【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及二维材料电阻测量领域,具体涉及一种二维样品多通道锁相测量设备。
技术介绍
1、在二维材料实验研究领域,锁相测量是最常见的一种样品电阻测量方法。在电阻测量过程中,先在样品上加载一个周期电流信号,然后通过锁相放大器设备对样品输出端子的输出信号进行测量,再对测量到的输出信号进行计算,从而获得样品的电阻。
2、样品的输出端子通常设置有多个,例如8个。但是目前市面上的锁相放大器设备只有一对测量端子,因此,一台锁相放大器设备只能测量一对输出端子。这就导致测量一个样品需要用到多台锁相放大器设备,有的样品所需的设备数量可以达到7台。然而市面上的锁相放大器都具有锁相测量外的其他功能,如信号调制等,而这些功能在二维材料的电阻测量实验中几乎用不上,从而造成了功能性浪费,极大地增加了测量成本。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题,本专利技术提供如下技术方案:
2、一种二维样品多通道锁相测量设备,包括:
3、数模转换模块,用于提供周期性信号;
4、多
...【技术保护点】
1.一种二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,所述数模转换模块(1)包括两个输出端,两个所述输出端电连接待测二维样品(4),用于为待测二维样品(4)提供一正一反两个正弦信号。
3.根据权利要求2所述的二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,所述多通道差分放大模块(2)还包括接地差分放大器(5),所述接地差分放大器(5)的正输入端电连接所述待测二维样品(4)的测量端,所述接地差分放大器(5)的负输入端接地,所述接地差分放大器(5)的输出端电连接所述模数转换模块(3)的输入端
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【技术特征摘要】
1.一种二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,所述数模转换模块(1)包括两个输出端,两个所述输出端电连接待测二维样品(4),用于为待测二维样品(4)提供一正一反两个正弦信号。
3.根据权利要求2所述的二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,所述多通道差分放大模块(2)还包括接地差分放大器(5),所述接地差分放大器(5)的正输入端电连接所述待测二维样品(4)的测量端,所述接地差分放大器(5)的负输入端接地,所述接地差分放大器(5)的输出端电连接所述模数转换模块(3)的输入端。
4.根据权利要求2所述的二维样品多通道锁相测量设备,其特征在于,所述正弦信号为...
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