【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种发光体测量系统；特别地，本专利技术涉及一种发光体测量系统和发光体测量方法。
技术介绍
1、发光体为发射光的物体，且可个别地使用或与其它发光体组合地使用以形成发光体阵列。发光体阵列为以特定图案布置的发光体群组。发光体阵列可用于多种目的，包含：照明、装饰、通信、教育。也就是说，发光体阵列为使用光的多功能和创造性方式。发光体阵列可用于多种目的，从装饰到照明到通信。
技术实现思路
1、本专利技术是针对一种发光体测量系统和发光体测量方法，以便提供对发光体阵列执行检测的直观且方便的方式。
2、在本专利技术中，提供一种发光体测量系统。发光体测量系统包含处理器和相机。相机配置成获得物体的物体图像。物体包含第一发光体和第二发光体。处理器配置成基于物体图像确定第一发光体的第一位置和第二发光体的第二位置。处理器配置成基于标准对准信息确定第一位置和第二位置是否正确。
3、在本专利技术中，提供一种发光体测量方法。发光体测量方法包含：获得物体的物体图像，其中物体包括第一发光体和第二发光体；基于物体图像确定第一发光体的第一位置和第二发光体的第二位置；以及基于标准对准信息确定第一位置和第二位置是否正确。
4、基于上述，根据发光体测量系统和发光体测量方法，不仅减少了测量所需的时间，而且增加了测量的准确度。
5、为了使前述内容更易于理解，下文详细地描述附上的附图的若干实施例。
【技术保护点】
1.一种发光体测量系统，包括：
2.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述物体包括发光体阵列，且所述发光体阵列包括所述第一发光体和所述第二发光体。
3.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中
4.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述标准对准信息包括所述第一发光体的第一标准亮度，以及
5.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述标准对准信息包括所述第一发光体的第一标准尺寸，且
6.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述相机的方向与所述物体的法线之间的角度大于零。
7.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述相机的方向与所述物体的法线之间的角度等于零。
8.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述处理器配置成基于所述标准对准信息，产生所述第一发光体与所述第二发光体之间的校准距离。
9.根据权利要求8所述的发光体测量系统，还包括：
10.根据权利要求8所述的发光体测量系统，其中
11.一种发光体测量方法，包括：
【技术特征摘要】
1.一种发光体测量系统，包括：
2.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述物体包括发光体阵列，且所述发光体阵列包括所述第一发光体和所述第二发光体。
3.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中
4.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述标准对准信息包括所述第一发光体的第一标准亮度，以及
5.根据权利要求1所述的发光体测量系统，其中所述标准对准信息包括所述第一发光体的第一标准尺寸，且
6.根据权利要求1所述的发光...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄兆选，
申请(专利权)人：宏达国际电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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