【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及面齿轮齿面精度检测，尤其涉及一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法。
技术介绍
1、齿轮检测技术是齿轮加工领域的一个重要发展方向，可大大提高生产效率、降低加工成本。为了评定面齿轮的加工精度，必须进行齿面检测。检测路径是指测头的运动轨迹，它是由测量点、定位点、回退点、触测方向的序列组成的。规划检测路径的目的是为了有序、快速、高效地探测分布在面齿轮齿面的各个实际点的坐标，并保证在检测过程中测头与工件或其他物体不发生碰撞。
2、如何在检测过程中有效避免或降低测量设备运动误差对检测精度的影响，是检测路径规划的重点研究内容。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，解决了在检测过程中，测量设备运动误差影响检测精度的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，包括以下步骤：
3、计算检测基准；
4、对齐检测基准；
5、测量点排序；
6、检测并记录误差。
7、其中，计算检测基准，所述步骤还包括：
8、确定检测基准点f以及45个测量点坐标。
9、其中，对齐检测基准，所述步骤还包括：
10、使实际齿面与理论齿面在基准点处重合。
11、其中，测量点排序，所述步骤还包括：
12、以工件始终同方向旋转的原则规划测量路径，消除面齿轮周向传动链反向间隙对测
13、其中，检测并记录误差，所述步骤还包括：
14、基于本路径规划方法，确定面齿轮检测得到的齿形误差计算式为δ(i,j)＝(xm(i,j)-xr(i,j),ym(i,j)-yr(i,j),zm(i,j)-zr(i,j))·nm(i,j)-r。
15、本专利技术的一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，计算检测基准，确定检测基准点f以及45个测量点坐标，对齐检测基准，使实际齿面与理论齿面在基准点处重合，测量点排序，以工件始终同方向旋转的原则规划测量路径，消除面齿轮周向传动链反向间隙对测量结果的影响，检测并记录误差，基于本路径规划方法，确定面齿轮检测得到的齿形误差计算式，可消除面齿轮周向传动链反向间隙对测量精度的影响，最终获得面齿轮齿面上45个测量点的齿形误差，实现面齿轮齿面数字化齿形误差检测。解决了在检测过程中，测量设备运动误差影响检测精度的问题。
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1.一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，计算检测基准，所述步骤还包括：
3.如权利要求2所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，对齐检测基准，所述步骤还包括：
4.如权利要求3所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，测量点排序，所述步骤还包括：
5.如权利要求4所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，检测并记录误差，所述步骤还包括：
【技术特征摘要】
1.一种消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特征在于，计算检测基准，所述步骤还包括：
3.如权利要求2所述的消除反向间隙影响的面齿轮检测路径规划方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：李永平，黄一展，聂硕硕，高世博，梁钜松，覃少荣，邵逸安，龚正，
申请(专利权)人：桂林桂北机器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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