【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及宇航类星空探测，具体涉及一种光电敏感器遮光罩。
技术介绍
1、光电敏感器主要针对微弱目标进行成像探测和识别，在轨工作中不可避免受到太阳光、地气光等杂散光源的辐射影响，杂散光在经多次散射和折射后入射到探测器像面。而由于杂散光的影响，会使得光电敏感器的信噪比降低，影响对目标的探测和识别能力，情况严重时，探测目标会完全湮没在杂散光背景中，导致无法提取目标。另外遮光罩设计不合理时，杂散光可能导致像面灰度分布不均匀，相邻像素间灰度坡度较大，导致后端算法误识别成虚假信号，致使系统探测到伪目标，严重影响光电敏感器的探测精度，甚至可能导致整个系统失效。
2、可见，现有的遮光罩不能保证探测器任何位置都能探测识别出弱目标，因此，亟需设计一种新型的遮光罩，对太阳光辐射源进行有效抑制，满足光电敏感器空间布局，保证探测器任何位置都能探测识别出弱目标。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提出一种光电敏感器遮光罩，在光电敏感器受太阳光以39度入射角进行辐射时，光电敏感器通过高消光比遮光罩对太阳光辐射源进行有效抑制，实现整个探测器像面均能探测识别弱目标。
2、为了实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案实现：
3、一种光电敏感器遮光罩，包括：罩体；六片挡光环，均为方圆形的平面形状，在所述罩体内从入口处向出口处顺序排列，分别为第一挡光环、第二挡光环、第三挡光环、第四挡光环、第五挡光环和第六挡光环；所述入口为遮光罩受杂散光源辐射的一侧，所述出口为遮光罩远离杂散光源辐
4、可选地，所述的光电敏感器遮光罩，包括五段方圆形子罩体，五段子罩体的尺寸沿所述罩体的入口到出口呈阶梯式减小。
5、可选地，所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环、所述第五挡光环和所述第六挡光环间隔的设置在所述罩体内壁上。
6、可选地，所述罩体内壁、所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环、所述第五挡光环和所述第六挡光环的表面均涂覆高消光率消光涂层。
7、可选地，所述消光涂层的消光率大于99％。
8、可选地，所述光电敏感器遮光罩在方边剖面上的半视场角为22.5°。
9、可选地，所述光电敏感器遮光罩在圆边剖面上的半视场角为30°。
10、可选地，所述光电敏感器遮光罩的太阳光抑制角≥39°。
11、与现有技术相比，本专利技术具有至少以下技术效果之一：
12、1、本专利技术可在满足同样杂散光抑制效果的前提下，缩小遮光罩尺寸，满足光电敏感器空间布局，保证整个探测器像面均能探测到弱目标。
13、2、本专利技术在满足光电敏感器对于不同方向的杂散光抑制要求下，可适应性修改方边剖面和圆边剖面的半视场角。
14、3、对于长方形探测器来说，本专利技术的方圆形遮光罩具备更好的适应性，不必使用外接圆遮光罩满足长方形探测器的杂散光抑制性能。
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1.一种光电敏感器遮光罩，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，包括五段方圆形子罩体，五段子罩体的尺寸沿所述罩体的入口到出口呈阶梯式减小。
3.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环、所述第五挡光环和所述第六挡光环间隔的设置在所述罩体内壁上。
4.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述罩体内壁、所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环、所述第五挡光环和所述第六挡光环的表面均涂覆高消光率消光涂层。
5.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述消光涂层的消光率大于99％。
6.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述光电敏感器遮光罩在方边剖面上的半视场角为22.5°。
7.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述光电敏感器遮光罩在圆边剖面上的半视场角为30°。
8.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，
...【技术特征摘要】
1.一种光电敏感器遮光罩，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，包括五段方圆形子罩体，五段子罩体的尺寸沿所述罩体的入口到出口呈阶梯式减小。
3.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环、所述第五挡光环和所述第六挡光环间隔的设置在所述罩体内壁上。
4.根据权利要求1所述的光电敏感器遮光罩，其特征在于，所述罩体内壁、所述第一挡光环、所述第二挡光环、所述第三挡光环、所述第四挡光环...
【专利技术属性】
技术研发人员：高文杰，毛晓楠，宋卿争，胡雄超，关涛，
申请(专利权)人：上海航天控制技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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