测试装置制造方法及图纸

技术编号:41082368 阅读:6 留言:0更新日期:2024-04-25 10:36
本申请提供一种测试装置,涉及测试技术领域。其中测试装置,用于对第一电子设备进行测试,包括:第一处理单元,所述第一处理单元与所述第一电子设备连接,接收所述第一电子设备发送的第一信号,并输出对所述第一信号进行测试得到的第一测试结果信号;第二处理单元,所述第二处理单元分别与所述第一处理单元和接收装置连接,接收并检测所述第一测试结果信号,并输出检测后的所述第一测试结果信号至所述接收装置,所述接收装置包括显示设备和/或所述第二电子设备。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及信号测试,尤其涉及一种测试装置


技术介绍

1、目前,在对插接产品进行测试时,一般插入电子设备中的usb c接口进行插接产品的测试。

2、现有技术中,在插接产品进行测试时,需要先进行通过第一状态进行该状态下的测试,再拔出,通过第二状态进行此状态下的测试,从而测试时间较长,测试人员需要重复操作,测试效率低。

3、因此,如何提供一种能够提高测试效率的测试装置成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种测试装置。

2、为解决上述技术问题,本申请实施例提供如下技术方案:

3、本申请第一方面提供一种测试装置,包括:

4、第一处理单元,所述第一处理单元与所述第一电子设备连接,接收所述第一电子设备发送的第一信号,并输出对所述第一信号进行测试得到的第一测试结果信号;

5、第二处理单元,所述第二处理单元分别与所述第一处理单元和接收装置连接,接收并检测所述第一测试结果信号,并输出检测后的所述第一测试结果信号至接收装置,所述接收装置包括显示设备或者所述第二电子设备。

6、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,还包括第三处理单元,

7、所述第三处理单元与电信号输出装置连接,能够接收所述电信号输出装置输入的第一输入电信号,并基于所述第一输入电信号输出第一额定电信号;

8、所述第三处理单元与所述第一电子设备连接,能够接收所述第一电子设备输入的第二输入电信号;

>9、所述第三处理单元与所述第二电子设备连接,在所述第二输入电信号与所述第一额定电信号满足相等条件的情况下,将所述第二输入电信号输出所述第二电子设备,以向所述第二电子设备供电。

10、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,所述第三处理单元与所述第二处理单元连接,所述第三处理单元将所述第二输入电信号和所述第一额定电信号发送至所述第二处理单元,所述第二处理单元将所述第二输入电信号与所述第一额定电信号是否满足相等条件的第二测试结果信号发送至所述接收装置。

11、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,所述第一处理单元包括:

12、第一测试组件,所述第一测试组件分别与所述第一电子设备和所述第二处理单元连接,接收所述第一电子设备发送的侦测信号,以根据所述侦测信号确定侦测结果信号,并将所述侦测结果信号发送至所述第二处理单元,所述侦测结果信号表征所述第一电子设备发送的是第一面信号或第二面信号;

13、其中,所述第一信号包括所述侦测信号。

14、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,所述第一处理单元还包括:

15、第二测试组件,所述第二测试组件分别与所述第一电子设备和所述第二处理单元连接,接收所述第一电子设备发送的数据信号,以对所述数据信号进行测试,并得到数据第一测试结果信号,并将所述数据第一测试结果信号发送至所述第二处理单元;

16、其中,所述第一信号包括所述数据信号。

17、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,还包括:电流传感器,所述电流传感器一端连接所述第一电子设备,另一端连接所述第三处理单元,用于感测所述第一电子设备向所述第三处理单元传输第二输入电信号状态时的电流值信号。

18、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,所述电流传感器与所述第二处理单元连接,所述第二处理单元接收并检测所述电流值信号,并将检测后的所述电流值信号输出至所述接收装置。

19、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,还包括:集线器,所述集线器与所述第二处理单元,接收并将所述第二处理单元检测后的电流值信号、第二输入电信号、侦测结果信号和数据第一测试结果信号发送至所述第二电子设备。

20、在本申请第一方面的一些变更实施方式中,还包括:电源设备,所述电源设备用于与所述第一处理单元、第二处理单元、第三处理单元、电流传感器、显示设备以及集线器分别连接,用于为所述第一处理单元、第二处理单元、第三处理单元、电流传感器、显示设备以及集线器供电。

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【技术保护点】

1.一种测试装置,用于对第一电子设备进行测试,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,还包括第三处理单元,

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述第一处理单元包括:

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述第一处理单元还包括:

6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,还包括:

7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,

9.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,还包括:

10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,还包括:

【技术特征摘要】

1.一种测试装置,用于对第一电子设备进行测试,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,还包括第三处理单元,

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述第一处理单元包括:

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵庆雷
申请(专利权)人:联想北京有限公司
类型:新型
国别省市:

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