【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于超声波结构健康监测，尤其涉及一种复合全聚焦成像方法、系统、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、当前,在结构健康监测领域，随着工业现场复杂性的提高，现有超声波结构健康监测设备往往结构复杂且功能单一，难以应对复杂的应用环境，且针对微小缺陷很难及时发现。为提高超声波结构监测的灵敏性和监测能力，及时准确的发现结构中的微小缺陷，急需开发一种监测能力强的成像方法，以及能够实现该成像方法的小型智能化超声波结构健康无线监测无线设备。
2、以上技术问题亟待解决。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术提出一种复合全聚焦成像方法、系统、电子设备及存储介质，以解决上述技术问题。
2、本专利技术第一方面公开了一种复合全聚焦成像方法，所述方法包括：
3、步骤s1、采集被测试件的全矩阵数据，根据超声传播路径与模态计算不同模式的超声波全聚焦成像结果；
4、步骤s2、根据超声波传播参数与散射系数，计算不同模式的缺陷响应空间分布图；
5、步骤s3、通过计算所述缺陷响应空间分布图相对于成像质心处的方向导数，获得不同模式超声成像的空间补偿参数；
6、步骤s4、将所述缺陷响应空间分布图拟合到平面，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果按照其对应的所述空间补偿参数加权与重新缩放得到成像数据，对所述成像数据求和得复合全聚焦成像结果。
7、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s1中，根据所述全矩阵数据计算所述被测试件的
8、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s2中，根据所述被测试件的尺寸、材料属性以及超声波传播的指向性、透射反射、扩散衰减和材料衰减，计算得到所述超声波传播参数。
9、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s2中，所述超声波传播参数为激励传播过程参数与接收传播过程参数。
10、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s2中，所述散射系数为无限大平面波入射直径为0.001mm圆形孔的不同模态波入射和散射的组合。
11、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s3中，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果通过质心处幅值相互关联。
12、根据本专利技术第一方面的方法，在所述步骤s4中，将不同模式的所述空间补偿参数与其对应模式的超声波全聚焦成像结果相乘，使所述缺陷响应空间分布图在对数尺度上拟合到平面。
13、本专利技术第二方面公开了一种复合全聚焦成像系统，所述系统包括：
14、第一处理模块，被配置为，采集被测试件的全矩阵数据，根据超声传播路径与模态计算不同模式的超声波全聚焦成像结果；
15、第二处理模块，被配置为，根据超声波传播参数与散射系数，计算不同模式的缺陷响应空间分布图；
16、第三处理模块，被配置为，通过计算所述缺陷响应空间分布图相对于成像质心处的方向导数，获得不同模式超声成像的空间补偿参数；
17、第四处理模块，被配置为，将所述缺陷响应空间分布图拟合到平面，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果按照其对应的所述空间补偿参数加权与重新缩放得到成像数据，对所述成像数据求和得复合全聚焦成像结果。
18、本专利技术第三方面公开了一种电子设备。电子设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现本公开第一方面中任一项的一种复合全聚焦成像方法中的步骤。
19、本专利技术第四方面公开了一种计算机可读存储介质。计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现本公开第一方面中任一项的一种复合全聚焦成像方法中的步骤。
20、综上，本专利技术提出的方案能够：
21、与传统的全聚焦成像方法相比，本专利技术提出的复合全聚焦成像方法，有效改善了单一模式成像监测不准确的问题，利用本专利技术提出的方案能大大提高监测的精准度和灵敏性，及时准确发现监测结构中的微小缺陷。
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1.一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S1中，根据所述全矩阵数据计算所述被测试件的内横、纵波波速及其衰减系数。
3.根据权利要求2所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S2中，根据所述被测试件的尺寸、材料属性以及超声波传播的指向性、透射反射、扩散衰减和材料衰减，计算得到所述超声波传播参数。
4.根据权利要求3所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S2中，所述超声波传播参数为激励传播过程参数与接收传播过程参数。
5.根据权利要求4所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S2中，所述散射系数为无限大平面波入射直径为0.001mm圆形孔的不同模态波入射和散射的组合。
6.根据权利要求5所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S3中，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果通过质心处幅值相互关联。
7.根据权利要求6所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤S4中，将不同模
8.一种用于复合全聚焦成像系统，其特征在于，所述系统包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1至7中任一项所述的一种复合全聚焦成像方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至7中任一项所述的一种复合全聚焦成像方法中的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤s1中，根据所述全矩阵数据计算所述被测试件的内横、纵波波速及其衰减系数。
3.根据权利要求2所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤s2中，根据所述被测试件的尺寸、材料属性以及超声波传播的指向性、透射反射、扩散衰减和材料衰减，计算得到所述超声波传播参数。
4.根据权利要求3所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤s2中，所述超声波传播参数为激励传播过程参数与接收传播过程参数。
5.根据权利要求4所述的一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，在所述步骤s2中，所述散射系数为无限大平面波入射直径为0.001mm圆形孔的不同模态波入射和散射的组合。
6.根据权利要求5所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：金奕光，蔡栋生，冯耀国，张洋，邢智翔，杜微，
申请(专利权)人：北京航天测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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