【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外测试，具体涉及一种半球全波长发射率测量装置及方法。
技术介绍
1、红外发射率是表征材料辐射能力的关键参数，在新材料研制、遥感成像、红外隐身及热处理工艺等领域具有广泛的应用，具体如航空隐身涂料的设计与评估、航天器尾焰温度检测、核电站换热材料的表征、遥感卫星图像的仿真与校正等。多年来准确掌握材料的发射率数值是众多学者和科研人员不懈追求和努力的目标，材料发射率的测量方法主要有反射法、能量法、量热法和多光谱法。其中量热法是将被测物体与其周围相关物体共同组成一个热交换系统，之后根据传热理论导出系统有关材料发射率的传热方程，在测出样品有关点的温度值，就能确定系统的热交换状态，从而求出样品的发射率，但是无论是稳态量热法还是瞬态量热法都有其缺点，例如稳态量热法样品制作麻烦、测试时间长；而瞬态量热法则存在着只能测量导体材料的问题。
技术实现思路
1、本专利技术为克服现有技术，提供了一种半球全波长发射率测量装置及方法。本专利技术结合椭球一焦点处发射的光线经过其内壁的反射后必回到其另一焦点的特...
【技术保护点】
1.一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：包含热电偶(1)、水冷壁(2)、标准样品(3)、标准样品加热器(4)、驱动机构(5)、被测物体加热器(8)和内壁镀金空心椭球体(11)；
2.根据权利要求1所述一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：所述驱动机构(5)包含驱动电机(5-1)、丝杆副(5-2)、连接板(6)、滑块(7)和固定架(9)；
3.根据权利要求1所述一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：所述内壁镀金空心椭球体(11)的长轴竖向布置并与被测物体加热器(8)的移动方向垂直。
4.一种半球全波长发射率测量方法，其特...
【技术特征摘要】
1.一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：包含热电偶(1)、水冷壁(2)、标准样品(3)、标准样品加热器(4)、驱动机构(5)、被测物体加热器(8)和内壁镀金空心椭球体(11)；
2.根据权利要求1所述一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：所述驱动机构(5)包含驱动电机(5-1)、丝杆副(5-2)、连接板(6)、滑块(7)和固定架(9)；
3.根据权利要求1所述一种半球全波长发射率测量装置，其特征在于：所述内壁镀金空心椭球体(11)的长轴竖向布置并与被测物体加热器(8)的移动方向垂直。
4.一种半球全波长发射率测量方法，其特征在于：所述方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇峰，刘文皓，贾辉，张伟，王洋，楚春雨，吴元庆，
申请(专利权)人：渤海大学，
类型：发明
国别省市：
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