【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学工程，特别涉及一种提升自由电子激光光束线利用率装置及方法。
技术介绍
1、自由电子激光作为第四代光源，具有波长范围广且连续可调、峰值功率和平均功率高且可调，时间和空间相干性高、偏振可调，皮秒和百飞秒量级脉冲的时间结构且时间结构可控等优点，广泛为用户提供高品质的激光，为用户开展实验所用。其中，x射线光电子能谱(xps)、角分辨光电子能谱(arpes)等探测电子信息的实验，每次需要的电子产量低，防止电子空间电荷力过强，因此需要弱光实验，需要对自由电子激光进行衰减。直接衰减是非常浪费的，若饱和出光，出光后衰减多个量级，在高重复频率自由电子激光中技术难度非常高，若不饱和出光，出光小多个量级，会导致光强不稳定。除此之外，可以采取分光的方法产生弱光，在不影响主光路的情况下，额外增加一倍弱光机时，使得此种实验长期运行。但传统的分光方法是将激光沿边缘通过反射镜，将激光切割分成两束光分别供用户使用，但其存在调节弱光能力弱，调节范围窄，分弱光时衍射效应强等缺点，不能很好满足弱光实验需求。因此，迫切需要一种新型分光方式，在实现弱光实验的需求同时，有效提升自由电子激光光束线利用率。
技术实现思路
1、针对上述问题，本专利技术的目的在于提供一种提升自由电子激光光束线利用率装置及方法，以实现弱光实验的需求同时，有效提升自由电子激光光束线利用率。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
3、本专利技术一实施例提供一种提升自由电子激光光束线利用率装置，包括：<...
【技术保护点】
1.一种提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述色散光学元件(1)具有分光点(A)，所述入射光路(Ⅰ)入射至分光点(A)上。
3.根据权利要求2所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述色散光学元件(1)为平面等线距光栅，其中心刻线，四周为反射镜，所述分光点(A)为平面等线距光栅的中心。
4.根据权利要求1所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，还包括设置于所述反射光学元件真空单元(4)内的运动单元，所述反射光学元件(2)设置于运动单元上，运动单元用于调节反射光学元件(2)的空间位置，使色散光出射方向保持相同。
5.根据权利要求4所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述运动单元包括平移机构(5)和旋转机构(6)，其中平移机构(5)具有沿反射方向移动的自由度；旋转机构(6)设置于平移机构(5)上，所述反射光学元件(2)设置于旋转机构(6)上，旋转机构(6)具有沿周向旋转的自由度。
6.根据权利要
7.根据权利要求1所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述色散光学元件真空单元(3)和所述反射光学元件真空单元(4)均通过分子泵组抽真空。
8.一种提升自由电子激光光束线利用率的方法，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，所述方法包括以下步骤：
9.根据权利要求8所述的提升自由电子激光光束线利用率的方法，其特征在于，所述反射光学元件(2)的空间位置使色散光出射方向保持相同。
10.根据权利要求8所述的提升自由电子激光光束线利用率的方法，其特征在于，所述运动单元包括平移机构(5)及设置于平移机构(5)上的旋转机构(6)，通过平移机构(5)调节反射光学元件(2)沿反射方向的位置；通过旋转机构(6)调节反射光学元件(2)的转动角度。
...【技术特征摘要】
1.一种提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述色散光学元件(1)具有分光点(a)，所述入射光路(ⅰ)入射至分光点(a)上。
3.根据权利要求2所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述色散光学元件(1)为平面等线距光栅，其中心刻线，四周为反射镜，所述分光点(a)为平面等线距光栅的中心。
4.根据权利要求1所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，还包括设置于所述反射光学元件真空单元(4)内的运动单元，所述反射光学元件(2)设置于运动单元上，运动单元用于调节反射光学元件(2)的空间位置，使色散光出射方向保持相同。
5.根据权利要求4所述的提升自由电子激光光束线利用率装置，其特征在于，所述运动单元包括平移机构(5)和旋转机构(6)，其中平移机构(5)具有沿反射方向移动的自由度；旋转机构(6)设置于平移机构(5)上，所述反射光学元件(2)设置于旋转机构(6)上，旋转机构(6)具有沿...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙宝凝，李钦明，黄龙，杨家岳，张未卿，
申请(专利权)人：中国科学院大连化学物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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