一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪及测量方法技术

本发明专利技术涉及一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪，包括射线源定位器、柱面排布平晶阵列衍射结构、信号收集系统定位器、辐射‑光转换系统、环形光收集及传输系统、光电探测器阵列、信号接收及处理系统、触发系统、分光棱镜、大面积成像探测器。还涉及衍射谱仪测量方法，包括X射线衍射聚焦、辐射‑光转换、可见光分光调制，将光收集及传输、可见光成像以及数据采集与存储的过程。本发明专利技术衍射谱仪通过将平晶进行柱面排布，提高了弱脉冲信号的测量能力；采用垂直轴线的辐射‑光转换系统，提高了衍射谱仪的集成度；采用分光棱镜分光，实现了衍射X射线强度空间分布、时间行为的同时测量；采用环形光收集及传输系统，进一步提升衍射谱仪探测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于能谱测量，具体是一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪及测量方法。

技术介绍

1、脉冲x射线源是一种结构成熟的x射线产生装置，基于不同的原理可以产生从ps至百ns、从几十ev至及mev的脉冲x射线。此类装置广泛应用于辐射相关的研究领域。对脉冲x射线能谱及其时间行为的测量是开展定量化研究的基础。目前，对脉冲x射线能谱及其时间行为的测量主要通过各类谱仪开展。常用的谱仪包括基于荧光发射的滤波荧光谱仪、基于滤片衰减的多通道衰减谱仪以及基于x射线衍射的衍射谱仪等几类，其中，衍射谱仪以其高能量分辨能力，可以观察更多能谱细节的优势，成为测量脉冲x射线能谱的主流。典型应用包括重庆大学的肖沙里等采用双通道椭圆弯晶谱仪实现600～6200ev能谱的覆盖，但不具备时间分辨能力(肖沙里.用于激光等离子体x射线诊断的椭圆弯晶谱仪研究[d].重庆大学，2004)；p.w.lake等应用于z装置的pet及石英椭圆弯晶谱仪，实现了50μm空间分辨以及好于1ns的时间分辨，但其时间分辨通过多个mcp微带实现，可测量的时间序列图像极为有限(不超过8个)(p.w.lake et al.re本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，包括射线源定位器(1)、柱面排布平晶阵列衍射结构(2)、信号收集系统定位器(3)、辐射-光转换系统(4)、环形光收集及传输系统(6)、光电探测器阵列(7)、信号接收及处理系统(9)、触发系统(11)；

2.根据权利要求1所述的柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，还可以包括分光棱镜(5)、大面积成像探测器(8)；

3.根据权利要求2所述的柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，所述大面积成像探测器(8)的视场直径不小于60mm。

4.根据权利要求1或2所述的柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，还可以包括辐射...

【技术特征摘要】

1.一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，包括射线源定位器(1)、柱面排布平晶阵列衍射结构(2)、信号收集系统定位器(3)、辐射-光转换系统(4)、环形光收集及传输系统(6)、光电探测器阵列(7)、信号接收及处理系统(9)、触发系统(11)；

2.根据权利要求1所述的柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，还可以包括分光棱镜(5)、大面积成像探测器(8)；

3.根据权利要求2所述的柱面排布平晶阵列衍射谱仪，其特征在于，所述大面积成像探测器(8)的视场直径不小于60m...

【专利技术属性】
技术研发人员：马戈，黑东炜，陈俊，唐波，魏福利，罗剑辉，夏惊涛，刘永棠，严睿，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：