一种滞留量测量装置制造方法及图纸

技术编号:40990901 阅读:24 留言:0更新日期:2024-04-18 21:33
本发明专利技术涉及一种滞留量测量装置,包括:探测组件、升降组件、角度调节组件及移动组件,所述升降组件设置于所述移动组件上,可跟随所述移动组件一同移动,所述角度调节组件的两端分别连接所述探测组件及所述升降组件远离所述移动组件的一端,以通过所述升降组件及所述角度调节组件调节所述探测组件的高度及探测角度,所述移动组件上设置有信号采集和数据处理模块,所述信号采集和数据处理模块分别与所述探测组件、所述升降组件及所述角度调节组件通信连接。采用本发明专利技术所述的滞留量测量装置可实现复杂环境中滞留量的精确测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于滞留量测量,具体涉及一种滞留量测量装置


技术介绍

1、国际上滞留量测量通常可分为无源γ能谱技术和中子计数法两类。γ能谱测量方法是核材料的常用测量方法,目前国际上进行核材料管道滞留量测量时,绝大多数采用γ能谱测量方法。通过采用小巧轻便的γ射线探测器和适当的屏蔽,实现对复杂管道系统和复杂环境滞留量沉积重点区域的定量测量。目前,在国际上γ能谱测量方法有三种模型:广义几何模型(generalized geometry holdup,ggh)、无源效率刻度模型(insitu objectcounting system,isocs、rocky)设施专用模型(rocky flats plant holdup,rfp),其中ggh测量系统和isocs测量系统已被用到滞留量实际测量过程当中,通过合理布置测量仪器或设备,能够取得较好的测量不确定度。

2、大多数核材料发生衰变时会发射特征γ射线,这些γ射线具有确定的能量,采用适当的γ射线探测器可以测量得到核材料的γ射线能谱图。根据获取到的γ能谱中某能量射线全能峰的净计数、该核素发射该γ射线的分支比、探本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种滞留量测量装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

5.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

6.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

7.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

8.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

9.如权利要求7所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

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【技术特征摘要】

1.一种滞留量测量装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

5.如权利要求1所述的一种滞留量测量装置,其特征在于:

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【专利技术属性】
技术研发人员:柏磊董贺伟苗强赵浩程
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

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