专利权)人:广东金鼎光学技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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