当前位置: 首页 > 专利查询>深圳大学专利>正文

一种基于寻址扫描的超分辨层析成像系统技术方案

技术编号:41017350 阅读:29 留言:0更新日期:2024-04-18 22:00
本技术提供一种基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,具体涉及光学显微成像技术领域,该系统包括按照光路方向依次设置的激光器、激光预处理装置、声光偏转器、扩束透镜、电调焦透镜、荧光信号预处理装置和显微物镜,以及探测装置、图像探测器和数据采集卡,基于声光偏转器的声波频率,调整射出的脉冲激光扫描样本感兴趣区域的横向位置,以产生一系列二维点阵荧光图像;基于电调焦透镜的电信号,调整射出的脉冲激光扫描样本感兴趣区域的轴向位置,实现三维层析成像。该系统将电调焦透镜与声光偏转器寻址扫描相结合,利用二者快速响应的特性,实现对样品逐层快速进行二维寻址扫描,能够在整体上实现快速三维层析超分辨成像,且不受景深的限制。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学显微成像,尤其涉及的是一种基于寻址扫描的超分辨层析成像系统


技术介绍

1、光学显微镜能在纳米尺度上对细胞进行实时、无损、非接触性的观察,是生命科学和生物医学领域最基本和最重要的研究工具之一。由于结构光照明显微的超分辨方案由于成像速度快、且对荧光探针和激发光能量密度均无特殊要求,在活细胞超分辨成像应用中具有天然优势。在结构光照明显微超分辨成像的发展历程中,最早出现的是利用余弦条纹结构光照明样品实现超分辨成像的技术, 称为 sim (structuredilluminationmicroscopy),它相比普通宽场成像能够实现两倍的分辨率提升。但这种照明机制下的激发光能量密度较低,无法穿透样品表面, 因此成像深度差,无法对较厚的样品进行三维成像。

2、随后出现的图像扫描显微技术(image scanning microscopy,ism)结合了传统共聚焦显微技术,在保持了sim分辨率提升效果的同时提高了层析能力,能够获得更大的成像深度,但ism单点扫描的方式严重制约了成像速度。 在此基础上, 又出现了多焦点结构光照明显微成像技术(m本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,包括:按照光路方向依次设置的激光器、激光预处理装置、声光偏转器、扩束透镜、电调焦透镜、荧光信号预处理装置和显微物镜,以及探测装置、图像探测器和数据采集卡,其中,

2.根据权利要求1所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述探测装置设置于所述电调焦透镜和所述图像探测器之间,以使所述荧光信号预处理装置与所述探测装置之间的距离和所述荧光信号在所述图像探测器上呈现的预设的光斑大小相匹配。

3.根据权利要求1所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述荧光信号预处理装置包括:扫描透镜和管镜,其中...

【技术特征摘要】

1.一种基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,包括:按照光路方向依次设置的激光器、激光预处理装置、声光偏转器、扩束透镜、电调焦透镜、荧光信号预处理装置和显微物镜,以及探测装置、图像探测器和数据采集卡,其中,

2.根据权利要求1所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述探测装置设置于所述电调焦透镜和所述图像探测器之间,以使所述荧光信号预处理装置与所述探测装置之间的距离和所述荧光信号在所述图像探测器上呈现的预设的光斑大小相匹配。

3.根据权利要求1所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述荧光信号预处理装置包括:扫描透镜和管镜,其中,

4.根据权利要求3所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述探测装置由二向色镜和成像透镜组成,其中,

5.根据权利要求4所述的基于寻址扫描的超分辨层析成像系统,其特征在于,所述扫描透镜和所述成像透镜共焦,且所述扫描透镜与所述成像透镜的焦距之比和射入所述图像探测器的预设的光斑大小相匹配。

6.根据权利要求1所述的基于...

【专利技术属性】
技术研发人员:林丹樱陈铎董祖福于斌屈军乐
申请(专利权)人:深圳大学
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1