【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及系统测试，具体涉及一种嵌入式系统半物理仿真测试方法及装置。
技术介绍
1、为了对嵌入式系统进行全面的测试，通常需要构建半物理仿真测试环境，以模拟实际运行情况。然而，现有的半物理仿真测试方法往往需要手动编写测试脚本，这不仅增加了测试的复杂度和工作量，也可能因为人为因素导致测试不全面或者出现错误。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的缺陷，本专利技术实施例提供一种嵌入式系统半物理仿真测试方法及装置。
2、本专利技术实施例提供一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，包括：提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系；根据所述控制逻辑和控制参数之间的耦合关系生成测试脚本；将所述测试脚本部署至实时仿真系统；将所述实时仿真系统与所述嵌入式系统进行集成；通过运行所述测试脚本，对所述嵌入式系统进行遍历测试。
3、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述方法还包括：通过对所述嵌入式系统的所述控制逻辑进行建模得到模型文件，基于所述模型文件生成所述嵌入式系统的所述控制逻辑的控制代码。
4、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：通过对所述模型文件进行分析，提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系。
5、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述通过对所述嵌入式系统的所述控制逻辑进行建模得到模型文件，包括：采
6、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述通过对所述模型文件进行分析，提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：根据所述模型文件获取控制单元的控制逻辑、数据传输路径及预设系统关键参数的设置信息；其中，所述数据传输路径包括输入端可变参数至输出端可变参数的传输路径；根据所述控制单元的控制逻辑、所述数据传输路径及所述预设系统关键参数的设置信息获取所述嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系；其中，所述控制参数包括所述输入端可变参数、所述输出端可变参数及所述预设系统关键参数中的可变参数。
7、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述根据所述模型文件获取控制单元的控制逻辑、数据传输路径及预设系统关键参数的设置信息，包括：提取所述模型文件的输入接口组件和输出接口组件，根据所述输入接口组件获取所述输入端可变参数，根据所述输出接口组件获取所述输出端可变参数；提取所述模型文件的参数设置组件，根据所述参数设置组件获取所述预设系统关键参数的设置信息；提取所述模型文件的控制算法组件，根据所述控制算法组件获取所述控制单元的控制逻辑；提取所述输入接口组件、所述输出接口组件、所述参数设置组件及所述控制算法组件的组件拓扑关系；根据所述组件拓扑关系获取所述数据传输路径。
8、根据本专利技术实施例提供的一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，所述根据所述控制逻辑和控制参数之间的耦合关系生成测试脚本，包括：根据所述输入端可变参数的取值范围设置所述输入端可变参数的测试数据取值，并根据所述控制逻辑得到所述输出端可变参数的目标真值；基于所述输入端可变参数的所述测试数据取值及所述输出端可变参数的所述目标真值生成测试脚本。
9、本专利技术实施例还提供一种嵌入式系统半物理仿真测试装置，包括：提取模块，用于：提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系；生成模块，用于：根据所述控制逻辑和控制参数之间的耦合关系自动生成测试脚本；部署模块，用于：将所述测试脚本部署至实时仿真系统；集成模块，用于：将所述实时仿真系统与所述嵌入式系统进行集成；测试模块，用于：通过运行所述测试脚本，对所述嵌入式系统进行遍历测试。
10、本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述嵌入式系统半物理仿真测试方法的步骤。
11、本专利技术实施例还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述嵌入式系统半物理仿真测试方法的步骤。
12、本专利技术实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述嵌入式系统半物理仿真测试方法的步骤。
13、本专利技术实施例提供的嵌入式系统半物理仿真测试方法及装置，通过提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，根据控制逻辑和控制参数之间的耦合关系生成测试脚本，将测试脚本部署至实时仿真系统，将实时仿真系统与嵌入式系统进行集成，通过运行测试脚本，对嵌入式系统进行遍历测试，减少了手动编写测试脚本的工作量，降低了测试的复杂度，提高了测试的全面性和准确性，可以大大缩短嵌入式系统的开发周期，提高开发效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：
4.根据权利要求2所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述通过对所述嵌入式系统的所述控制逻辑进行建模得到模型文件，包括：
5.根据权利要求3所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述通过对所述模型文件进行分析，提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：
6.根据权利要求5所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述模型文件获取控制单元的控制逻辑、数据传输路径及预设系统关键参数的设置信息，包括：
7.根据权利要求6所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述控制逻辑和控制参数之间的耦合关系生成测试脚本，包括：
8.一种嵌入式系统半物理仿真测试装置，其特征在于，包括：<...
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：
4.根据权利要求2所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述通过对所述嵌入式系统的所述控制逻辑进行建模得到模型文件，包括：
5.根据权利要求3所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述通过对所述模型文件进行分析，提取嵌入式系统的控制逻辑和控制参数之间的耦合关系，包括：
6.根据权利要求5所述的嵌入式系统半物理仿真测试方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖晓，朱斌，高可殊，金留欢，刘杰，孙忠潇，杨浩，
申请(专利权)人：苏州同元软控信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。