【技术实现步骤摘要】
本专利技术总体上涉及具有允许获得关于电路组件的信息的自测试能力的电路和方法领域。
技术介绍
1、集成电路(诸如例如，传感器集成电路)通常需要解耦电容器来将集成电路(ic)与系统的其他部分进行解耦。以这种方式，ic可以与源自其他电路元件的噪声和功率异常隔离。因此，输入供应电压的低频改变(例如，微中断)以及来自各种源的高频噪声(例如，由于电磁干扰(emi)而引起的扰动)可以被处理。
2、有时，外部电容器用于对内部经调节的电压(诸如用于ic的内部模拟电路系统的经调节的电压、或用于内部数字电路系统的经调节的电压、或用于上述两者的经调节的电压)进行解耦。一个或多个外部解耦电容器也可以在集成电路的输出处使用，以用于对电路的输出端子(例如，传感器输出)进行解耦。经常使用外部离散电容器，因为所需的电容值通常太高而无法被集成在集成电路本身中。
3、一般而言，解耦电容器使得由调节器提供的内部供应电压或输出电压对电磁扰动和/或来自主电源的电压降更稳健。
4、在us2022/129025a1中，一种用于确定与连接到电压调节器的输出的解耦电容器的连接有关的信息以便减少调节器输出处的输出信号波动的设备。该设备包括处理单元，该处理单元计算波动的测量信号的方差，并且由此计算调节器输出处的输出信号的方差。基于该方差来确定解耦电容器是否缺失。
5、在某些情况下，缺失的外部解耦电容器和/或至外部解耦电容器的缺失的连接可能会导致集成电路的故障操作或包括集成电路的系统的故障操作。因此，存在对提供具有自测试能力的集成电路的需
技术实现思路
1、本专利技术的实施例的目的在于提供一种错误检测电路，该错误检测电路允许监测外部组件和/或外部组件到错误检测电路是其一部分的电路的连接。本专利技术还涉及一种电路，该电路优选地是集成电路，该集成电路包括错误检测电路。在进一步的方面中，本专利技术涉及一种系统，该系统包括电路和连接到该电路的外部组件。本专利技术进一步涉及用于检测连接到集成电路的解耦电容器的错误的方法。
2、以上目的由根据本专利技术的解决方案来实现。
3、在第一方面中，本专利技术涉及一种用于检测电气组件的连接中的错误的错误检测电路。错误检测电路包括
4、控制电路；
5、端子，该端子被布置成用于连接电气组件；
6、驱动装置，该驱动装置被耦合至端子并且被布置成用于由控制电路控制；
7、其中，驱动装置被布置成用于在从控制电路接收到控制信号时驱动电流，并且其中，控制电路进一步被布置成用于响应于该电流而经由端子接收测量信号，以基于测量信号的特性来确定可能的错误，并且基于确定来传递错误信号。
8、由于端子的可用性，所提出的解决方案确实允许连接外部电气组件，并且因此允许获得与外部组件及其连接有关的测量信号。当驱动装置从控制电路接收到控制信号时，驱动电流被启动，并且响应于该电流，控制电路接收测量信号。该测量信号的特性接下来用于检查是否已经发生错误。在优选的实施例中，该确定可以通过与某个阈值的比较来执行。基于该确定(例如，比较)，外部组件是否适当地工作和/或适当地连接的决策可以被采取，并且指示错误或无错误的相对应的错误信号可以被传递。
9、在优选的实施例中，错误检测电路包括开关，该开关被配置成用于在控制电路的控制下控制输入电压信号。在一些实施例中，开关使传入信号通过或阻塞传入信号。在其他实施例中，开关使传入信号适配于较低的幅度，由此仅存在输入信号的部分通过或阻塞。
10、在一些实施例中，驱动装置是晶体管、电流源或开关。替代地，驱动装置可以是dc/dc转换器或一些负载(例如，电阻器、电容器、电感器或其组合)。
11、在一些实施例中，用于比较的测量信号的特性可以是电压信号或电流信号的幅度、或者电压的斜率或电流的斜率、或者电流的积分、或者电压信号的积分。
12、在一些实施例中，错误检测电路包括至少一个其他端子，该至少一个其他端子适于输出其他信号。
13、在优选的实施例中，测量信号是瞬态信号。这提供了允许快速检查连接的状态的优点。
14、在另一方面中，本专利技术涉及一种集成电路，该集成电路包括如先前所描述的错误检测电路。
15、在优选的实施例中，错误检测电路的输入电压是来自集成电路中的电压调节器的经调节的电压。
16、在一个实施例中，错误检测电路中接收到的输入电压低于集成电路的供电电压。
17、在一个实施例中，驱动装置被连接到集成电路的接地点。在另一实施例中，驱动装置被连接到与集成电路的接地点不同的电压。
18、有利地，集成电路包括传感器和输出端子，该输出端子用于由传感器生成的传感器信号。
19、在一些实施例中，驱动电流是瞬态信号(即，电流的瞬时变化)。在一些情况下，驱动电流可以是电流脉冲。在其他实施例中，(例如，当外部解耦电容器以恒定电流放电时)驱动电流可以是恒定信号。
20、在另一方面中，本专利技术涉及一种系统，该系统包括如先前所描述的集成电路，其中，解耦电容器被连接到错误检测电路的端子。
21、有利地，控制电路被布置成用于将解耦电容器上的电压、放电电流或放电时间常数与预定义阈值进行比较。
22、在又另一方面中，本专利技术涉及一种用于检测连接到集成电路的解耦电容器的错误的方法，该方法包括：
23、提供如先前所描述的集成电路；
24、经由集成电路的错误检测电路的控制电路和驱动装置来发起对解耦电容器的放电或充电；
25、测量由所述放电或充电产生的信号；
26、基于测量信号的特性来确定是否存在错误；
27、基于所述确定来传递错误信号。
28、在一个实施例中，比较在驱动装置的激活之后的预定时间被执行。
29、出于对本专利技术以及相对现有技术所实现的优势加以总结的目的，上文已描述了本专利技术的某些目的和优势。当然，应理解，不一定所有此类目的或优势都可根据本专利技术的任意特定实施例而实现。由此，例如，本领域技术人员将认识到本专利技术可按实现或优化本文中所教导的一个优势或一组优势的方式来具体化或执行，而不一定要实现本文中可能教导或建议的其他目的或优势。
30、参考本文以下描述的(一个或多个)实施例，本专利技术的上述和其他方面将是显而易见的和可阐明的。
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1.一种集成电路，所述集成电路包括
2.如权利要求1所述的集成电路，包括开关，所述开关被配置成用于在所述控制电路的监督下控制所述输入的经调节的电压信号。
3.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置是晶体管、电流源、开关、负载或DC/DC转换器。
4.如权利要求1所述的集成电路，包括至少一个其他端子，所述至少一个其他端子适于输出其他信号。
5.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置被布置成用于产生一个或多个电流脉冲。
6.如权利要求1所述的集成电路，包括内部解耦电容器，所述内部解耦电容器连接到所述端子。
7.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置被连接到所述集成电路的接地点。
8.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置同与所述集成电路的所述接地点不同的电压连接。
9.如权利要求1所述的集成电路，包括传感器和输出端子，所述输出端子用于由所述传感器生成的传感器信号。
10.一种系统，所述系统包括如权利要求1所述的集成电路、以及连接到所述错误检测电路
11.如权利要求10所述的系统，其中，所述内部解耦电容器具有比所述外部解耦电容器的电容低的电容。
12.如权利要求10所述的系统，其中，所述控制电路被布置成用于将所述解耦电容器上的电压、放电电流或放电时间常数与预定义阈值进行比较。
13.一种用于检测连接到集成电路的解耦电容器的错误的方法，所述方法包括：
14.如权利要求13所述的用于检测错误的方法，其中，所述确定在激活所述驱动装置之后的预定时间被执行。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路，所述集成电路包括
2.如权利要求1所述的集成电路，包括开关，所述开关被配置成用于在所述控制电路的监督下控制所述输入的经调节的电压信号。
3.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置是晶体管、电流源、开关、负载或dc/dc转换器。
4.如权利要求1所述的集成电路，包括至少一个其他端子，所述至少一个其他端子适于输出其他信号。
5.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置被布置成用于产生一个或多个电流脉冲。
6.如权利要求1所述的集成电路，包括内部解耦电容器，所述内部解耦电容器连接到所述端子。
7.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置被连接到所述集成电路的接地点。
8.如权利要求1所述的集成电路，其中，所述驱动装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：L·通贝兹，S·勒罗伊，
申请(专利权)人：迈来芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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