一种超高温熔点测试热分析仪器制造技术

技术编号:41063502 阅读:46 留言:0更新日期:2024-04-24 11:16
本发明专利技术具体涉及一种超高温熔点测试热分析仪器,包括真空腔体(1),所述真空腔体(1)的内部设置有样品支架(2),所述样品支架(2)上设置有样品坩埚(3),所述样品坩埚(3)的内部设置有实验样品(4),所述实验样品(4)正上方的真空腔体(1)顶部设置有石英玻璃透镜(5),所述石英玻璃透镜(5)的正上方设置有激光发射光源(6),所述实验样品(4)正左方的真空腔体(1)侧面设置有石英玻璃窗口(7),所述石英玻璃窗口(7)的正左方设置集成高分辨CCD成像系统的双色红外测温仪(8)。本发明专利技术的超高温熔点测试热分析仪器,实现3000℃以上超高温熔点测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及热分析仪器,特别是涉及一种超高温熔点测试热分析仪器


技术介绍

1、热分析是研究温度或热与其它物理化学性质的相互关系的分析方法,按照所测定的物理量,可以测量诸如质量、尺寸以及各种力、热、声、光、电、磁等物理性质与热或者温度的关系。

2、传统的热分析仪器通过电阻丝、石墨、光辐射炉、硅碳管等方式进行加热时加热速度较慢,且加热温度低,在氧化环境中,温度最高只能在1600℃左右;测温分为接触式测温和非接触式测温,接触式测温目前钨铼热电偶最高能测量至2400℃,而非接触式测温容易受材料反射率影响,无法满足3000℃以上超高温熔点测试需求。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对现有热分析仪器加热速度慢、加热温度低、测量温度低的问题,提供一种超高温熔点测试热分析仪器,实现3000℃以上超高温熔点测试。

2、为了实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:

3、一种超高温熔点测试热分析仪器,包括真空腔体,所述真空腔体的内部设置有样品支架,所述样品支架上设置有样品坩埚,所述样品坩本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种超高温熔点测试热分析仪器,其特征在于,包括真空腔体(1),所述真空腔体(1)的内部设置有样品支架(2),所述样品支架(2)上设置有样品坩埚(3),所述样品坩埚(3)的内部设置有实验样品(4),所述实验样品(4)正上方的真空腔体(1)顶部设置有石英玻璃透镜(5),所述石英玻璃透镜(5)的正上方设置有激光发射光源(6),所述实验样品(4)正左方的真空腔体(1)侧面设置有石英玻璃窗口(7),所述石英玻璃窗口(7)的正左方设置集成高分辨CCD成像系统的双色红外测温仪(8)。

2.根据权利要求1所述的超高温熔点测试热分析仪器,其特征在于,所述超高温熔点测试热分析仪器还包括PID...

【技术特征摘要】

1.一种超高温熔点测试热分析仪器,其特征在于,包括真空腔体(1),所述真空腔体(1)的内部设置有样品支架(2),所述样品支架(2)上设置有样品坩埚(3),所述样品坩埚(3)的内部设置有实验样品(4),所述实验样品(4)正上方的真空腔体(1)顶部设置有石英玻璃透镜(5),所述石英玻璃透镜(5)的正上方设置有激光发射光源(6),所述实验样品(4)正左方的真空腔体(1)侧面设置有石英玻璃窗口(7),所述石英玻璃窗口(7)的正左方设置集成高分辨ccd成像系统的双色红外测温仪(8)。

2.根据权利要求1所述的超高温熔点测试热分析仪器,其特征在于,所述超高温熔点测试热分析仪器还包括pid控制器;所述激光发射光源(6)发射一定波长、一定功率的激光;所述激光发射光源(6)发射的激光加热在实验样品(4)表面,实验样品(4)表面升温并辐射能量;所述双色红外测温仪(8)通过实时获取实验样品(4)表面辐射能量的方式实时获取实验样品(4)表面的温度信号并实时发送pid控制器;所述pid控制器实时接收双...

【专利技术属性】
技术研发人员:许娟申俊华杨志远高一鸣汤慧孟莹刘洋侯丽楠史文兰张争荣
申请(专利权)人:中核北方核燃料元件有限公司
类型:发明
国别省市:

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